本實(shí)用新型專利技術(shù)公開一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,包括托架本體,其中,所述托架本體上配合PCB板形狀開設(shè)有用于承載PCB板的型腔,所述型腔內(nèi)開設(shè)有便于掃描的通孔。上述自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架通過采用托架本體來承載PCB板,不僅在裝夾后不會(huì)遮擋掉PCB板上的器件,提高了檢測覆蓋率;而且在裝夾定位PCB板時(shí)具有較大的裝夾空間,不易對PCB板上的器件造成損傷。(*該技術(shù)在2023年保護(hù)過期,可自由使用*)
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
【專利摘要】本技術(shù)公開一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,包括托架本體,其中,所述托架本體上配合PCB板形狀開設(shè)有用于承載PCB板的型腔,所述型腔內(nèi)開設(shè)有便于掃描的通孔。上述自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架通過采用托架本體來承載PCB板,不僅在裝夾后不會(huì)遮擋掉PCB板上的器件,提高了檢測覆蓋率;而且在裝夾定位PCB板時(shí)具有較大的裝夾空間,不易對PCB板上的器件造成損傷。【專利說明】—種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架
本技術(shù)涉及一種托架,尤其涉及一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架。
技術(shù)介紹
自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備。當(dāng)自動(dòng)檢測時(shí),機(jī)器通過攝像頭自動(dòng)掃描PCB板,采集圖像,測試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較,經(jīng)過圖像處理,檢查出PCB板上的缺陷,并通過顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示、標(biāo)示出來,供維修人員修整。自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)是通過工作平臺(tái)上部的夾具夾住PCB板的邊緣來實(shí)現(xiàn)對PCB板的定位,然而,此種裝夾方式,當(dāng)PCB板邊緣5_內(nèi)有器件時(shí),往往很難實(shí)現(xiàn)對PCB板的裝夾定位,夾具易遮擋掉PCB板上的器件,從而降低了檢測覆蓋率,而且PCB板上的器件也易被夾壞。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本技術(shù)的目的在于針對上述問題,提供一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,其具有結(jié)構(gòu)簡單,易于實(shí)現(xiàn),便于PCB板裝夾、提高檢測覆蓋率的特點(diǎn)。本技術(shù)的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,包括托架本體,其中,所述托架本體上配合PCB板形狀開設(shè)有用于承載PCB板的型腔,所述型腔內(nèi)開設(shè)有便于掃描的通孔。優(yōu)選的,所述PCB板為軟硬結(jié)合板,對應(yīng)于托架本體的上部開有用于承載第一硬板的第一型腔,其下部開有用于承載第二硬板的第二型腔,且托架本體上位于第一型腔與第二型腔之間開有用于承載軟板的軟板型腔。優(yōu)選的,所述PCB板為“T”型板。優(yōu)選的,所述托架本體由合成石材料制成,環(huán)保、使用壽命長。優(yōu)選的,所述托架本體為黑色,有利于攝像頭掃描。優(yōu)選的,所述托架本體上開有減輕孔,減輕重量,降低成本。優(yōu)選的,所述托架本體上開有便于取放PCB板的槽口。本技術(shù)的有益效果為,所述自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架通過采用托架本體來承載PCB板,不僅在裝夾后不會(huì)遮擋掉PCB板上的器件,提高了檢測覆蓋率;而且在裝夾定位PCB板時(shí)具有較大的裝夾空間,不易對PCB板上的器件造成損傷。【專利附圖】【附圖說明】圖1為本技術(shù)一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中:1、托架本體;2、第一型腔;3、第二型腔;4、軟板型腔;5、通孔;6、槽口。【具體實(shí)施方式】下面結(jié)合附圖并通過【具體實(shí)施方式】來進(jìn)一步說明本技術(shù)的技術(shù)方案。請參照圖1所示,圖1為本技術(shù)一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架的結(jié)構(gòu)示意圖。于本實(shí)施例中,一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架包括由合成石制成的黑色的托架本體1,所述PCB板為軟硬結(jié)合板,對應(yīng)于所述托架本體I的上部開有用于承載第一硬板的第一型腔2,其下部開有用于承載第二硬板的第二型腔3,且托架本體I上位于第一型腔2與第二型腔3之間開有用于承載軟板的軟板型腔4,所述第一型腔2、第二型腔3內(nèi)均開有便于掃描的通孔5,所述通孔5為長條形結(jié)構(gòu),所述托架本體I上位于第一型腔2的上部及位于第二型腔3的下部均開有便于取放軟硬結(jié)合板的槽口 6。所述的托架本體I上還可以開設(shè)減輕孔,用于減輕重量,降低成本。使用時(shí),將軟硬結(jié)合板的第一硬板對應(yīng)第一型腔2、第二硬板對應(yīng)第二型腔3、軟板對應(yīng)軟板型腔4,然后將軟硬結(jié)合板置于托架本體I上,通過自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)上的夾具夾住托架本體I的兩端,從而實(shí)現(xiàn)對軟硬結(jié)合板的定位,待自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)檢測完畢時(shí),通過上下兩端的槽口 6,可方便取出軟硬結(jié)合板,操作方便、簡單,對于邊緣5_內(nèi)有器件的軟硬結(jié)合板,也能采用此種方式定位,不會(huì)影響檢測覆蓋率,結(jié)構(gòu)簡單、易于實(shí)現(xiàn)。當(dāng)然,所述PCB板也可為“T”型板,只需對應(yīng)托架本體I上開設(shè)配合PCB板形狀的“T”型腔即可。以上實(shí)施例只是闡述了本技術(shù)的基本原理和特性,本技術(shù)不受上述實(shí)施例限制,在不脫離本技術(shù)精神和范圍的前提下,本技術(shù)還有各種變化和改變,這些變化和改變都落入要求保護(hù)的本技術(shù)范圍內(nèi)。本技術(shù)要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。【權(quán)利要求】1.一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,包括托架本體,其特征在于:所述托架本體上配合PCB板形狀開設(shè)有用于承載PCB板的型腔,所述型腔內(nèi)開設(shè)有便于掃描的通孔。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,其特征在于:所述PCB板為軟硬結(jié)合板,對應(yīng)于托架本體的上部開有用于承載第一硬板的第一型腔,其下部開有用于承載第二硬板的第二型腔,且托架本體上位于第一型腔與第二型腔之間開有用于承載軟板的軟板型腔。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,其特征在于:所述PCB板為“T”型板。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,其特征在于:所述托架本體由合成石材料制成。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,其特征在于:所述托架本體為黑色。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,其特征在于:所述托架本體上開有減輕孔。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,其特征在于:所述托架本體上開有便于取放PCB板的槽口。【文檔編號】G01N21/956GK203616265SQ201320798029【公開日】2014年5月28日 申請日期:2013年12月5日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月5日 【專利技術(shù)者】應(yīng)朝暉, 潘一峰, 林利劍, 胡雨佳, 付建, 徐楊 申請人:無錫市同步電子制造有限公司本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種自動(dòng)光學(xué)檢測機(jī)用PCB板托架,包括托架本體,其特征在于:所述托架本體上配合PCB板形狀開設(shè)有用于承載PCB板的型腔,所述型腔內(nèi)開設(shè)有便于掃描的通孔。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:應(yīng)朝暉,潘一峰,林利劍,胡雨佳,付建,徐楊,
申請(專利權(quán))人:無錫市同步電子制造有限公司,
類型:實(shí)用新型
國別省市:
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