低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專(zhuān)利技術(shù)涉及一種低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置，該裝置包括中央處理單元和與該中央處理單元相連的三相交流信號(hào)源單元及與該三相交流信號(hào)源單元相配合的諧波產(chǎn)生疊加單元，其中，該三相交流信號(hào)源單元用以產(chǎn)生具有設(shè)定頻率和設(shè)定相位的大功率的三相電壓和三相電流，該諧波產(chǎn)生疊加單元產(chǎn)生諧波信號(hào)并將該諧波信號(hào)疊加至該三相電壓和/或三相電流上，以提供用于測(cè)試的模擬電網(wǎng)。本發(fā)明專(zhuān)利技術(shù)可以大大提高檢測(cè)效率。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置
本專(zhuān)利技術(shù)涉及配電自動(dòng)化終端，特別是與低壓成套設(shè)備有關(guān)。
技術(shù)介紹
能源的高效利用一直是國(guó)家極力倡導(dǎo)的，然而在實(shí)際的用電過(guò)程中，由于用電器的不 斷更新，給電網(wǎng)帶來(lái)一些污染。產(chǎn)生了相當(dāng)大的無(wú)功功率，使得原本清潔的電能不能高效的 得以應(yīng)用。隨著農(nóng)網(wǎng)改造不斷的深入發(fā)展，無(wú)功補(bǔ)償系統(tǒng)在低壓配電柜中得到廣泛應(yīng)用。目 前主流的配電變壓器綜合配電柜，簡(jiǎn)稱(chēng)JP柜，大都以電容器動(dòng)態(tài)切入，從而實(shí)現(xiàn)降低無(wú)功 功率提高功率因數(shù)的效果。通常情況下，低壓成套設(shè)備在檢測(cè)時(shí)需上電加入額定電壓額定 電流，并需要模擬各種功率因數(shù)條件下電網(wǎng)實(shí)際環(huán)境，考察JP柜能否實(shí)時(shí)切入補(bǔ)償電容， 并實(shí)時(shí)考察補(bǔ)償?shù)男Ч煌瑫r(shí)，還要考察能否實(shí)時(shí)切除電容。則更是需要功能全面容量足夠 大且能移相的模擬電源。目前我國(guó)從事JP柜和低壓成套開(kāi)關(guān)設(shè)備的生產(chǎn)廠(chǎng)家很多，這些生 產(chǎn)廠(chǎng)家在生產(chǎn)過(guò)程中，缺乏專(zhuān)業(yè)的綜合性能強(qiáng)的程控自動(dòng)的檢測(cè)設(shè)備。只能借助于通用檢 測(cè)設(shè)備對(duì)設(shè)備分模塊進(jìn)行檢測(cè)。這樣費(fèi)工費(fèi)時(shí)且測(cè)試范圍有限。頻繁跟換檢測(cè)設(shè)備也使得 檢測(cè)效率低下。同時(shí)也給供電系統(tǒng)設(shè)備驗(yàn)收帶來(lái)不便。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專(zhuān)利技術(shù)要解決的技術(shù)問(wèn)題在于為了避免現(xiàn)有技術(shù)中的借助于通用檢測(cè)設(shè)備對(duì)低 壓成套設(shè)備分模塊進(jìn)行檢測(cè)而導(dǎo)致的費(fèi)工費(fèi)時(shí)、測(cè)試范圍有限、檢測(cè)效率低下以及供電系 統(tǒng)設(shè)備驗(yàn)收不便等不足之處，而提出一種低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置。 針對(duì)上述要解決的技術(shù)問(wèn)題，本專(zhuān)利技術(shù)的技術(shù)方案如下： 提出一種低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置，該裝置包括中央處理單元、與該中央處理單元 相連的數(shù)據(jù)采集單元和三相交流信號(hào)源單元，以及與該三相交流信號(hào)源單元相配合的諧波 產(chǎn)生疊加單元，其中，所述中央處理單元用于處理所述數(shù)據(jù)采集單元、三相交流信號(hào)源單 元、諧波產(chǎn)生疊加單元發(fā)來(lái)的信息，并控制所述數(shù)據(jù)采集單元、三相交流信號(hào)源單元和諧波 產(chǎn)生疊加單元的處理；所述數(shù)據(jù)采集單元用以采集被檢低壓成套設(shè)備的模擬量，所述三相 交流信號(hào)源單元用以產(chǎn)生具有設(shè)定頻率和設(shè)定相位的三相電壓和三相電流，所述諧波產(chǎn)生 疊加單元產(chǎn)生諧波信號(hào)并將該諧波信號(hào)疊加至該三相電壓和/或三相電流上，為模擬電網(wǎng) 提供諧波信號(hào)。 進(jìn)一步地，所述數(shù)據(jù)采集單元包括電流電壓互感器、阻容元件和A/D轉(zhuǎn)換電路，所 述A/D轉(zhuǎn)換電路將所述電流電壓互感器、阻容元件的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)發(fā)送至所述 中央處理單元。 進(jìn)一步地，該裝置還包括與該中央處理單元相連的開(kāi)關(guān)量輸入單元，其中，該開(kāi)關(guān) 量輸入單元用以采集被檢低壓成套設(shè)備的開(kāi)關(guān)量。 