本發明涉及信息技術。本發明的目的是要解決目前混沌模塊鏈路系統中無法精準測量時延失配量的問題，提供了一種混沌模塊鏈路延時測試系統及方法，其技術方案可概括為：采用一個連續激光作為測試載波，并將該測試載波分束，一路輸出給被測混沌模塊鏈路系統；...

本申請提供一種超表面陣列結構，涉及通信技術領域。超表面陣列結構包括第一金屬層、第一介質層、第二金屬層、第二介質層及第三金屬層，第一金屬層包括多個呈陣列排布的陣列單元，陣列單元包括反射貼片、第一相位調節組件、第二相位調節組件、第一饋線及第...

本申請提供一種凸臺掩模版及其制作方法，所述方法包括：提供一基底；在所述基底上沉積形成鉻膜；對所述鉻膜進行圖案化，形成第一掩模圖案；去除至少部分邊緣區域的所述鉻膜，并對所述邊緣區域的基底進行減薄。相較于傳統的掩模版制造方法，采用本方案設計...

本申請提供一種天線罩及天線，涉及天線技術領域，所述天線罩包括上罩及下罩；上罩與下罩之間形成一密閉腔室，上罩的邊緣位置處包括第一連接部，下罩的邊緣位置處包括第二連接部，上罩與下罩通過第一連接部及第二連接部連接；第一連接部包括凹槽，凹槽內設...

本發明涉及光纖通信技術領域，具體地說，涉及一種多維楔形模斑轉換器及其制造方法。所述模斑轉換器，在縱向維度包括從下向上依次設置的襯底層、第一介質層、第二介質層、第三介質層，且第二介質層采用倒錐形波導結構；倒錐形波導結構為單層結構，且從輸入...

本申請提供了一種光學變焦鏡頭、取像裝置及電子設備，所述光學變焦鏡頭沿光軸由物側至像側依次包括正光焦度的第一透鏡組，負光焦度的第二透鏡組，正光焦度的第三透鏡組，正光焦度的第四透鏡組，通過合理設置四個透鏡組的作用，達到對遠近距離及高速運動等...

本申請提供一種超表面結構的控制方法、裝置及系統，涉及超表面結構技術領域，所述方法包括：提供一控制界面，控制界面包括參數設置區；響應用戶操作，獲取用戶在參數設置區輸入的第一參數，第一參數包括超表面結構的入射角度及出射角度；所述第一參數生成...

本申請提供一種可重構超表面的控制方法、裝置及系統，涉及可重構超表面技術領域，所述方法包括：獲取每個表面單元分別對應的入射波束方向及出射波束方向；根據入射波束方向及出射波束方向分別確定每個表面單元分別對應的目標相位；從多個表面單元行及多個...

本申請實施例提供一種光刻機對準方法、光刻機對準裝置及光刻機，涉及集成電路裝備制造技術領域。在上述光刻機對準方法中，通過實時監測晶圓與掩模版之間的間隙和對準偏差，并將實時間隙和實時對準偏差作為反饋信息，通過閉環控制算法調整工件臺的位置，以...

本申請提供一種透反射全息像獨立調控模板及制備方法。透反射全息像獨立調控模板包括相對的第一側和第二側，在光源的光線分別從第一側和第二側入射到透反射全息像獨立調控模板時，透反射全息像獨立調控模板在第一側和第二側產生不同的反射全息圖像和透射全...

本申請提供一種超表面陣列結構，涉及通信技術領域。超表面陣列結構包括第一金屬層、第二金屬層、第三金屬層、第一支撐層及第二支撐層，第一支撐層位于第一金屬層一側；第二金屬層位于第一支撐層遠離第一金屬層一側，第二金屬層包括多個呈陣列排布的陣列單...

本發明公開了一種特殊光鑷陣列生成方法及系統，采用兩個相互垂直設置的聲光偏轉器依次對激光光束進行處理，對兩個聲光偏轉器分別進行分時掃描調制或分時掃描與多頻函數的疊加調制，在二維平面上生成特殊光鑷陣列。本發明采用對兩個聲光偏轉器進行分時掃描...

本申請提供了一種空間光強度勻化系統，入射勻化系統的平行光依次經過第一復眼透鏡陣列、第二復眼透鏡陣列、第一透鏡、第二透鏡、第三透鏡后，可以使得通過微分鏡組后的每個細光束范圍內的微小不均勻性得到多次補償，實現對光線的有效均勻化，從而在照明面...

本申請提供了一種上片方法、裝置、儲存介質及電子設備，通過圖像處理技術對光刻機物料盤及膜片標記進行識別，實現物料的有序取放與角度矯正，配合自動夾持裝置，可實現投影光刻機的全自動上片，能夠有效避免在膜片上片過程中對膜片表面的剮蹭，最小化膜片...

本申請實施例提供一種光束整形裝置、光束整形系統及光束整形方法，涉及光束整形技術領域，上述光束整形裝置包括依次設置的鮑威爾棱鏡及光束勻化元件。鮑威爾棱鏡可以接收入射光束，并利用其折射率及幾何形狀調整其光線路徑，將入射光束整形為一字線性的出...

本技術涉及測量工具技術領域，提供了一種基于圖像識別的環孔測量裝置，包括中央控制云臺和機械控制機構，機械控制機構包括工件置物臺，工件置物臺的兩側均設置有弧形支架板，弧形支架板設有齒軌，兩弧形支架板套有滑腔，滑腔內設置有與齒軌相嚙合的驅動齒...

本申請涉及精密測量技術領域，具體涉及一種孔位置測量系統，包括檢測子系統和控制子系統，檢測子系統包括載物臺、第一光源、第二光源、第一相機和第二相機，載物臺用于承載待測物品，第一光源用于向承載于載物臺上的待測物品提供上方光源，第二光源用于向...

本技術涉及工件尺寸測量技術領域，提供了一種用于工業零件尺寸檢測的角度測量裝置，包括云臺支撐機構和圖像采集器，所述云臺支撐機構包括測量臺和弧形導軌架，所述測量臺下端連接有支撐柱，所述弧形導軌架的一端與所述支撐柱轉動連接，且所述支撐柱下端連...

本技術涉及工件檢測技術領域，提供了一種弧度檢測和識別裝置，包括工作臺，所述工作臺上設置有轉盤，所述轉盤安裝有若干個放置工件的固定工位，且多個所述固定工位繞所述轉盤中心均勻間隔布置；正視圖像采集器和側視圖像采集器，所述正視圖像采集器設于所...

本技術涉及光纖傳輸設備技術領域，提供了一種便捷可調的光纖準直轉角結構，包括準直轉角主體和反射鏡，所述反射鏡設于所述準直轉角主體的前端，所述準直轉角主體的至少一側面開設有調節滑槽；所述準直轉角主體內設有滑動組件，所述滑動組件包括固定筒、透...