本實(shí)用新型公開(kāi)了一種半導(dǎo)體器件無(wú)損測(cè)試裝置,其包括:轉(zhuǎn)盤、轉(zhuǎn)盤驅(qū)動(dòng)裝置、半導(dǎo)體器件載具、測(cè)試插頭、壓觸開(kāi)關(guān)和導(dǎo)套,所述轉(zhuǎn)盤水平設(shè)置在轉(zhuǎn)盤驅(qū)動(dòng)裝置上,所述半導(dǎo)體器件載具環(huán)形陣列分布在轉(zhuǎn)盤上,所述導(dǎo)套對(duì)稱設(shè)置在半導(dǎo)體器件載具上,所述升降驅(qū)動(dòng)...