本實(shí)用新型專(zhuān)利技術(shù)為射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路、PCB板及設(shè)備，用于調(diào)節(jié)匹配阻抗與射頻電路阻抗相匹配，包括可變電容電感模塊、控制模塊；可變電容電感模塊一端與待測(cè)試射頻電路的測(cè)試點(diǎn)耦接，另一端與外界的射頻信號(hào)測(cè)試儀表耦接；當(dāng)控制模塊向可變電容電感模塊發(fā)送控制信號(hào)后，可變電容電感模塊調(diào)節(jié)匹配阻抗與射頻電路阻抗相匹配；將可變電容電感模塊的一端通過(guò)射頻測(cè)試探針連接到射頻電路的天線彈片上，通過(guò)控制模塊去調(diào)節(jié)可變電容電感模塊的匹配阻抗，使匹配阻抗與射頻電路的阻抗相匹配，同時(shí)，還可以通過(guò)回波檢測(cè)模塊測(cè)試檢測(cè)回波損耗，通過(guò)回波損耗的大小來(lái)判斷匹配阻抗是否匹配到位，直到匹配阻抗與射頻電路中的阻抗相匹配，測(cè)試結(jié)果嚴(yán)謹(jǐn)。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路、PCB板及設(shè)備
本技術(shù)涉及射頻信號(hào)測(cè)試
，尤其涉及一種射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路、PCB板及設(shè)備。
技術(shù)介紹
近年來(lái)，隨著通信技術(shù)的不斷發(fā)展，無(wú)線產(chǎn)品的普及程度越來(lái)越高，每年全球生產(chǎn)的無(wú)線產(chǎn)品的數(shù)量也不斷增加，人們的生產(chǎn)生活日趨便捷。無(wú)線產(chǎn)品(以手機(jī)為代表)主要是指通訊頻率工作在300kHz～300GHz，該頻段范圍內(nèi)的通訊信號(hào)又叫做射頻信號(hào)。為了保證無(wú)線產(chǎn)品主板上的射頻信號(hào)質(zhì)量，以滿(mǎn)足無(wú)線產(chǎn)品一系列最基本的無(wú)線通信需求，通常需要對(duì)主板上的射頻芯片進(jìn)行板級(jí)射頻測(cè)試。傳統(tǒng)的板級(jí)射頻測(cè)試方案，是通過(guò)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)階段在無(wú)線產(chǎn)品的主板上增加射頻測(cè)試座，并在測(cè)試時(shí)將射頻測(cè)試探針的一端和無(wú)線產(chǎn)品主板上的射頻測(cè)試座進(jìn)行機(jī)械結(jié)構(gòu)的扣合，射頻測(cè)試探針的另一端通過(guò)射頻測(cè)試線纜連接到測(cè)試儀表模塊，最后通過(guò)測(cè)試儀表模塊的測(cè)量結(jié)果來(lái)判定無(wú)線產(chǎn)品板級(jí)射頻測(cè)試是否合格，無(wú)線產(chǎn)品的主板是良品，還是不良品來(lái)進(jìn)行篩選，以保證射頻信號(hào)質(zhì)量。以手機(jī)為代表的的無(wú)線產(chǎn)品已經(jīng)發(fā)展到了5G時(shí)代，無(wú)線產(chǎn)品主板上使用的射頻信號(hào)頻率范圍越來(lái)越廣，為了保證無(wú)線產(chǎn)品的通訊質(zhì)量，這就需要在無(wú)線產(chǎn)品上市前做更完備的板級(jí)射頻測(cè)試以覆蓋無(wú)線產(chǎn)品上市后使用到的所有射頻信號(hào)頻率范圍。