本發明公開了一種Flash內存加速方法,其基于ART，包括：步驟1，使用總線地址的高位進行路預測，根據路預測的判斷結果訪問相應的存儲區；所述存儲區包括ART緩沖區Buf、ART預取緩沖區Prebuf、ART緩存Cache和閃存；步驟2，...

本發明公開了一種ADC數字控制器驗證系統，包括：FPGA和ADC模擬器；ADC模擬器，采用主控MCU模擬實現ADC_IP所有功能，包括解析ADC數字控制器控制時序，根據ADC數字控制器提供的時鐘轉換周期以及通道號對相應通道進行模擬電壓采...

本發明公開了一種反電動勢檢測電阻網絡，用于BLDC電機反電動勢檢測，包括：第一電阻單元輸入端接第一相端，第一輸出端接地，第二輸出端和第三輸出端連接檢測單元不同引腳；第二電阻單元輸入端連接第二相端，第一輸出端接地，第二輸出端和第三輸出端連...

本發明公開了一種ADC采集測試模塊，包括：前端調理單元，其輸入端接收高頻模擬信號，其用于將高頻模擬信號進行差分變化、增益調節和低通濾波后輸出至高速ADC采集單元；ADC采集單元，其基于指定時鐘進行信號采樣，獲得采樣信號后輸出至后端信號處...

本文公開了一種用于UART通信接口的仿真驗證方法及驗證模型，驗證模型主要包括：UART配置模塊、待測設計DUT、VIP選擇器、VIP模塊、驗證模塊和輸出比較器等。UART配置模塊通過獲取DUT的UART通信參數并將參數傳遞給VIP選擇器...

本實用新型屬于模擬集成電路設計領域，公開了一種交叉耦合電荷泵的襯底選擇電路，包括開關對管電路、襯底選擇電路、和輸入時鐘。輸入時鐘與開關對管電路連接，用于提供第一時鐘信號和第二時鐘信號。開關對管電路包含開關NMOS對管和開關PMOS對管，...

本文公開了一種加解密算法模塊仿真驗證系統及方法，驗證系統主要包括：激勵生成器、驅動器、激勵監測器、輸出監測器、覆蓋率模型和檢查器等。激勵生成器產生隨機化的測試激勵；驅動器將產生的激勵打包傳遞給系統內的其它組件；激勵監測器和輸出監測器用于...

本發明公開了一種“數字異步通信中自動波特率檢測的實現方法”，該技術可在事先不知道系統的通信速率情況下，根據接收到的一個字符檢測通信速率，并自動設置brr寄存器的值。在檢測之前可通過寄存器中的ABRMOD[1:0]字段選擇自動波特率檢測模...

本實用新型提供一種自適應的超低靜態功耗漏電泄放電路，包括誤差放大器EA，PMOS功率管MP1，PMOS管MP2，PMOS管MP3，PMOS管MP4，所述誤差放大器EA的正相輸入端與反饋電壓VFB相接，反相輸入端與基準電壓VREF相接，P...

本實用新型公開了一體式測試終端設備。包括板載微控制器、通用通信接口適配模塊、非易失性存儲單元、觸摸顯示屏、電源模塊、In

本發明公開了一種可靠性同測裝置及其控制方法，用于微控制器芯片內置大容量存儲器可靠性測試，可實現多芯片并行測試。同時以測試區間可配置的形式，可選擇全部覆蓋存儲空間，也可以選擇以不同芯片不同區間的等效方式以覆蓋全面，從同測數與測試空間配置兩...

本發明公開了一種多聯張非接觸智能卡同測設備的實現方法，特別適用于在多聯張非接觸智能卡同測設備的設計中使用。本發明使用MCU控制多個讀卡芯片，連接多個天線線圈與待測卡片進行通訊，每個讀卡芯片將MCU發送的測試指令轉換為13.56MHz的R...

本發明公開了一種智能卡測試讀卡器，可實現符合ISO7816規范的接觸接口與符合ISO14443規范的非接接口同時通訊，在可設置接觸電壓以及非接參數的同時，可實現指令流亂序測試，同時可內嵌終端安全控制模塊，實現卡片安全所需要的內外部認證。...

本發明公開了一種測量智能卡芯片EEPROM擦寫電壓的方法和電路，特別適用于在智能卡芯片的測試設備上實現對智能卡芯片EEPROM擦寫電壓進行精確測量。本發明通過采樣EEPROM擦寫電壓的輸出電流，并通過此電流計算出對應的內部損耗電壓，然后...

本發明涉及芯片低功耗技術領域，公開了一種MCU芯片功耗評估的方法。首先，把芯片把MCU芯片的功耗劃分成三大組成部分，即：模擬電路功耗、數字電路功耗和memory電路功耗；其次，根據CMOS電路功耗的三大來源，即：動態功耗、靜態功耗和短路...

本發明提出Flash加速控制器的設計，采用數據預取緩存、指令現場保存和替換算法可控加速方案。通過軟件配置或自適應動態切換，來選擇加速方案，實現嵌入式應用中不同場景需求下的系統性能提升。本文工作的主要創新點如下:1)Flash預取操作：對...

本發明公開了基于Python的芯片自動化驗證測試系統及方法，特別適用于低功耗MCU芯片的IP功能驗證，接口電特性參數，芯片性能的自動化測試。本發明使用Python開發的PC端上位機框架，涵蓋UART/SPI/I2C/芯片JTAG調試四種...

本發明公開了一種可實現在ATE即自動測試設備上使用芯片內部時鐘進行測試同步的同步測試方法。通過該方法，可以基于芯片內部時鐘對測試完成時間和測試應答時刻不同的芯片進行同步，從而在量產階段實現基于芯片內部時鐘進行測試時的多芯片同步測試。

本發明涉及集成電路設計技術領域，公開了一種實時時鐘的數字校準方法及電路。包括：計數單元、校準值配置單元、譯碼單元、對比單元、校準脈沖產生單元和邏輯與單元。首先，通過計數單元產生校準窗口(每2

本實用新型公開了一種多聯張非接觸智能卡同測裝置，特別適用于在多聯張非接觸智能卡同測設備的設計中使用。本實用新型使用MCU控制多個讀卡芯片，連接多個天線線圈與待測卡片進行通訊，每個讀卡芯片將MCU發送的測試指令轉換為13.56MHz的RF...