具有測試光源的影像傳感器芯片測試夾具制造技術

本發明專利技術公開了一種具有測試光源的影像傳感器芯片測試夾具，包括測試光源和測試夾具，測試光源固定于測試夾具上端，本發明專利技術將測試光源直接安裝至測試夾具上，無需傳統LED面光源的推拉動作，節省了作業時間，提高了作業員工作效率；本發明專利技術使用單個LED燈珠作為發光源并與均光板相結合，具有光源穩定，使用壽命長、光亮均勻等優點，極大的減少了因為光源問題導致的影像傳感器芯片的測試良率損失；本發明專利技術通過電位器可以實現比傳統LED面光源更加精確的光源亮度調節，使得更改光源亮度變得十分簡單，方便使用人員來進行調節，可以滿足不同產品對不同光源亮度值的需求。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術屬于單顆影像傳感器芯片測試領域，具體涉及一種用于傳感器芯片測試的測試光源和測試夾具的改進結構。
技術介紹
在當今影像傳感器芯片如日中天的情勢下，在大大小小的影像傳感器芯片制造企業，其所用的芯片測試光源必須滿足兩個基本條件：光亮均勻性和使用壽命長。半導體行業是個充分競爭的行業，高性能低價格也就是高性價比的產品是企業在市場殘酷競爭中制勝的殺手锏。降低成本是所有公司都在考慮的問題，如何用低成本帶來高收益更是企業的追求。追求性價比體現在一切事物上，對于傳感器芯片測試用LED光源和測試夾具的要求亦是如此。傳統的測試光源是LED面光源（使用多個陣列式LED燈珠），其設計存在散熱大，耗能高及成本高等缺點；而且傳統的LED面光源在測試過程中需將測試夾具人工推進LED面光源的LED發光板下，不僅操作繁瑣、效率低，而且容易磨損；再者，傳統的LED面光源的亮度調節不夠精確。
技術實現思路
為了克服上述缺陷，本專利技術提供了一種具有測試光源的影像傳感器芯片測試夾具，本專利技術的具有測試光源的影像傳感器芯片測試夾具集測試光源與測試夾具為一體，簡化了測試操作，并提高了測試效率，且結構設計簡單合理、易于實施。本專利技術為了解決其技術問題所采用的技術方案是：一種具有測試光源的影像傳感器芯片測試夾具，包括測試光源和測試夾具，所述測試光源固定于所述測試夾具上端。本專利技術為了解決其技術問題所采用的進一步技術方案是：進一步地說，所述測試光源為LED光源。更進一步地說，所述測試光源的結構如下：包括一個LED光源框架、至少一顆LED燈珠以及至少一塊均光板，所述LED燈珠和所述均光板皆位于所述LED光源框架內，所述均光板位于所述LED燈珠下方，相鄰均光板呈上下平行設置。優選的是，所述LED燈珠設有一顆。優選的是，一顆所述LED燈珠位于所述LED光源框架的內部頂部中心。較佳地是，所述LED光源框架內設有若干均光板固定槽，所述均光板一一固定于對應的均光板固定槽內。優選的是，所述LED光源框架為LED光源金屬結構框架。進一步地說，所述LED光源框架的底面周邊與所述測試夾具的上端對應設有若干螺孔，設有若干與螺孔相匹配的螺絲，所述LED光源框架與所述夾具通過若干所述螺孔與螺絲相螺合連接。進一步地說，所述LED燈珠電連接有電位器。較佳地是，所述LED燈珠電連接有電路板，所述電路板電連接所述電位器。本專利技術的有益效果是：本專利技術將測試光源直接安裝至測試夾具上，無需傳統LED面光源的推拉動作，節省了作業時間，提高了作業員工作效率；本專利技術使用單個LED燈珠作為發光源并與均光板相結合，具有光源穩定，使用壽命長、光亮均勻等優點，極大的減少了因為光源問題導致的影像傳感器芯片的測試良率損失；本專利技術通過電位器可以實現比傳統LED面光源更加精確的光源亮度調節，使得更改光源亮度變得十分簡單，方便使用人員來進行調節，可以滿足不同產品對不同光源亮度值的需求。