基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置及方法制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置及方法，基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置包括超短脈沖光源、光學衰減片、細絲、非線性介質、精密探測器。與傳統方法相比，本裝置光路簡單，能夠在高激光功率、較大厚度介質、單次掃描的情況下進行實時同步測量，且測量精度高。

【技術實現步驟摘要】
基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置及方法
本專利技術涉及非線性光學領域，具體是一種基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置及方法。
技術介紹
由于非線性光學材料在光通信及光信息處理等領域具有巨大的應用前景，人們對非線性光學材料的研究日益廣泛。光學非線性測量技術是研究非線性光學材料的關鍵技術之一，目前常用的非線性系數測量方法包括Z掃描技術、四波混頻法、4f系統相干成像技術、橢圓偏振法等。Z掃描技術由于裝置簡單，靈敏度高等優點，成為了目前最常用的測量材料非線性的方法。但是該方法需要樣品在激光傳輸方向多次移動，容易對薄膜及易損傷材料造成破壞而且該方法不能測量較大厚度時的非線性介質。4f系統相干成像技術由于局限性大，準確度不高，限制了其廣泛運用。目前的測量方法都是先測量材料在某一激光特征參數下的非線性系數，再利用測量得到的參數開展研究，不能在所需要的特定激光特性下進行實時同步測量。本專利技術提出了一種基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置，本裝置光路簡單，能夠在高激光功率、較大厚度介質、單次掃描的情況下進行實時同步測量，且測量精度高。
技術實現思路
本專利技術所要解決的技術問題是，針對現有技術不足，提供一種基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置，能夠在高激光功率、較大厚度介質、單次掃描的情況下進行實時同步測量，且測量精度高。本專利技術所采用的技術方案是：一種基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置，包括超短脈沖光源、光學衰減片、細絲、非線性介質、精密探測器。其特征在于，超短脈沖光源產生的超短脈沖依次經過第一光學衰減片、細絲、非線性介質、第二光學衰減片到達精密探測器。所述超短脈沖光源采用鈦寶石再生放大激光器。所述光學衰減片為可調節金屬膜中性密度漸變濾光片。所述細絲為直徑大小為0.1mm的光纖。所述精密探測器為CCDCamera。基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置的非線性系數的測量方法的具體步驟為：1)調整細絲的位置，使細絲位于光束的中心，記錄此時超短脈沖光源的平均功率值及精密探測器中的光斑圖；2)逐漸增大超短脈沖光源的輸出功率直至光束出現明顯的小尺度自聚焦增長，記錄此時的平均功率值及精密探測器中的光斑圖，計算出此時光束小尺度自聚焦最大增長位置處調制增長的增益值，從而計算得到待測的非線性介質的非線性系數；3)為了提高測量精度，繼續增大超短脈沖光源的輸出功率，記錄五個不同功率值下的精密探測器中的光斑圖；計算出此時不同功率值下小尺度自聚焦最大增長位置處調制增長的增益值，然后繪出增益關于平均功率變化的曲線，線性擬合后得到的直線的斜率值的0.5倍即為待測的非線性介質的非線性系數。本專利技術的工作原理是：鈦寶石再生放大激光器發出的飛秒脈沖，經過細絲調制后在非線性介質中傳輸時，隨著輸入功率的增大將發生小尺度自聚焦。光束的不同空間位置將出現不同程度的增長，在最快增長頻率處(即小尺度自聚焦最大增長位置)調制增長將出現最大增益，其值如(1)所示：gmax＝2γP(1)其中，γ為介質的非線性系數，為此時飛秒光束的峰值功率，Pping為飛秒光束的平均功率，K為飛秒脈沖的重復率，T為飛秒脈沖的脈寬。只要測量出某一平均功率值下的飛秒光束調制增長的光斑圖，計算出此時飛秒光束中小尺度自聚焦最大增長位置的調制增長的增益值即可通過(1)得到該介質的非線性系數，因此該專利技術能在單次掃描的情況下測量出待測介質的非線性系數。為了提高測量的精度，需記錄不同功率下的飛秒光束調制增長的光斑圖，計算出不同功率下的飛秒光束中小尺度自聚焦最大增長位置的調制增長的增益值，然后繪出增益關于功率變化的曲線，線性擬合后得到的直線的斜率的1/2即為待測介質的非線性系數。且記錄不同功率下的光斑圖越多，最后計算得到的非線性系數值越精確。非線性折射率和非線性系數的關系如(2)所示：其中，c為光速，Aeff為激光光斑的有效面積，ω0為激光頻率。得到介質的非線性系數后，測量出光斑的有效面積及激光頻率就能通過(2)式可以得到介質的非線性折射率。附圖說明圖1為基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置的結構示意圖；其中：1：超短脈沖光源；2a-2b：光學衰減片；3細絲；4：非線性介質；5：精密探測器。具體實施方式下面結合具體實施例和附圖，對本專利技術做具體說明。如圖1所示，本實施例的基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置，包括超短脈沖光源1、光學衰減片2a-2b、細絲3、非線性介質4、精密探測器5。上述各部分的功能分別說明如下：超短脈沖光源1，用來產生飛秒脈沖，通過測量不同功率下的調制光束非線性增長的增益來計算介質的非線性系數；光學衰減片2a，用于調節入射到非線性介質中的超短脈沖的功率；光學衰減片2b，用于調節入射到精密探測器CCD中的功率，避免因功率過大損壞CCD；細絲3，用來給飛秒光束提供一個初始調制噪聲；非線性介質4，用作待測介質；精密探測器5，用于記錄不同功率下飛秒光束小尺度自聚焦增長時的光斑圖，本實施例選用CCDCamera(Coherent公司的LaserCam-HRTMBeamview，其點陣為1280×1024，分辨率約為6.7μm×6.7μm)；本專利技術所采用的基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置的工作過程如下：超短脈沖光源1為Coherent公司生產的商用鈦寶石再生放大激光系統(型號為LibraS)，輸出的最短脈沖寬度約100fs，帶寬約為12nm，重復頻率為1kHz，中心波長為800nm，用來產生飛秒脈沖。首先調節細絲的位置，使細絲位于光束的中心，記錄此時飛秒光束入射的平均功率值及精密探測器中的光斑圖；當飛秒脈沖經過細絲調制后，在非線性介質中傳輸時，調節光學衰減片2a使入射到非線性介質中的超短脈沖的功率逐漸增大，隨著功率的增大，調制后的飛秒光束將發生小尺度自聚焦，記錄此時飛秒光束的入射功率以及精密探測器中的光斑圖，計算得到該待測介質的非線性系數，此為單次掃描情況下的測量；為了提高測量精度，繼續增大功率，記錄五個不同入射功率值下的精密探測器中的光斑圖，同時計算出不同功率下的飛秒光束中小尺度自聚焦最大增長位置處調制增長的增益值，然后繪出增益關于功率變化的曲線，線性擬合后得到的直線的斜率的1/2即為待測介質的非線性系數。本專利技術提出了一種基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置及方法，與傳統方法相比，本裝置光路簡單，能夠在高激光功率、較大厚度介質、單次掃描的情況下進行實時同步測量，且測量精度高。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量裝置，包括超短脈沖光源、光學衰減片、細絲、非線性介質、精密探測器。其特征在于，超短脈沖光源產生的超短脈沖依次經過第一光學衰減片、細絲、非線性介質、第二光學衰減片到達精密探測器。

