【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及3d眼鏡生產，更具體地說它涉及一種euv光清洗裝置。
技術介紹
1、euv紫外線光清洗技術：是利用有機化合物的光敏氧化作用，達到去除黏附在工件表面上的有機物質，其可達到“原子清潔度”，隨著光電子產業的迅猛發展，光清洗工藝在光電產品中是必不可少的。
2、在3d眼鏡生產過程中，透鏡lens噴墨前，會對lens的側面進行清洗，去除表面的有機物，以提高lens表面的親水性，避免噴墨脫落，然而傳統采用的plasma線外非接觸式清洗的方式還存在以下問題：
3、1、需要人工上下料，浪費人力；2、人工上下料，有二次污染lens的風險；3、清潔完成的產品如果超過15分鐘未進入下道工序，有超過清洗效果有效期的風險；4、plasma清洗良率低，增加了重工成本和報廢成本。因此，需要設計一種新的清洗裝置加以解決。
技術實現思路
1、針對現有技術存在的不足，本專利技術的目的在于提供一種euv光清洗裝置，其優點在于實現了產品的自動清洗與自動上下料，減少人力，沒有二次污染的風險，且提高了清洗效率與清洗質量。
2、為實現上述目的，本專利技術提供了如下技術方案：
3、一種euv光清洗裝置，包括工作臺，所述工作臺上設置有龍門架，所述龍門架上設置有光清洗組件，所述工作臺上設置有豎向導軌，所述豎向導軌上移動設置有治具組件，所述工作臺上移動設置有上料搬運組件，所述上料搬運組件將產品搬運至治具組件上，所述光清洗組件對治具平臺上的產品進行清洗，所述龍門架上還設置有用于
4、所述治具組件包括滑動連接于導軌上的安裝板，所述安裝板上轉動連接有治具平臺，所述治具平臺包括支架，所述支架的上下兩端分別對稱設置有夾持件，兩所述夾持件其中之一沿支架上下移動，所述夾持件上轉動連接有若干用于放置產品的夾持塊，當所述上料搬運組件將產品放置于夾持塊上時，所述夾持件向下移動將產品夾持固定。
5、本專利技術進一步設置為：所述光清洗組件包括水平設置于龍門架上的第一橫向導軌，所述第一橫向導軌與豎向導軌相垂直，所述第一橫向導軌上移動設置有升降導軌，所述升降導軌上移動設置有euv燈，所述euv燈在升降導軌上沿豎直方向移動，所述升降導軌通過伺服電機驅動euv燈移動。
6、本專利技術進一步設置為：所述工作臺上平行設置有兩條豎直導軌，兩所述豎直導軌上均移動設置有治具組件。
7、本專利技術進一步設置為：所述上料搬運組件包括水平設置于工作臺上的搬運導軌，所述搬運導軌與豎向導軌相垂直，所述搬運導軌上移動設置有上料搬運頭，所述上料搬運頭將產品依次放置于夾持塊上，所述上料搬運組件還包括設置于工作臺上的掃碼槍，所述掃碼槍依次對產品進行掃描。
8、本專利技術進一步設置為：所述下料搬運組件包括水平設置于龍門架上的第二橫向導軌，所述第二橫向導軌與豎向導軌相垂直，所述第二橫向導軌上移動設置有下料搬運頭，所述下料搬運頭將治具組件內清洗后的產品沿第二橫向導軌送出。
9、本專利技術進一步設置為：所述夾持件上設置有驅動電機，所述驅動電機的輸出軸上設置有主動輪，所述夾持塊的轉動軸上設置有從動輪，所述主動輪與從動輪之間連接有同步帶，從而帶動夾持塊轉動，夾持件上設置有用于控制驅動電機的感應開關。
10、本專利技術進一步設置為：所述主動輪與從動輪之間，以及相鄰從動輪之間均設置有張緊輪。
11、本專利技術進一步設置為：所述夾持件上設置有用于檢測同步帶是否斷裂的檢測感應器。
12、本專利技術進一步設置為：所述夾持件上設置有用于檢測夾持塊轉動是否同步的感應組件，所述感應組件包括分別設置于夾持塊轉動軸上的感應片，所述感應片上開設有缺口，還包括分別設置于感應片一側的槽形感應器，當感應片轉動至缺口與槽形感應器對齊時，所述槽形感應器接收到檢測信號。
13、與現有技術相比，本專利技術至少具有以下優點：
14、1、上料搬運組件依次將產品搬運至夾持塊上，夾持件向下移動將產品夾持固定，隨后治具平臺翻轉90°使產品lens呈豎直狀態，漏出清洗區域，龍門架上的光清洗組件對產品進行清洗，同時夾持塊帶動產品轉動，使產品整個側壁受到清洗，清洗完成后治具平臺沿豎直導軌將產品移動至下料區，下料搬運組件將產品輸送至下道工序；實現了產品的自動清洗與自動上下料，減少人力，沒有二次污染的風險，且提高了清洗效率與清洗質量。
15、2、將euv燈設置在升降導軌上，euv燈可以在升降導軌上沿豎直方向移動，使得euv燈可以隨產品的不規則輪廓進行升降，始終保持相同清洗高度，提高清洗質量。