進(jìn)一步地，該裝置還包括與該中央處理單元相連的電容測(cè)試單元，用以對(duì)被檢低 壓成套設(shè)備的電容進(jìn)行檢測(cè)。 進(jìn)一步地，該裝置還包括與該中央處理單元相連的電阻測(cè)試單元，用以對(duì)被檢低 壓成套設(shè)備的接地電阻進(jìn)行檢測(cè)。 進(jìn)一步地，該裝置還包括與該中央處理單元相連的耐壓測(cè)試單元，用以對(duì)被檢低 壓成套設(shè)備的耐壓性能進(jìn)行檢測(cè)，利用升壓器在中央處理單元的控制下實(shí)現(xiàn)程控耐壓測(cè) 試。 進(jìn)一步地，該裝置還包括與該中央處理單元相連的通訊單元，用于被檢設(shè)備的通 訊。 進(jìn)一步地，該裝置還包括與該中央處理單元相連的觸摸顯示單元，用于提供人機(jī) 接口。 進(jìn)一步地，所述三相交流信號(hào)源單元包括波形發(fā)生電路、前置放大電路、IGBT驅(qū)動(dòng) 電路和IGBT功放電路，其中，所述波形發(fā)生電路產(chǎn)生三相電流和三相電壓波形信號(hào)，經(jīng)由 前置放大電路，再由中央處理單元的PWM輸出端所輸出的PWM波形信號(hào)來(lái)控制所述IGBT驅(qū) 動(dòng)電路對(duì)信號(hào)進(jìn)行隔離放大，并推動(dòng)所述IGBT功放電路輸出六路電流電壓信號(hào)。 進(jìn)一步地，所述中央處理單元包括ARM主芯片和與該ARM主芯片相配合的DSP芯 片，其中，所述三相交流信號(hào)源單元的波形發(fā)生電路和IGBT驅(qū)動(dòng)電路均受控于該DSP芯片。 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本專(zhuān)利技術(shù)低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置，具有以下技術(shù)效果： 通過(guò)將數(shù)據(jù)采集單元、三相交流信號(hào)源單元、諧波產(chǎn)生疊加單元與中央處理單元集成 到一起，可以產(chǎn)生疊加有諧波的不同相位、不同頻率的正弦交流波形的模擬電網(wǎng)信號(hào)，從而 可以對(duì)低壓成套設(shè)備實(shí)現(xiàn)全程控一次性檢測(cè)，改變了成套設(shè)備在生產(chǎn)過(guò)程中使用通用檢測(cè) 儀器對(duì)設(shè)備進(jìn)行分步分塊檢測(cè)的方法，大大提高了檢測(cè)效率。 另外，通過(guò)將開(kāi)關(guān)量輸入單元、電容測(cè)試單元、電阻測(cè)試單元、耐壓測(cè)試單元、通訊 單元以及觸摸顯示單元等也集成為一體，使得本專(zhuān)利技術(shù)裝置體積相對(duì)較小，方便電力系統(tǒng)檢 測(cè)人員攜帶，有利于實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。 【附圖說(shuō)明】 圖1是本專(zhuān)利技術(shù)的低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意。 其中，附圖標(biāo)記說(shuō)明如下：1.中央處理單元，2.三相交流信號(hào)源單元，3.諧波 產(chǎn)生疊加單元，4.數(shù)據(jù)采集單元，5.開(kāi)關(guān)量輸入單元，6.電容測(cè)試單元，7.電阻測(cè)試單元， 8.耐壓測(cè)試單元，9.通訊單元10.觸摸顯示單元，21.波形發(fā)生電路，22.前置放大電路， 23. IGBT驅(qū)動(dòng)電路，24. IGBT功放電路。 【具體實(shí)施方式】 為了詳細(xì)說(shuō)明本專(zhuān)利技術(shù)的構(gòu)造及特點(diǎn)所在，茲舉以下較佳實(shí)施例并配合【附圖說(shuō)明】如 下。 參見(jiàn)圖1，圖1是本專(zhuān)利技術(shù)的低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意。本專(zhuān)利技術(shù) 的低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置包括但不限于中央處理單元1、三相交流信號(hào)源單元2、諧波 產(chǎn)生疊加單元3、數(shù)據(jù)采集單元4、開(kāi)關(guān)量輸入單元5、電容測(cè)試單元6、電阻測(cè)試單元7、耐壓 測(cè)試單元8、通訊單元9以及觸摸顯示單元10。 -些實(shí)施例中，中央處理單元1主要由型號(hào)為i.MX6DQIE的ARM芯片、型號(hào)為 BF518的DSP芯片、Flash芯片、SDRAM芯片以及鐵電存儲(chǔ)芯片組成。 其中，中央處理單元1構(gòu)成低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置的核心處理單元，處理其 他各相關(guān)單元發(fā)來(lái)的測(cè)量信息，并控制相關(guān)單元作出相應(yīng)的處理。一些實(shí)施例中，型號(hào)為 i. MX6DQIE的ARM芯片運(yùn)行LINUX系統(tǒng)，同時(shí)管理Flash芯片、SDRAM芯片以及鐵電存儲(chǔ)芯 片的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、通訊單元9以及觸摸顯示單元10。