當(dāng)前是通過(guò)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)階段在無(wú)線產(chǎn)品的主板上增加更多的射頻測(cè)試座；2～4G時(shí)代無(wú)線產(chǎn)品主板上的射頻測(cè)試座的數(shù)量以個(gè)位數(shù)來(lái)計(jì)算，5G時(shí)代這個(gè)數(shù)量會(huì)上升到10個(gè)以上來(lái)滿(mǎn)足傳統(tǒng)板級(jí)射頻測(cè)試的需求；對(duì)于設(shè)計(jì)越來(lái)越復(fù)雜，性能越來(lái)越高，用戶(hù)體驗(yàn)越來(lái)越好的無(wú)線產(chǎn)品，主板上的設(shè)計(jì)空間非常有限，而10個(gè)以上的射頻測(cè)試座僅僅是為了滿(mǎn)足無(wú)線產(chǎn)品上市前保證射頻信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試需求，在上市后并沒(méi)有改善無(wú)線產(chǎn)品板上射頻信號(hào)的收發(fā)質(zhì)量。反而要在無(wú)線產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段在有限的主板空間上預(yù)留10個(gè)以上板級(jí)射頻測(cè)試座的安裝空間，而且增加了無(wú)線產(chǎn)品的物料成本。所以需要開(kāi)發(fā)出一種無(wú)需射頻測(cè)試座的板級(jí)射頻信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)，以方便測(cè)試射頻信號(hào)，并且節(jié)約上游設(shè)計(jì)中關(guān)于射頻測(cè)試座的成本。而在這個(gè)過(guò)程中，直接省去射頻測(cè)試座進(jìn)行測(cè)試，首先需要設(shè)計(jì)有調(diào)諧電路進(jìn)行阻抗匹配，使得測(cè)試端的阻抗與射頻電路中的阻抗相匹配，才能保證數(shù)據(jù)的真實(shí)可靠；因?yàn)楝F(xiàn)有技術(shù)中并未提及有省去射頻測(cè)試座該如何進(jìn)行射頻信號(hào)的測(cè)試，那么如何在測(cè)試之時(shí)進(jìn)行阻抗的調(diào)節(jié)和匹配，是一個(gè)有巨大應(yīng)用價(jià)值并且亟需解決的問(wèn)題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
針對(duì)上述技術(shù)中存在的如：在板級(jí)射頻信號(hào)測(cè)試中，還未有一種針對(duì)無(wú)需射頻測(cè)試座的測(cè)試系統(tǒng)的射頻信號(hào)測(cè)試調(diào)諧電路。具體為一種射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路，用于調(diào)節(jié)匹配阻抗與射頻電路阻抗相匹配，包括可變電容電感模塊、控制模塊；所述可變電容電感模塊一端與待測(cè)試射頻電路的測(cè)試點(diǎn)耦接，另一端與外界的射頻信號(hào)測(cè)試儀表耦接；所述控制模塊輸出控制信號(hào)，所述可變電容電感模塊響應(yīng)于所述控制信號(hào)調(diào)節(jié)所述匹配阻抗與所述射頻電路阻抗相匹配。作為優(yōu)選，還包括有回波檢測(cè)模塊，所述回波檢測(cè)模塊的一端耦接于所述可變電容電感模塊與外界的射頻信號(hào)測(cè)試儀表的連接點(diǎn)，另一端耦接于所述控制模塊；所述回波檢測(cè)模塊用于檢測(cè)回波損耗，所述控制模塊響應(yīng)于所述回波損耗輸出所述控制信號(hào)。作為優(yōu)選，所述可變電容電感模塊包括多個(gè)可變電容和/或多個(gè)可變電感。作為優(yōu)選，所述可變電容電感模塊包括依次串接的第一可變電容器、第一電容、第二可變電容器、第二電容、第三可變電容器和第三電容，所述第一可變電容器的第一端與待測(cè)試射頻電路的測(cè)試點(diǎn)耦接，所述第三電容的第一端與所述第三可變電容器耦接，所述第三電容的第二端與外界的射頻信號(hào)測(cè)試儀表耦接；還包括第四電容、第四可變電容器、第五電容和第五可變電容器；所述第四電容的一端耦接于所述第一電容和所述第二可變電容的連接點(diǎn)，另一端與所述第四可變電容器的一端耦接，所述第四可變電容器的另一端接地；所述第五電容的一端耦接于所述第二電容和所述第三可變電容的連接點(diǎn)，另一端與所述第五可變電容器的一端耦接，所述第五可變電容器的另一端接地；所述第一可變電容器、所述第二可變電容器、所述第三可變電容器、所述第四可變電容器和所述第五可變電容器的偏置電壓調(diào)節(jié)端均與所述控制模塊耦接。