本公開提供了一種固態(tài)硬盤壽命預(yù)測方法及相關(guān)設(shè)備,涉及SSD壽命預(yù)測技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括獲取待預(yù)測固態(tài)硬盤在預(yù)設(shè)時間段內(nèi)的性能數(shù)據(jù);對待預(yù)測固態(tài)硬盤在預(yù)設(shè)時間段內(nèi)的性能數(shù)據(jù)進行識別,確定待預(yù)測固態(tài)硬盤在預(yù)設(shè)時間段內(nèi)的目標業(yè)務(wù)類別,以及與目...