16、3、通過設置檢測感應器，可以實時監測同步帶是否有斷裂痕跡；還設置有感應組件，槽形感應器通過檢測感應片上的缺口，可以檢測出若干夾持塊是否有同步轉動，還可檢測出同步帶斷裂造成的角度偏差。
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1.一種EUV光清洗裝置，其特征在于：包括工作臺，所述工作臺上設置有龍門架，所述龍門架上設置有光清洗組件，所述工作臺上設置有豎向導軌，所述豎向導軌上移動設置有治具組件，所述工作臺上移動設置有上料搬運組件，所述上料搬運組件將產品搬運至治具組件上，所述光清洗組件對治具平臺上的產品進行清洗，所述龍門架上還設置有用于搬運清洗后產品的下料搬運組件；
2.根據權利要求1所述的一種EUV光清洗裝置，其特征在于：所述光清洗組件包括水平設置于龍門架上的第一橫向導軌，所述第一橫向導軌與豎向導軌相垂直，所述第一橫向導軌上移動設置有升降導軌，所述升降導軌上移動設置有EUV燈，所述EUV燈在升降導軌上沿豎直方向移動，所述升降導軌通過伺服電機驅動EUV燈移動。
3.根據權利要求2所述的一種EUV光清洗裝置，其特征在于：所述工作臺上平行設置有兩條豎直導軌，兩所述豎直導軌上均移動設置有治具組件。
4.根據權利要求1所述的一種EUV光清洗裝置，其特征在于：所述上料搬運組件包括水平設置于工作臺上的搬運導軌，所述搬運導軌與豎向導軌相垂直，所述搬運導軌上移動設置有上料搬運頭，所述上料
5.根據權利要求1所述的一種EUV光清洗裝置，其特征在于：所述下料搬運組件包括水平設置于龍門架上的第二橫向導軌，所述第二橫向導軌與豎向導軌相垂直，所述第二橫向導軌上移動設置有下料搬運頭，所述下料搬運頭將治具組件內清洗后的產品沿第二橫向導軌送出。
6.根據權利要求1所述的一種EUV光清洗裝置，其特征在于：所述夾持件上設置有驅動電機，所述驅動電機的輸出軸上設置有主動輪，所述夾持塊的轉動軸上設置有從動輪，所述主動輪與從動輪之間連接有同步帶，從而帶動夾持塊轉動，夾持件上設置有用于控制驅動電機的感應開關。
7.根據權利要求6所述的一種EUV光清洗裝置，其特征在于：所述主動輪與從動輪之間，以及相鄰從動輪之間均設置有張緊輪。
8.根據權利要求6所述的一種EUV光清洗裝置，其特征在于：所述夾持件上設置有用于檢測同步帶是否斷裂的檢測感應器。
9.根據權利要求8所述的一種EUV光清洗裝置，其特征在于：所述夾持件上設置有用于檢測夾持塊轉動是否同步的感應組件，所述感應組件包括分別設置于夾持塊轉動軸上的感應片，所述感應片上開設有缺口，還包括分別設置于感應片一側的槽形感應器，當感應片轉動至缺口與槽形感應器對齊時，所述槽形感應器接收到檢測信號。
...【技術特征摘要】
1.一種euv光清洗裝置，其特征在于：包括工作臺，所述工作臺上設置有龍門架，所述龍門架上設置有光清洗組件，所述工作臺上設置有豎向導軌，所述豎向導軌上移動設置有治具組件，所述工作臺上移動設置有上料搬運組件，所述上料搬運組件將產品搬運至治具組件上，所述光清洗組件對治具平臺上的產品進行清洗，所述龍門架上還設置有用于搬運清洗后產品的下料搬運組件；
2.根據權利要求1所述的一種euv光清洗裝置，其特征在于：所述光清洗組件包括水平設置于龍門架上的第一橫向導軌，所述第一橫向導軌與豎向導軌相垂直，所述第一橫向導軌上移動設置有升降導軌，所述升降導軌上移動設置有euv燈，所述euv燈在升降導軌上沿豎直方向移動，所述升降導軌通過伺服電機驅動euv燈移動。
3.根據權利要求2所述的一種euv光清洗裝置，其特征在于：所述工作臺上平行設置有兩條豎直導軌，兩所述豎直導軌上均移動設置有治具組件。
4.根據權利要求1所述的一種euv光清洗裝置，其特征在于：所述上料搬運組件包括水平設置于工作臺上的搬運導軌，所述搬運導軌與豎向導軌相垂直，所述搬運導軌上移動設置有上料搬運頭，所述上料搬運頭將產品依次放置于夾持塊上，所述上料搬運組件還包括設置于工作臺上的掃碼槍，所述掃碼槍依次對產品進行掃...
【專利技術屬性】
技術研發人員：王志峰，王永超，
申請(專利權)人：廈門普誠半導體科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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