本申請(qǐng)公開(kāi)了一種主板檢測(cè)觸點(diǎn)位置確定方法及裝置、電子設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì),所述方法包括:提取待測(cè)試觸點(diǎn)及位置識(shí)別點(diǎn)在主板設(shè)計(jì)圖上的設(shè)計(jì)坐標(biāo);以位置識(shí)別點(diǎn)為基準(zhǔn),構(gòu)建位置識(shí)別點(diǎn)的設(shè)計(jì)坐標(biāo)與位置識(shí)別點(diǎn)在實(shí)物主板上的世界坐標(biāo)的映射關(guān)系矩陣;根據(jù)需要...