【技術實現步驟摘要】
封裝結構及其組裝方法
本專利技術涉及封裝結構。更具體地,本專利技術涉及在第一和第二芯片的各自的有源表面之間以及在第一和第二芯片中的至少一個和公共芯片之間具有直接電連接的封裝結構。
技術介紹
隨著互補金屬氧化物半導體(CMOS)器件尺寸的縮小,芯片封裝方法被研究以提高系統性能。在一些情況中,芯片疊層包括并行安排的多個芯片以形成模塊,模塊一側設置公共芯片。然后沿著塊與公共芯片相對的一側將該塊連接到線路板。在包括公共芯片和以并排配置設置的多個芯片的芯片疊層中,大量的硅被封裝并互連。然而,穿過公共(即,頂)芯片的互連受拐角交叉(cornercrossing)密度的限制。另外,因為功率傳輸的方向沿著多個芯片中的每個的垂直長度垂直取向,所以到公共芯片的功率輸送也具有挑戰。
技術實現思路
根據本專利技術的一個實施例,提供了一種封裝結構,并且該封裝結構包括第一和第二芯片,第一和第二芯片中的每一個的至少一個表面是有源表面;以及公共芯片,第一和第二芯片中的至少一個被電互連到所述公共芯片。所述第一和第二芯片的各自的有源表面以面對面設置中彼此直接電互連并且相對于所述公共芯片橫向取向。根據另一個實施例,提供了一種封裝結構,并且該封裝包括第一和第二芯片,第一和第二芯片中的每一個都包括具有兩個相對表面和在兩個相對表面之間延伸的四個側壁的體,第一和第二芯片中的每一個的兩個相對表面中的至少一個是有源表面;以及公共芯片,第一和第二芯片的各自的側壁中的至少一個被電互連到所述公共芯片。所述第一和第二芯片的各自的有源表面以面對面設置彼此直接電互連并且相對于所述公共芯片橫向取向。根據另一個實施例,提供了 ...
【技術保護點】
一種封裝結構,包括:第一和第二芯片;所述第一和第二芯片中的每一個的至少一個表面是有源表面;以及公共芯片,所述第一和第二芯片中的至少一個被電互連到所述公共芯片;所述第一和第二芯片的各自的有源表面以面對面設置彼此直接電互連并且相對于所述公共芯片橫向取向。
【技術特征摘要】
2012.12.20 US 13/721,991;2013.08.15 US 13/968,0991.一種封裝結構,包括:第一和第二芯片,其中所述第一和第二芯片在至少一個尺度上相對彼此旋轉90度;所述第一和第二芯片中的每一個的至少一個表面是有源表面;以及公共芯片,所述第一和第二芯片中的至少一個被電互連到所述公共芯片;所述第一和第二芯片的各自的有源表面以面對面設置彼此直接電互連并且相對于所述公共芯片橫向取向。2.根據權利要求1的封裝結構,其中在所述第一和第二芯片中的一個中的彎曲被所述第一和第二芯片中的另一個中的彎曲抵償。3.根據權利要求1的封裝結構,其中所述第一和第二芯片中的至少一個包括電壓或者功率轉換器件、控制器件和存儲器器件中的至少一種。4.根據權利要求1的封裝結構,還包括在所述第一和第二芯片之間設置的微凸起或微連接中的至少一種,所述各自的有源表面通過所述微凸起或微連接直接電互連。5.根據權利要求1的封裝結構,其中所述第一和第二芯片中的一個在至少一個尺度上小于所述第一和第二芯片中的另一個。6.根據權利要求1的封裝結構,還包括載體芯片,所述第一和第二芯片電互連到所述載體芯片。7.根據權利要求1的封裝結構,其中所述第一和第二芯片每一個在數量上是復數并且被以沿所述公共芯片的長度設置的芯片組的形式提供。8.根據權利要求7的封裝結構,其中所述芯片組中的一個或多個包括附加的芯片。9.根據權利要求6的封裝結構,其中鄰近芯片組通過搭接電互連。10.一種封裝結構,包括:第一和第二芯片,所述第一和第二芯片中的每一個都包括具有兩個相對表面和在所述兩個相對表面之間延伸的四個側壁的體,其中所述第一和第二芯片在至少一個尺度上相對彼此旋轉90度;所述第一和第二芯片中的每一個的所述兩個相對表面中的至少一個是有源表面;以及公共芯片,所述第一和第二芯片的各自的側壁中的至少一個被電互連到所述公共芯片;所述第一和第二芯片的所述各自的有源表面以面對面設置彼此直接電互連并且相對于所述公共芯片橫向取向。11.根據權利要求10的封裝結構,其中在所述第一和第二芯片中的一個中的彎曲被所述第一和第二芯片中的另一個中的彎曲抵償。12.根據權利要求10的封裝結構,其中所述第一和第二芯片中的至少一個包括電壓或者功率轉換器件、控制器件和存儲器器件中的至少一種。13.根據權利要求10的封裝結構,還包括在所述第一和第二芯片之間設置的微凸起或者微連接中的至少一種,所述各自的有源表面通過所述微凸起或微連接直接電互連。14.根據權利要求10的封裝結構,其中所述第一和第二芯片中的一個在至少一個尺度上小于所述第一和第二芯片中的另一個。15.根據權利要求10...
【專利技術屬性】
技術研發人員:E·G·科爾根,P·W·科特烏斯,R·L·威斯涅夫,
申請(專利權)人:國際商業機器公司,
類型:發明
國別省市:美國;US
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