附圖說明圖1為本專利技術結構示意圖；圖2為本專利技術所述測試光源結構示意圖。具體實施方式以下通過特定的具體實例說明本專利技術的實施方式，本領域普通技術人員可由本說明書所揭示的內容輕易地了解本專利技術的優點及功效。本發明也可由其他不同的方式予以實施，即在不悖離本專利技術所揭示的范疇下，能進行不同的修飾與改變。實施例：一種具有測試光源的影像傳感器芯片測試夾具，包括測試光源1和測試夾具2，所述測試光源1固定于所述測試夾具2上端。將測試光源直接安裝至測試夾具上，無需傳統LED面光源的推拉動作，節省了作業時間，提高了作業員工作效率。其中，所述測試光源1的結構如下：包括一個LED光源框架11、一顆LED燈珠12以及至少一塊均光板13，所述LED光源框架11為LED光源金屬結構框架（socket?LED框架），所述LED燈珠12和所述均光板13皆位于所述LED光源框架11內，所述LED燈珠12位于所述LED光源框架11的內部頂部中心，所述均光板13位于所述LED燈珠12下方，相鄰均光板13呈上下平行設置，所述LED光源框架11內設有若干均光板固定槽，所述均光板一一固定于對應的均光板固定槽內，需要的均光板的層數、LED燈珠與均光板之間距離以及均光板之間的距離經過計算來決定socket?LED框架型材上固定槽的位置。傳統的LED面光源（使用多個陣列式LED燈珠）設計存在散熱大，耗能高及成本高等缺點。本專利技術使用單個LED燈珠作為發光源，具有光源穩定，使用壽命長等眾多優點。均光板為LED領域常用均光板，均光板具有濾光、均光作用，能夠進一步的將LED燈珠光源發出來的光亮處理的更加均勻，滿足了影像傳感器芯片測試光源最重要的參數之一：光亮均勻性，此設計的光源的光亮均勻性能達到5%，極大的減少了因為光源問題導致的影像傳感器芯片的測試良率損失。其中，測試光源1和測試夾具2兩者的連接固定方式如下：所述LED光源框架11的底面周邊與所述測試夾具2的上端對應設有若干螺孔，設有若干與螺孔相匹配的螺絲，所述LED光源框架與所述夾具通過若干所述螺孔與螺絲相螺合連接。很好的保證了Socket?LED光源在長期使用后依然能與測試鏡頭保持水平，減少了因光源面不平導致的測試差異。其中，所述LED燈珠12電連接有電路板，所述電路板電連接所述電位器。通過電位器可以實現比傳統LED面光源更加精確的光源亮度調節，使得更改光源亮度變得十分簡單，方便使用人員來進行調節。可以滿足不同產品對不同光源亮度值的需求。本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種具有測試光源的影像傳感器芯片測試夾具，其特征在于：包括測
試光源（1）和測試夾具（2），所述測試光源（1）固定于所述測試夾
具（2）上端。
2.如權利要求1所述的具有測試光源的影像傳感器芯片測試夾具，其特征
在于：所述測試光源（1）為LED光源。
3.如權利要求2所述的具有測試光源的影像傳感器芯片測試夾具，其特征
在于：所述測試光源（1）的結構如下：包括一個LED光源框架（11）
、至少一顆LED燈珠（12）以及至少一塊均光板（13），所述LED燈珠
（12）和所述均光板（13）皆位于所述LED光源框架（11）內，所述均
光板（13）位于所述LED燈珠（12）下方，相鄰均光板（13）呈上下平
行設置。
4.如權利要求3所述的具有測試光源的影像傳感器芯片測試夾具，其特征
在于：所述LED燈珠（12）設有一顆。
5.如權利要求4所述的具有測試光源的影像傳感器芯片測試夾具，其特征
在于：所述LED燈珠（12）位于所述LED光...

【專利技術屬性】
技術研發人員：范明，開麗軍，周建剛，丁建宏，
申請(專利權)人：昆山西鈦微電子科技有限公司，
類型：發明
國別省市：