本申請公開了數(shù)據(jù)的編程方法、電子設(shè)備以及存儲介質(zhì)，其中，數(shù)據(jù)的編程方法包括：響應(yīng)于接收到對存儲設(shè)備的目標字線的編程指令，判斷存儲設(shè)備的當前的環(huán)境參數(shù)是否在對應(yīng)的預(yù)設(shè)環(huán)境參數(shù)的范圍內(nèi)；當存儲設(shè)備的當前的環(huán)境參數(shù)不在預(yù)設(shè)環(huán)境參數(shù)的范圍內(nèi)，判...

本申請公開了數(shù)據(jù)的管理方法、電子設(shè)備以及存儲介質(zhì)，其中，數(shù)據(jù)的管理方法包括：對存儲設(shè)備的目標存儲塊的目標字線進行讀取；其中，目標存儲塊按照字線依次被劃分成多個字線組；基于目標字線的讀取，分別對各字線組進行讀干擾計數(shù)，以對目標存儲塊進行數(shù)...

本申請?zhí)峁┮环N數(shù)據(jù)管理方法、存儲設(shè)備及存儲介質(zhì)，該方法包括如下的步驟：確定每一亞塊的受干擾程度，受干擾程度由當前亞塊所屬的存儲塊中的其余亞塊的操作次數(shù)確定；對受干擾程度滿足預(yù)設(shè)要求的亞塊進行數(shù)據(jù)搬遷。通過上述方法，對存儲塊中的亞塊的受干...

本申請公開了存儲設(shè)備的轉(zhuǎn)接板、測試設(shè)備和測試方法，應(yīng)用于存儲設(shè)備的測試場景中，該存儲設(shè)備的轉(zhuǎn)接板包括：第一連接端口，第一連接端口用于與服務(wù)器的通信端口電連接；第二連接端口，第二連接端口用于與存儲設(shè)備的通信端口電連接；控制電路，連接第一連...

本申請?zhí)峁┮环N數(shù)據(jù)寫入方法、裝置、控制器以及存儲介質(zhì)，應(yīng)用于控制器，所述控制器包括多個緩沖區(qū)，所述方法包括：獲取所述控制器的內(nèi)存總?cè)萘浚猾@取所述控制器連接的閃存存儲器中的物理面的第一數(shù)量，以及獲取每個所述物理面中包含的物理頁的第二數(shù)量；...

本發(fā)明公開了一種存儲設(shè)備的控制方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，其中，應(yīng)用于存儲設(shè)備的方法包括：接收主機端發(fā)送的讀命令或?qū)懨睿黄渲校x命令和寫命令中攜帶有丟棄命令；丟棄存儲設(shè)備中丟棄命令對應(yīng)的無效數(shù)據(jù)，以及執(zhí)行讀命令或?qū)懨睢＜幢旧暾堉?..

本申請?zhí)峁┮环N硬盤激活方法及認證方法、固態(tài)硬盤及服務(wù)器，所述硬盤激活方法包括：響應(yīng)用戶發(fā)出的激活指令，關(guān)閉固態(tài)硬盤的調(diào)試接口；獲取當前時刻隨機生成的隨機驗證序列，并計算隨機驗證序列的隨機哈希值；對固態(tài)硬盤的序列號、芯片標識符、隨機驗證序...

本申請公開了序列數(shù)據(jù)的處理方法、存儲設(shè)備及存儲系統(tǒng)。本處理方法應(yīng)用于存儲設(shè)備，該存儲設(shè)備或存儲系統(tǒng)以序列數(shù)據(jù)流的形式進行數(shù)據(jù)處理操作，該方法包括：存儲設(shè)備以序列數(shù)據(jù)流的形式進行數(shù)據(jù)處理操作，方法包括：存儲設(shè)備接收主機端發(fā)送的序列數(shù)據(jù)；存...

本申請?zhí)峁┮环N測試設(shè)備，包括殼體和循環(huán)組件；殼體具有第一腔體和第二腔體，第一腔體的腔壁設(shè)有相對設(shè)置的進風(fēng)口和出風(fēng)口，第二腔體通過進風(fēng)口與出風(fēng)口連通第一腔體；循環(huán)組件位于第二腔體內(nèi)，循環(huán)組件包括加熱件、進風(fēng)件以及出風(fēng)件，加熱件用于加熱第二...

本發(fā)明公開了一種數(shù)據(jù)處理方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，應(yīng)用于生產(chǎn)測試中，主設(shè)備端與從設(shè)備端通過SPI接口進行數(shù)據(jù)傳輸，從設(shè)備端耦接待測存儲設(shè)備，其中，方法包括：主設(shè)備端將目標命令通過SPI接口傳輸至從設(shè)備端，使從設(shè)備端發(fā)送目標命令至待...

