本發明專利技術涉及一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，包括一個氣體采集組件、與氣體采集組件連接的輔助流量監測組件、與氣體采集組件連接的一級振蕩天平監測組件、以及與氣體采集組件連接的二級振蕩天平監測組件；所述的氣體采集組件包括一級細粒子分流單元和二級細粒子分流單元；所述一級振蕩天平監測組件與一級細粒子分流單元連接；所述二級振蕩天平監測組件與二級細粒子分流單元連接，所述的一級振蕩天平監測組件和二級振蕩天平監測組件同時連接振蕩天平檢測儀。本發明專利技術能很好地解決濕度的影響，通過分時差分，又能測量揮發性顆粒與半揮發性顆粒物的濃度，并得到不受濕度、揮發性與半揮發性顆粒物的影響濃度值。
【技術實現步驟摘要】
【專利摘要】本專利技術涉及一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，包括一個氣體采集組件、與氣體采集組件連接的輔助流量監測組件、與氣體采集組件連接的一級振蕩天平監測組件、以及與氣體采集組件連接的二級振蕩天平監測組件；所述的氣體采集組件包括一級細粒子分流單元和二級細粒子分流單元；所述一級振蕩天平監測組件與一級細粒子分流單元連接；所述二級振蕩天平監測組件與二級細粒子分流單元連接，所述的一級振蕩天平監測組件和二級振蕩天平監測組件同時連接振蕩天平檢測儀。本專利技術能很好地解決濕度的影響，通過分時差分，又能測量揮發性顆粒與半揮發性顆粒物的濃度，并得到不受濕度、揮發性與半揮發性顆粒物的影響濃度值。【專利說明】一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀
本專利技術涉及一種細粒子連續監測儀，尤其是涉及一種基于振蕩天平的細粒子連續 監測儀。
技術介紹
目前基于微量振蕩天平法的大氣顆粒物監測儀極容易受到揮發性物質和半揮發 性物質的影響，致使測量濃度嚴重偏低、出負值或PM10小于PM2. 5的現象。 Thermo Scientific 公司的 FDMSFilter Dynamics Measurement System 方案能較 好地減小揮發性物質和半揮發性物質的影響；北京大學的獲得專利技術專利的氣溶膠除濕系統 ADS和武漢天虹儀表有限公司的雙通道差分式振蕩天平法在這方面也能有較好的效果。 目前，微量振蕩天平法監測儀的質量檢測室要求恒溫環境，處于其中的顆粒采集 濾膜的增重受采樣氣流的濕度、揮發性與半揮發性顆粒物的影響，并不能直接反映出進入 濾膜的顆粒物質量增重。 目前的手工比對主要還是利用單臺采樣器放置在自動監測儀旁邊，同時采樣比對 結果，而不是同源采樣，因此比對結果會有一定的誤差。
技術實現思路
本專利技術主要是解決現有技術所存在的技術問題；提供了一種能很好地解決濕度的 影響，通過分時差分，又能測量揮發性顆粒與半揮發性顆粒物的濃度，并得到不受濕度、揮 發性與半揮發性顆粒物的影響濃度值。同時還可以進行同源采樣，快速地將手工稱重與本 監測儀的數據進行比對，或者對本監測進行濃度系統校正的一種基于振蕩天平的細粒子 連續監測儀。 本專利技術的上述技術問題主要是通過下述技術方案得以解決的： -種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，其特征在于，包括一個氣體采集組件、與 氣體采集組件連接的輔助流量監測組件、與氣體采集組件連接的一級振蕩天平監測組件、 以及與氣體采集組件連接的二級振蕩天平監測組件；所述的氣體采集組件包括一級細粒 子分流單元和二級細粒子分流單元；所述一級振蕩天平監測組件與一級細粒子分流單元連 接；所述二級振蕩天平監測組件與二級細粒子分流單元連接，所述的一級振蕩天平監測組 件和二級振蕩天平監測組件同時連接振蕩天平檢測儀。 所述一級細粒子分流單元包括一個PM10切割器以及與PM10切割器連接的一級分 流器；所述一級分流器的分流管出口端與一級振蕩天平監測組件連接，一級分流器的輔流 量出口端與二級細粒子分流單元連接。 所述二級細粒子分流單元包括一個PM2. 5切割器以及與PM2. 5切割器連接的二級 分流器；所述二級分流器的分流管出口端與二級振蕩天平監測組件連接，二級分流器的輔 流量出口端與輔助流量監測組件連接。 所述一級振蕩天平監測組件包括依次連接在一級分流器的分流管出口端的一級 第一通道主流量干燥器、一級切換閥、一級恒溫管、一級零空氣過濾器、一級質量檢測器、一 級干燥分子篩、一級流量傳感器、一級流量調節閥、一級干燥管的反吹氣路、一級再生分子 篩、一級壓力調節閥。 所述二級振蕩天平監測組件包括依次連接在二級分流器的分流管出口端的二級 第一通道主流量干燥器、二級切換閥、二級恒溫管、二級零空氣過濾器、二級質量檢測器、二 級干燥分子篩、二級流量傳感器、二級流量調節閥、二級干燥管的反吹氣路、二級再生分子 篩、二級壓力調節閥。 在上述的一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，所述輔助流量監測組件包括依 次連接在二級分流器的輔流量出口端的輔助壓差干燥管、第一輔助切換閥、輔助過濾膜組 件、第二輔助切換閥、輔助常溫氣體過濾器、輔助流量負壓傳感器、以及輔助流量比例調節 閥；所述輔助流量比例調節閥經過輔助壓差干燥管后與外界相通。 在上述的一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，干燥器為使用Nafion膜進行干 燥的板式或管式干燥器，并且經干燥器干燥后的氣流露點為_50°C?4°C。該干燥器分內外 兩層，內為采樣氣流通道，外為干燥氣流通道，并且兩路氣流方面相反。 