而型號(hào)為BF518的DSP芯片負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)采 集、測(cè)試、實(shí)時(shí)控制處理各相關(guān)單元2、3、4、5、6、7、8。 -些實(shí)施例中，三相交流信號(hào)源單元2主要由波形發(fā)生電路21、前置放大電路22、 IGBT驅(qū)動(dòng)電路23和IGBT功放電路24組成。優(yōu)選地，波形發(fā)生電路21采用AD5669R芯片， 前置放大電路22采用三級(jí)0P07運(yùn)放芯片。 其中，該三相交流信號(hào)源單元2在型號(hào)為BF518的DSP芯片的控制下，通過(guò) AD5669R芯片產(chǎn)生三相電流和三相電壓波形信號(hào)，經(jīng)由0P07運(yùn)放芯片構(gòu)成的前置放大電路 22,再由中央處理單元中型號(hào)為BF518的DSP芯片的PWM輸出端所輸出的PWM波形信號(hào)來(lái) 控制IGBT驅(qū)動(dòng)電路23對(duì)信號(hào)進(jìn)行隔離放大，并推動(dòng)IGBT功放電路24輸出六路的大功率 的電流電壓信號(hào)。其中，三路為三相交流電壓源，另三路為三相交流電流源。 -些實(shí)施例中，IGBT功放電路24可采用SKiM406⑶066HD，從而使得放大輸出的每 路功率可達(dá)450VX 300A。另外，在型號(hào)為BF518的DSP芯片的控制下可使電流電壓源產(chǎn)生 不同相位、不同頻率的正弦交流波形信號(hào)，供檢測(cè)時(shí)使本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置，其特征在于，該裝置包括中央處理單元、與該中央處理單元相連的數(shù)據(jù)采集單元和三相交流信號(hào)源單元，以及與該三相交流信號(hào)源單元相配合的諧波產(chǎn)生疊加單元，其中，所述中央處理單元用于處理所述數(shù)據(jù)采集單元、三相交流信號(hào)源單元、諧波產(chǎn)生疊加單元發(fā)來(lái)的信息，并控制所述數(shù)據(jù)采集單元、三相交流信號(hào)源單元和諧波產(chǎn)生疊加單元的處理；所述數(shù)據(jù)采集單元用以采集被檢低壓成套設(shè)備的模擬量，所述三相交流信號(hào)源單元用以產(chǎn)生具有設(shè)定頻率和設(shè)定相位的三相電壓和三相電流，所述諧波產(chǎn)生疊加單元產(chǎn)生諧波信號(hào)并將該諧波信號(hào)疊加至該三相電壓和/或三相電流上，為模擬電網(wǎng)提供諧波信號(hào)。

【技術(shù)特征摘要】
1. 一種低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置，其特征在于，該裝置包括中央處理單元、與該中央 處理單元相連的數(shù)據(jù)采集單元和三相交流信號(hào)源單元，以及與該三相交流信號(hào)源單元相配 合的諧波產(chǎn)生疊加單元，其中， 所述中央處理單元用于處理所述數(shù)據(jù)采集單元、三相交流信號(hào)源單元、諧波產(chǎn)生疊加 單元發(fā)來(lái)的信息，并控制所述數(shù)據(jù)采集單元、三相交流信號(hào)源單元和諧波產(chǎn)生疊加單元的 處理； 所述數(shù)據(jù)采集單元用以采集被檢低壓成套設(shè)備的模擬量，所述三相交流信號(hào)源單元用 以產(chǎn)生具有設(shè)定頻率和設(shè)定相位的三相電壓和三相電流，所述諧波產(chǎn)生疊加單元產(chǎn)生諧波 信號(hào)并將該諧波信號(hào)疊加至該三相電壓和/或三相電流上，為模擬電網(wǎng)提供諧波信號(hào)。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置，其特征在于：所述數(shù)據(jù)采集單 元包括電流電壓互感器、阻容元件和A/D轉(zhuǎn)換電路，所述A/D轉(zhuǎn)換電路將所述電流電壓互感 器、阻容元件的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)發(fā)送至所述中央處理單元。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置，其特征在于：該裝置還包括與 該中央處理單元相連的開(kāi)關(guān)量輸入單元，其中，該開(kāi)關(guān)量輸入單元用以采集被檢低壓成套 設(shè)備的開(kāi)關(guān)量。4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試裝置，其特征在于：該裝置還包括與 該中央處理單元相連的電容測(cè)試單元，用以對(duì)被檢低壓成套設(shè)備的電容進(jìn)行檢測(cè)。5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的低壓成套設(shè)備綜合測(cè)試...

【專(zhuān)利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：喻永貴，
申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人：航天科工深圳集團(tuán)有限公司，
類(lèi)型：發(fā)明
國(guó)別省市：廣東;44