本申請公開了一種手眼標定方法、裝置、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及產(chǎn)品，涉及自動化生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域。本申請采用動作檢驗相機進行輔助標定，在不帶來額外成本的基礎(chǔ)上，通過對同一個標定物采集第一圖像數(shù)據(jù)和第二圖像數(shù)據(jù)，并基于已知的第一轉(zhuǎn)換關(guān)系，在不同的坐標系之...

本技術(shù)公開了一種適用于片式電容組裝的高兼容治具，通過第一對位夾緊塊、第一對位夾緊彈簧、第二對位夾緊塊、第二對位夾緊彈簧、對位夾緊回位彈簧、對位夾緊推桿、楔形結(jié)構(gòu)塊的配合，通過拉動對位夾緊推桿即可實現(xiàn)第一對位夾緊塊、第二對位夾緊塊對置于放...

本技術(shù)公開了用于電子元器件的測試設(shè)備，涉及電子元器件測試領(lǐng)域，包括安裝座、測試盤、兩根探針、兩個彈性安裝件和動力件，測試盤上設(shè)置有至少一個用于放置電子元器件的測試位，測試位位于探針的下方，兩個彈性安裝件分別用于兩個探針與安裝座之間的連接...

本技術(shù)公開了一種可連續(xù)工作的高低溫測試裝置，涉及電子產(chǎn)品測試領(lǐng)域，包括高低溫箱體、換料盤、切換組件、保溫箱體、裝料盤、運輸組件、密封控制件和氮源；換料盤通過切換組件切換工位處于不同的位置，相較于現(xiàn)有技術(shù)，本高低溫測試裝置只需進行一次升溫...

本申請公開了一種電阻測試方法、設(shè)備、存儲介質(zhì)以及程序產(chǎn)品，涉及電阻扎針測試技術(shù)領(lǐng)域，包括：獲取待測試電阻的電阻圖像和測試針座的針孔圖像；測試針座上設(shè)置有針孔，針孔用于放置用于電阻測試的測試探針；基于電阻圖像，確定出待測試電阻的電阻位置信...

本申請公開了一種探針壓針測試方法、裝置、設(shè)備、存儲介質(zhì)及程序產(chǎn)品，涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，包括：在探針以第一預(yù)設(shè)速度移動至預(yù)設(shè)下針位置后，獲取壓力傳感器采集的第一壓力值；探針擺臂設(shè)置有壓力傳感器，所述壓力傳感器設(shè)置有所述探針，所述探針的尾...

本申請公開了一種芯片電阻器溫度系數(shù)測試方法和系統(tǒng)，涉及芯片電阻器溫度系數(shù)測試技術(shù)領(lǐng)域，包括：通過干燥空氣對待測芯片電阻器進行除濕；將除濕后的待測芯片電阻器置入測試環(huán)境中進行保溫；其中，測試環(huán)境為高溫測試環(huán)境或低溫測試環(huán)境；保溫結(jié)束后，在...

本申請公開了一種載片測試方法、裝置、設(shè)備、存儲介質(zhì)以及程序產(chǎn)品，涉及載片測試技術(shù)領(lǐng)域，公開的載片測試方法，包括：獲取高度測量傳感器采集的待測載片中各測試點的實際高度值；利用所有所述第一實際高度值，確定承載待測載片的可升降卡盤的第一高度補...

本技術(shù)公開了一種交替式探針測試分選機，包括機架、料盒組件、電動針座測試平臺、電動雙工位交叉互換機構(gòu)和自動上下料結(jié)構(gòu)，料盒組件固定安裝在機架上，電動針座測試平臺固定設(shè)置在機架上，電動針座測試平臺上設(shè)有至少一個測試工位，電動雙工位交叉互換結(jié)...

本技術(shù)涉及測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種電動針座控制系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括控制箱體和電動針座，電動針座包括三軸電機以及分別與三軸電機連接的XYZ向電機滑臺；控制箱體內(nèi)固定有與電動針座連接的控制板；控制箱體具有控制區(qū)和接線區(qū)，控制箱體上還設(shè)置有...