【技術特征摘要】
1.一種基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量方法，其特征在于，一種用于所述基于噪聲小尺度自聚焦增長的非線性系數測量方法的裝置，包括超短脈沖光源、光學衰減片、細絲、非線性介質、精密探測器，超短脈沖光源產生的超短脈沖依次經過第一光學衰減片、細絲、非線性介質、第二光學衰減片到達精密探測器；和/或，所述超短脈沖光源采用鈦寶石再生放大激光器；和/或，所述光學衰減片為可調節金屬膜中性密度漸變濾光片；和/或，所述細絲為直徑大小為0.1mm的光纖；和/或，所述精密探測器為CCDCamera；該方法的具體步驟為：1)調整細絲的位置，使細絲位于光束的中心，記錄此時超短脈沖光源的平均功率值及精密探測器中的光斑圖；2)逐漸增大超短脈沖光源的輸出功率直至光束出現明顯的小尺度自聚焦增長，記錄此時的平均功率值及精密探測器中的光斑圖，計算出此時光束小尺度自聚焦最大增長位置處調制增長的增益值，其值如(1)所示：gmax＝2γP(1)其中，γ為介質的非線性系數，為此時飛秒光束的...

【專利技術屬性】
技術研發人員：傅喜泉，譚超，
申請(專利權)人：湖南大學，
類型：發明
國別省市：湖南;43