本申請公開了一種存儲裝置的老化測試方法和老化測試設(shè)備，該老化測試方法包括：獲取被測存儲裝置的閃存顆粒類型；利用閃存顆粒類型從配置文件中獲取對應(yīng)的測試參數(shù)；基于測試參數(shù)形成對應(yīng)的老化測試程序；利用老化測試程序?qū)Ρ粶y存儲裝置進行老化測試。本...

本申請公開了一種生產(chǎn)車間的排單系統(tǒng)，該排單系統(tǒng)至少包括數(shù)據(jù)采集單元、處理單元和發(fā)送單元，其中，數(shù)據(jù)采集單元用于實時采集物料的第一狀態(tài)、每一生產(chǎn)設(shè)備的第二狀態(tài)、每一物料搬運設(shè)備的第三狀態(tài)，以及采集生產(chǎn)車間的布局信息和初始排產(chǎn)計劃；處理單元...

本申請公開了一種內(nèi)存老化測試裝置，該內(nèi)存老化測試裝置包括：箱體，箱體內(nèi)設(shè)置有至少一個內(nèi)存老化測試單元；其中，內(nèi)存老化測試單元被配置為對至少一個待測內(nèi)存進行老化測試；每一內(nèi)存老化測試單元包括殼體，殼體設(shè)置有第一通孔和可形變件，可形變件對應(yīng)...

本申請公開了一種內(nèi)存老化測試方法和內(nèi)存老化測試裝置，內(nèi)存老化測試方法包括：在第一測試階段，調(diào)整每一測試指令之間的指令間隔時間；獲取每一指令間隔時間內(nèi)被測內(nèi)存產(chǎn)生的功耗值；將多個功耗值中最大功耗值對應(yīng)的指令間隔時間作為第一測試階段之后的第...

本申請公開了一種存儲裝置，該存儲裝置包括：多個存儲模塊；多個接口控制模塊，每一接口控制模塊分別耦接至少兩個存儲模塊；通信接口，耦接接口控制模塊，并用于與外部設(shè)備進行數(shù)據(jù)交互；其中，每一接口控制模塊響應(yīng)于讀取指令，以第一時鐘信號為基準，從...

本申請?zhí)峁┮环N設(shè)備克隆方法、存儲設(shè)備及存儲介質(zhì)，所述方法應(yīng)用于存儲設(shè)備，包括：獲取所述存儲設(shè)備中的每一非空閑塊；獲取與所述存儲設(shè)備連接的目標設(shè)備中的目標塊，所述目標塊與所述每一非空閑塊具有對應(yīng)的編號；獲取所述每一非空閑塊中的有效數(shù)據(jù)對應(yīng)...

本申請?zhí)峁┮环N芯片升級方法及上位機，所述方法應(yīng)用于上位機以對多個第一芯片進行升級，上位機與第二芯片連接，第二芯片連接多個第一芯片，包括：獲取攜帶有標識位的升級包，所述升級包包括多個升級子包；基于所述標識位，通過所述第二芯片將每個升級子包...

本申請公開了一種數(shù)據(jù)存儲方法、存儲設(shè)備及計算機可讀存儲介質(zhì)。該方法包括獲取邏輯地址列表，邏輯地址列表包括至少兩筆隨機寫數(shù)據(jù)的邏輯地址；將至少兩筆隨機寫數(shù)據(jù)合并為一筆合并寫數(shù)據(jù)；將邏輯地址列表以及合并寫數(shù)據(jù)發(fā)送至存儲裝置，以使得存儲裝置基...

本申請涉及存儲領(lǐng)域，提供一種存儲設(shè)備校驗塊確定方法、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)。該方法根據(jù)存儲設(shè)備中每個邏輯單元的檢測結(jié)果，從多個邏輯單元中的物理塊中確定磁盤陣列校驗塊，根據(jù)每個邏輯單元中非壞塊的存儲數(shù)據(jù)，確定每個磁盤陣列校驗塊的磁盤陣列校驗碼...

本申請公開了一種存儲設(shè)備的數(shù)據(jù)處理方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。所述存儲設(shè)備的數(shù)據(jù)處理方法包括：獲取存儲設(shè)備的掉電指令；基于所述掉電指令，將主機緩存數(shù)據(jù)保存至用于存儲系統(tǒng)數(shù)據(jù)的系統(tǒng)存儲塊中。上述方案，能夠保證存儲設(shè)備掉電時對主機緩存數(shù)據(jù)的...