本發(fā)明公開(kāi)了一種自動(dòng)化多通道ADC芯片性能評(píng)估測(cè)試方法,包括:獲取ADC芯片的性能測(cè)試數(shù)據(jù)集,對(duì)所述性能測(cè)試數(shù)據(jù)集進(jìn)行預(yù)處理;根據(jù)性能測(cè)試數(shù)據(jù)集特征選擇神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型,將神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行訓(xùn)練,得到第一神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型;將所述性能測(cè)試數(shù)據(jù)集對(duì)所...