作為優(yōu)選，所述第一可變電容器、所述第二可變電容器、所述第三可變電容器、所述第四可變電容器和所述第五可變電容器的型號(hào)為STPTIC-82G2。作為優(yōu)選，所述控制模塊包括有主控單元和調(diào)控單元，所述主控單元接收所述回波檢測(cè)模塊的回波損耗，并接受用戶(hù)輸入的調(diào)控信號(hào)，所述調(diào)控單元響應(yīng)所述調(diào)控信號(hào)向所述可變電容電感模塊輸出可變電壓，所述可變電容電感響應(yīng)所述可變電壓調(diào)節(jié)所述匹配阻抗。作為優(yōu)選，所述回波檢測(cè)模塊包括有依次連接的雙向耦合器、一分二射頻開(kāi)關(guān)、功率檢波器和模數(shù)轉(zhuǎn)換器，所述雙向耦合器的一端耦接于所述可變電容電感模塊與外界的射頻信號(hào)測(cè)試儀表的連接點(diǎn)，另一端與所述一分二射頻開(kāi)關(guān)連接；所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器將所述回波損耗的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并傳輸至所述控制模塊。作為優(yōu)選，所述雙向耦合器的OUT端與所述可變電容電感模塊耦接，IN端與外界的射頻信號(hào)測(cè)試儀表耦接，ISO端與所述一分二射頻開(kāi)關(guān)的RF1端耦接，CPL端與所述一分二射頻開(kāi)關(guān)的RF2端耦接；所述一分二射頻開(kāi)關(guān)的RFC端與所述功率檢波器的輸入端連接，所述功率檢波器的輸出端與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入端連接，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出端輸出數(shù)字信號(hào)狀態(tài)的所述回波損耗至所述控制模塊。還公開(kāi)一種PCB板，包括所述的射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路。還公開(kāi)一種射頻信號(hào)測(cè)試設(shè)備，包括所述的射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路。本技術(shù)的有益效果是：本技術(shù)所提出的一種射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路，用于調(diào)節(jié)匹配阻抗與射頻電路阻抗相匹配，包括可變電容電感模塊、控制模塊；可變電容電感模塊一端與待測(cè)試射頻電路的測(cè)試點(diǎn)耦接，另一端與外界的射頻信號(hào)測(cè)試儀表耦接；控制模塊輸出控制信號(hào)，可變電容電感模塊響應(yīng)于控制信號(hào)調(diào)節(jié)匹配阻抗與射頻電路阻抗相匹配；將可變電容電感模塊的一端通過(guò)射頻測(cè)試探針連接到射頻電路的天線彈片上，通過(guò)控制模塊去調(diào)節(jié)可變電容電感模塊的匹配阻抗，使匹配阻抗與射頻電路的阻抗相匹配，同時(shí)，還可以通過(guò)回波檢測(cè)模塊測(cè)試檢測(cè)回波損耗，通過(guò)回波損耗的大小來(lái)判斷匹配阻抗的是否匹配恰當(dāng)，直到匹配阻抗與射頻電路中的阻抗相匹配，以達(dá)到可直接通過(guò)天線彈片進(jìn)行射頻信號(hào)測(cè)試的目的；為省去射頻測(cè)試座的研究提供可靠的調(diào)諧電路，使得測(cè)試結(jié)果嚴(yán)謹(jǐn)、數(shù)據(jù)真實(shí)。附圖說(shuō)明圖1為本技術(shù)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；圖2為本技術(shù)的電路框架圖；圖3為本技術(shù)的可變電容電感模塊電路圖；圖4為本技術(shù)的調(diào)控單元電路圖；圖5為本技術(shù)的回波損耗檢測(cè)模塊電路；圖6為本技術(shù)的一個(gè)應(yīng)用例結(jié)構(gòu)圖。