本發(fā)明涉及半導(dǎo)體測(cè)試測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種探針鉗點(diǎn)治具制造設(shè)備。一種探針鉗點(diǎn)治具制造設(shè)備,包括機(jī)臺(tái),所述機(jī)臺(tái)內(nèi)部開(kāi)設(shè)有腔室,所述機(jī)臺(tái)在腔室的一側(cè)設(shè)有高度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu),且高度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)的頂部貫穿腔室并延伸至機(jī)臺(tái)外部,所述高度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)的頂部設(shè)有...