本技術涉及芯片測試技術領域，公開一種集成電路芯片的測試工裝，包括工作臺，工作臺頂部中間位置固定連接有U型測試臺，工作臺頂部中間位置靠近后端處開設有矩形孔，U型測試臺底部固定連接有四個限位桿，且四個限位桿底部均穿過矩形孔，四個限位桿圓周表...

本技術公開了一種集成電路測試載板，包括：主體組件，所述主體組件包括測試載板和氧化鋁板；所述氧化鋁板內嵌在測試載板中間；防損組件，所述防損組件包括內嵌槽、支撐架、連接板、固定板、連接架、連接軸和扭簧；所述內嵌槽開設在氧化鋁板中部，固定板通...