本發(fā)明公開了一種SIP&BGA封裝類器件測試裝置，包括裝置基座、XY移動組件、取料組件、料盤組件、校正組件、支架組件、視覺組件和測試組件，XY移動組件固定安裝在裝置基座上，取料組件安裝在XY移動組件上，料盤組件設(shè)置在裝置基座上，...

本實用新型公開了一種真空卡盤，包括卡盤本體，所述卡盤本體具有一個用于放置被檢測裸片的放置面，放置面上開設(shè)有多個用于吸附被檢測裸片的、且直徑不同的吸附孔；該卡盤本體內(nèi)還設(shè)置有多條獨立的真空通道，每條所述真空通道的一端端口對應(yīng)匹配與一個所述...

本實用新型涉及自動化產(chǎn)業(yè)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種用于高低溫環(huán)境下的多軸運動裝置，包括固定底座，固定底座的下端外表面設(shè)有器件置放機構(gòu)，固定底座的上端兩側(cè)設(shè)有一號X軸模組與二號X軸模組，一號X軸模組與二號X軸模組通過Y軸支撐板和加強筋與Y軸...

本實用新型內(nèi)容公開了一種T/R組件高低溫自動測試裝置，包括：高低溫試驗箱，所述高低溫試驗箱的外側(cè)壁連接有高溫干燥箱；所述高溫干燥箱的內(nèi)部安裝有自動上下料系統(tǒng)，所述高低溫試驗箱的內(nèi)部安裝有高低溫自動插接系統(tǒng)，所述高低溫自動插接系統(tǒng)的一側(cè)設(shè)...

本發(fā)明公開了一種T/R組件高低溫自動測試裝置，包括：高低溫試驗箱，其特征在于，所述高低溫試驗箱的外側(cè)壁連接有高溫干燥箱；所述高溫干燥箱的內(nèi)部安裝有自動上下料系統(tǒng)，所述高低溫試驗箱的內(nèi)部安裝有高低溫自動插接系統(tǒng)，所述高低溫自動插接系統(tǒng)的一...

本實用新型公開了一種缺陷電子元件分選剔除設(shè)備，包括底板，所述底板的上方設(shè)置有自動上料裝置、自動下料裝置、烘干發(fā)泡裝置、分選剔除裝置、第二組移栽轉(zhuǎn)運裝置和第一組移栽轉(zhuǎn)運裝置，所述分選剔除裝置的底面與底板的頂面連接。本技術(shù)方案能夠通過將第一...

本實用新型公開了一種全自動雙卡盤探針臺載片測試系統(tǒng)，包括機架，所述機架上設(shè)置有用于載片測試的雙卡盤探針臺系統(tǒng)和用于載片上下料的自動上下料系統(tǒng)，所述雙卡盤探針臺系統(tǒng)包括固定設(shè)于機架上的底板，底板上固定安裝有第一直線電機與直線導(dǎo)軌組件，所述...

本實用新型涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種適用于高低溫環(huán)境下器件自動測試分選的設(shè)備，包括外部控制機柜與高低溫箱裝置，所述外部控制機柜的內(nèi)部設(shè)有自動上下料裝置，所述高低溫箱裝置的內(nèi)部設(shè)有高低溫視覺裝置、取料壓料裝置與四軸運動裝置，所述自動...

本發(fā)明公開了一種全自動雙卡盤探針臺載片測試系統(tǒng)，包括機架，所述機架上設(shè)置有用于載片測試的雙卡盤探針臺系統(tǒng)和用于載片上下料的自動上下料系統(tǒng)，所述雙卡盤探針臺系統(tǒng)包括固定設(shè)于機架上的底板，底板上固定安裝有第一直線電機與直線導(dǎo)軌組件，所述第一...

本實用新型公開了一種視覺識別定位引導(dǎo)的裝置，包括機架，所述機架上設(shè)有物料盤，所述物料盤的周圍間隔設(shè)置有若干測針組件，所述測針組件包括若干三軸運動臺、固定在三軸運動臺上的連板和固定在連板末端的測針，所述測針與待測物體接觸，所述三軸運動臺和...