本發明提供一種能夠提高溫度傳感器的感測的響應性的溫度測定裝置。溫度測定裝置(8)是測定DUT(300)的溫度的溫度測定裝置。溫度測定裝置(8)具備與DUT(300)熱連接的第一傳熱構件(73)、以及與第一傳熱構件(73)接觸的溫度傳感器...

本發明提供一種能夠實現增加裝置的每單位占有面積的DUT的測定個數以及抑制信號的傳輸損失的老化裝置。老化裝置(1)具備老化板(20)、老化腔室(11)、通過壁(115a)而與老化腔室(11)分隔且通過壁(60)而與外部氣體分隔的隔熱室(3...

本發明提供能夠以高精度來測試高速設備的接口裝置。接口裝置(200)設置在測試頭(130)與DUT(1)之間。插座板(210)具有用于裝配DUT(1)的插座(220)和用于安裝插座(220)的插座PCB(230)。多個高速信號用的表面電極...

本發明提供能夠改善測定精度的孔隙設備。微細流路設備(400)具備微細流路芯片(410)。微細流路芯片(410)具有在其面內方向上形成的流路(412)。微細流路(412)具有寬度窄的通道部(414)、以及被通道部(414)隔開的第一部分(...

本發明提供一種能夠實現新品種的DUT的試驗的啟動的迅速化的溫度調整系統。溫度調整系統(2)具備：溫度調整裝置(50)，其調整DUT(100)的溫度；信號生成裝置(30)，其獲取從DUT(100)所具備的溫度檢測電路(120)輸出并表示D...

插座組裝體(50)為用于對具有設備天線(12)的DUT(10)進行測試的電子部件測試裝置(1)的插座組裝體，其具備：插座(51)，其供DUT(10)安裝；推動器(53)，其設置于天線單元(52)與插座(51)之間，將DUT(10)朝向插...

基于通過向具有測定對象和混合物的被照射體照射脈沖光而得到的光聲信號，對測定對象進行測定。光聲波測定裝置(1)對具有測定對象(2a)和混合物(2b)的被照射體(2)進行測定。光聲波測定裝置(1)具備：脈沖光輸出部(12a、12b)，其輸出...

本發明提供一種能夠實現運轉率的提高和占有空間的縮小的電子部件處理裝置。對DUT(200)進行處理的電子部件處理裝置(10)具備分別安裝與測試器(7)連接的測試頭(5A～5D)的多個接觸單元(60A～60D)，各個接觸單元(60A～60D...

提供能夠抑制加強框的強度降低和損壞并抑制老化板的撓曲的老化板和老化裝置。老化板(20)具備：多個插座(30)；安裝有插座(30)的老化板主體(40)；底板(60)；外框(50)；以及加強框(70)，其設置于外框(50)的內部且老化板主體...

本發明提供能夠實現減少安裝于插座板的電子部件的溫度上升的插座板組裝體。插座板組裝體具備：插座，其與DUT電連接；插座板，其在上表面安裝插座；插座板框架，其安裝于插座板的下表面；第一試驗用電子部件，其以位于插座板框架的內側的方式安裝于插座...

本發明提供能夠改善測定精度的孔設備。孔芯片(400)具備具有孔(412)的膜片(410)。在將孔(412)的直徑設為d并將膜片(410)的厚度設為t時，滿足1≤t/d＜2的關系。

本發明提供能夠進行準確的信息管理的孔隙設備。孔隙設備(100A)與計測裝置(200A)一起使用。孔隙設備(100A)具有孔隙芯片(102)、以及由孔隙芯片(102)劃分的腔室即芯片盒(130)。測定用端子組(110)是為了從計測裝置(2...

本發明提供一種能夠將高速器件高精度地試驗的接口裝置及自動試驗裝置。接口裝置(200)設置在測試頭(130)與DUT(1)之間。在接口裝置(200)中，引腳電子IC(400)與DUT(1)之間經由FPC線纜(222)連接。

本發明提供一種能夠將超過20Gbps的高速器件高精度地進行試驗的接口裝置及自動試驗裝置。接口裝置(200)設置在測試頭(130)與DUT(1)之間。接口裝置(200)具備引腳電子IC(400)、RAM(410)、引腳控制器(420)、非...

本發明提供一種能夠將高速器件高精度地進行試驗的接口裝置。接口裝置(200)設置在測試頭(130)與DUT(1)之間。接口裝置(200)具備將多個引腳電子IC(400)進行模塊化而成的前端模塊(300)。

本發明提供一種能夠將高速器件高精度地進行試驗的接口裝置、及自動試驗裝置。接口裝置(200)設置在測試頭(130)與被試驗器件DUT(1)之間。插座板包含插座和插座PCB(214)，該插座裝配DUT(1)，該插座PCB(214)在其第一面...

一種超聲波測定裝置、方法、程序、記錄介質，自動對準聲透鏡的焦點。超聲波測定裝置(1)具備：透鏡(10c)，其接收從測定對象(2)輸出的超聲波(P2)；超聲波測定部(12)，其與時間對應地測定透鏡(10c)接收到的超聲波(P2)；超聲波判...

本發明提供一種能夠使電源系統最佳化，并且能夠實現有效利用電氣系統的加熱器驅動控制裝置、電子部件處理裝置、電子部件試驗裝置以及加熱器驅動控制方法。加熱器驅動控制裝置(30)用于具備在內部設置有第一～第三加熱器(22a～26c)的測試腔室(...

本發明提供一種能夠應對尺寸大的DUT并且能夠實現接觸面積的增大的載體。為此，插入件(710)具備：體部(720)，具有供DUT插入的開口(725)；以及一對閂鎖部件(740)，配置于開口(725)的內部且可旋轉地支承于體部(720)，并...

本發明的半導體晶片試驗裝置(10)具備：母板(40)，能夠與具有與形成于半導體晶片(200)的DUT接觸的探針(81)的探針卡(80)電連接，并且具有多個連接器(41)；多個子板(50)，分別具有與連接器(41)嵌合的連接器(51)；以...