在上述的一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，一級切換閥和二級切換閥均為 三通電動閥，在正常工作狀態下該閥為直通狀態，在測量揮發性顆粒物或校零狀態下為旁 路狀態。該閥在旁路狀態時，采樣氣流在經過干燥器后，再經過該閥進入零空氣過濾器，然 后通過三通回到恒溫管；一級切換閥和二級切換閥由系統程序控制，或用戶設置其切換周 期和方式。 在上述的一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，一級零空氣過濾器和二級零空 氣過濾器對0. lum以上的顆粒物的捕集效率大于99%，填充阻當或吸附半揮發性物質或揮 發性物質的材料，并且工作溫度在-10?50°C的溫度環境。 在上述的一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，一級恒溫管和二級恒溫管均工 作于-10°C?50°C的任一溫度點的恒溫環境，該溫度點由用戶設置，通過PID方式進行控 制。 在上述的一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，一級質量檢測器和二級質量檢 測器均采用微量振蕩天平，工作于〇°C?50°C的任一溫度點的恒溫環境，該恒溫點由用戶 設定。 在上述的一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，一級振蕩天平監測組件和二級 振蕩天平監測組件干燥分子篩與再生分子篩均使用切換閥相互切換工作狀態。 在上述的一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，一級流量傳感器和二級流量 傳感器為質量流量傳感器。 在上述的一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，一級流量調節閥和二級流量調 節閥為電動控制的流量調節閥。 -級壓力調節閥和二級壓力調節閥為電動控制的流量調節閥，并且該閥可以不用 安裝。 所述輔流量通道的輔助壓差干燥管為使用Nafion膜進行干燥的板式或管式干燥 器；該干燥器分內外兩層，內為采樣氣流通道，外為干燥氣流通道，并且兩路氣流方面相反。 輔流量通道的輔助過濾膜組件使用的膜片對0. lum以上的顆粒物的捕集效率大 于99 %，并且工作溫度在-10?50°C的任一溫度點的恒溫環境，該恒溫點由廠家和用戶設 定。該膜可以是單片膜片，使用天平稱重，也可以是紙帶。當使用紙帶時，可與其它物質成 分分析的模塊連接使用，測量顆粒物的成分。 輔流量通道的第一輔助切換閥和第二輔助切換閥為同時動作的兩只閥，用于防止 換膜引起的系統泄漏或其它影響。 因此，本專利技術具有如下優點：能很好地解決濕度的影響，通過分時差分，又能測量 揮發性顆粒與半揮發性顆粒物的濃度，并得到不受濕度、揮發性與半揮發性顆粒物的影響 濃度值。同時還可以進行同源采樣，快速地將手工稱重與本監測儀的數據進行比對，或者 對本監測進行濃度系統校正。 【專利附圖】【附圖說本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種基于振蕩天平的細粒子連續監測儀，其特征在于，包括一個氣體采集組件(1)、與氣體采集組件(1)連接的輔助流量監測組件(2)、與氣體采集組件(1)連接的一級振蕩天平監測組件(3)、以及與氣體采集組件(1)連接的二級振蕩天平監測組件(4)；所述的氣體采集組件(1)包括一級細粒子分流單元和二級細粒子分流單元；所述一級振蕩天平監測組件(3)與一級細粒子分流單元連接；所述二級振蕩天平監測組件(4)與二級細粒子分流單元連接，所述的一級振蕩天平監測組件(3)和二級振蕩天平監測組件(4)同時連接振蕩天平檢測儀；所述一級細粒子分流單元包括一個PM10切割器(5)以及與PM10切割器(5)連接的一級分流器(6)；所述一級分流器(6)的分流管出口端與一級振蕩天平監測組件(3)連接，一級分流器(6)的輔流量出口端與二級細粒子分流單元連接；所述二級細粒子分流單元包括一個PM2.5切割器(8)以及與PM2.5切割器(8)連接的二級分流器(7)；所述二級分流器(7)的分流管出口端與二級振蕩天平監測組件(4)連接，二級分流器(4)的輔流量出口端與輔助流量監測組件(2)連接；所述一級振蕩天平監測組件(3)包括依次連接在一級分流器(6)的分流管出口端的一級第一通道主流量干燥器(9)、一級切換閥(10)、一級恒溫管(11)、一級零空氣過濾器(12)、一級質量檢測器(13)、一級干燥分子篩(14)、一級流量傳感器(15)、一級流量調節閥(16)、一級干燥管的反吹氣路(17)、一級再生分子篩(18)、一級壓力調節閥(19)；所述二級振蕩天平監測組件(4)包括依次連接在二級分流器(7)的分流管出口端的二級第一通道主流量干燥器(20)、二級切換閥(21)、二級恒溫管(22)、二級零空氣過濾器(23)、二級質量檢測器(24)、二級干燥分子篩(25)、二級流量傳感器(26)、二級流量調節閥(27)、二級干燥管的反吹氣路(28)、二級再生分子篩(29)、二級壓力調節閥(30)。...
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：李虹杰，李金平，李愷驊，
申請(專利權)人：武漢市天虹儀表有限責任公司，
類型：發明
國別省市：湖北;42
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