主要元件符號(hào)說(shuō)明如下：1、可變電容電感模塊；2、控制模塊；21、主控單元；22、調(diào)控單元；3、待測(cè)試射頻電路；4、射頻信號(hào)測(cè)試儀表；5、回波損耗檢測(cè)模塊；51、雙向耦合器；52、一分二射頻開(kāi)關(guān)；53、功率檢波器；54、模數(shù)轉(zhuǎn)換器；C17、第一可變電容器；C本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路，用于調(diào)節(jié)匹配阻抗與射頻電路阻抗相匹配，其特征在于，包括可變電容電感模塊、控制模塊；所述可變電容電感模塊一端與待測(cè)試射頻電路的測(cè)試點(diǎn)耦接，另一端與外界的射頻信號(hào)測(cè)試儀表耦接；所述控制模塊輸出控制信號(hào)，所述可變電容電感模塊響應(yīng)于所述控制信號(hào)調(diào)節(jié)所述匹配阻抗與所述射頻電路阻抗相匹配。/n
【技術(shù)特征摘要】
1.一種射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路，用于調(diào)節(jié)匹配阻抗與射頻電路阻抗相匹配，其特征在于，包括可變電容電感模塊、控制模塊；所述可變電容電感模塊一端與待測(cè)試射頻電路的測(cè)試點(diǎn)耦接，另一端與外界的射頻信號(hào)測(cè)試儀表耦接；所述控制模塊輸出控制信號(hào)，所述可變電容電感模塊響應(yīng)于所述控制信號(hào)調(diào)節(jié)所述匹配阻抗與所述射頻電路阻抗相匹配。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路，其特征在于，還包括有回波檢測(cè)模塊，所述回波檢測(cè)模塊的一端耦接于所述可變電容電感模塊與外界的射頻信號(hào)測(cè)試儀表的連接點(diǎn)，另一端耦接于所述控制模塊；所述回波檢測(cè)模塊用于檢測(cè)回波損耗，所述控制模塊響應(yīng)于所述回波損耗輸出所述控制信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2任一項(xiàng)所述的射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路，其特征在于，所述可變電容電感模塊包括多個(gè)可變電容和/或多個(gè)可變電感。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的射頻信號(hào)測(cè)試的調(diào)諧電路，其特征在于，所述可變電容電感模塊包括依次串接的第一可變電容器、第一電容、第二可變電容器、第二電容、第三可變電容器和第三電容，所述第一可變電容器的第一端與待測(cè)試射頻電路的測(cè)試點(diǎn)耦接，所述第三電容的第一端與所述第三可變電容器耦接，所述第三電容的第二端與外界的射頻信號(hào)測(cè)試儀表耦接；還包括第四電容、第四可變電容器、第五電容和第五可變電容器；所述第四電容的一端耦接于所述第一電容和所述第二可變電容的連接點(diǎn)，另一端與所述第四可變電容器的一端耦接，所述第四可變電容器的另一端接地；所述第五電容的一端耦接于所述第二電容和所述第三可變電容的連接點(diǎn)，另一端與所述第五可變電容器的一端耦接，所述第五可變電容器的另一端接地；所述第一可變電容器、所述第二可變電容器、所述第三可變電容器、所述第四可變電容器和所述第五可變電容器的偏置電壓調(diào)節(jié)端均與所述...
【專(zhuān)利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：劉好，唐錫輝，左達(dá)恒，
申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人：深圳合一測(cè)試科技有限公司，
類(lèi)型：新型
國(guó)別省市：廣東;44
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