計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)制造技術(shù)

本實(shí)用新型專(zhuān)利技術(shù)提供了一種計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)。所述計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)包括中央處理器和薄膜開(kāi)關(guān)線路板，所述薄膜開(kāi)關(guān)線路板包括多個(gè)行掃描線、多個(gè)列掃描線和薄膜開(kāi)關(guān)矩陣，所述中央處理器包括多個(gè)行檢測(cè)端口和多個(gè)列掃描端口，所述多個(gè)列掃描端口分別連接到所述多個(gè)列掃描線，所述多個(gè)行檢測(cè)端口分別連接到所述多個(gè)行掃描線，并且，每一個(gè)行檢測(cè)端口分別連接有偏置電路，所述偏置電路包括接地的偏置電阻；所述薄膜開(kāi)關(guān)矩陣包括多個(gè)薄膜開(kāi)關(guān)單元，每一個(gè)薄膜開(kāi)關(guān)單元包括薄膜開(kāi)關(guān)和分壓元件，所述薄膜開(kāi)關(guān)和所述分壓元件串聯(lián)在其對(duì)應(yīng)的行掃描線和列掃描線之間。（*該技術(shù)在2024年保護(hù)過(guò)期，可自由使用*）

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
【專(zhuān)利摘要】本技術(shù)提供了一種計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)。所述計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)包括中央處理器和薄膜開(kāi)關(guān)線路板，所述薄膜開(kāi)關(guān)線路板包括多個(gè)行掃描線、多個(gè)列掃描線和薄膜開(kāi)關(guān)矩陣，所述中央處理器包括多個(gè)行檢測(cè)端口和多個(gè)列掃描端口，所述多個(gè)列掃描端口分別連接到所述多個(gè)列掃描線，所述多個(gè)行檢測(cè)端口分別連接到所述多個(gè)行掃描線，并且，每一個(gè)行檢測(cè)端口分別連接有偏置電路，所述偏置電路包括接地的偏置電阻；所述薄膜開(kāi)關(guān)矩陣包括多個(gè)薄膜開(kāi)關(guān)單元，每一個(gè)薄膜開(kāi)關(guān)單元包括薄膜開(kāi)關(guān)和分壓元件，所述薄膜開(kāi)關(guān)和所述分壓元件串聯(lián)在其對(duì)應(yīng)的行掃描線和列掃描線之間。【專(zhuān)利說(shuō)明】
本技術(shù)涉及一種計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)。 計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)
技術(shù)介紹
計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)是應(yīng)用非常廣泛的計(jì)算機(jī)輸入設(shè)備，傳統(tǒng)計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的按鍵呈矩陣排 列，且按鍵通過(guò)開(kāi)關(guān)矩陣與鍵盤(pán)的中央處理器（Central Processing Unit, CPU)電路相連 接。一般而言，傳統(tǒng)的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)在按鍵被按下時(shí)是通過(guò)軟硬件對(duì)鍵盤(pán)的開(kāi)關(guān)矩陣進(jìn)行行 掃描和列掃描來(lái)查找被按下的按鍵并確定按鍵位置的代碼，再由鍵盤(pán)的中央處理器進(jìn)行代 碼轉(zhuǎn)換之后，通過(guò)USB、PS2或者無(wú)線接口等輸入電腦，從而完成有效的輸入。 隨著計(jì)算機(jī)性能不斷提升，計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)需要同時(shí)有效輸入多個(gè)按鍵的要求也越來(lái) 越多。比如，在進(jìn)行計(jì)算機(jī)游戲的時(shí)候，鍵盤(pán)需要同時(shí)按下多個(gè)按鍵以實(shí)現(xiàn)多個(gè)有效的命 令。但是，由于現(xiàn)有的游戲鍵盤(pán)是通過(guò)以上所述的按鍵開(kāi)關(guān)矩陣來(lái)實(shí)現(xiàn)的，因此當(dāng)多個(gè)按鍵 按下的時(shí)候，可能會(huì)產(chǎn)生實(shí)際上沒(méi)有輸入的按鍵信號(hào)被誤認(rèn)為是輸入的情況。 如圖1所示，當(dāng)按鍵VI和K3同時(shí)按下的時(shí)候，在列掃描線Q的掃描過(guò)程中，由 于按鍵&和Κ 3導(dǎo)通，行掃描線&和行掃描線&均與列掃描線Q發(fā)生短路，因此中央處理器 可以檢測(cè)到行掃描線R〇和&電位發(fā)生變化，因而可以判斷出當(dāng)前按鍵&和K 3被按下。而 在列掃描線q的掃描過(guò)程中，首先，由于按鍵&導(dǎo)通，行掃描線&與列掃描線q發(fā)生短路， 因此中央處理器可以檢測(cè)到行掃描線&的電位發(fā)生變化，因而可以判斷出當(dāng)前按鍵I被按 下；與此同時(shí)，由于按鍵Kpl和K 3同時(shí)導(dǎo)通，因此列掃描線Q的掃描信號(hào)將依序經(jīng)過(guò)列掃 描線Q、按鍵&、行掃描線&、按鍵&、列掃描線Q和按鍵K 3傳遞到行掃描線&，此時(shí)中央 處理器同時(shí)可以檢測(cè)到行掃描線&的電位發(fā)生變化，因而會(huì)誤判斷出按鍵K 4也被按下，此 時(shí)按鍵Κ4便是被系統(tǒng)誤輸入的按鍵，也稱(chēng)幽靈鍵。 為解決按鍵誤輸入的問(wèn)題，比較通用的解決方案是在每個(gè)開(kāi)關(guān)的線路上面串聯(lián)二 極管，在多個(gè)開(kāi)關(guān)同時(shí)按下的時(shí)候，利用二極管的單向?qū)щ娦裕乐沽擞捎诙搪吩斐傻恼`輸 入。但是，二極管需要加工焊接在線路板上面，因此制作工藝較為復(fù)雜，加上二極管本身的 價(jià)格，導(dǎo)致了此方案成本過(guò)高。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
為解決上述問(wèn)題，本技術(shù)提供一種計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)。 本技術(shù)提供計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)，包括中央處理器和薄膜開(kāi)關(guān)線路板，所述薄膜開(kāi)關(guān) 線路板包括多個(gè)行掃描線、多個(gè)列掃描線和薄膜開(kāi)關(guān)矩陣，所述中央處理器包括多個(gè)行檢 測(cè)端口和多個(gè)列掃描端口，所述多個(gè)列掃描端口分別連接到所述多個(gè)列掃描線，所述多個(gè) 行檢測(cè)端口分別連接到所述多個(gè)行掃描線，并且，每一個(gè)行檢測(cè)端口分別連接有偏置電路， 所述偏置電路包括接地的偏置電阻；所述薄膜開(kāi)關(guān)矩陣包括多個(gè)薄膜開(kāi)關(guān)單元，每一個(gè)薄 膜開(kāi)關(guān)單元包括薄膜開(kāi)關(guān)和分壓元件，所述薄膜開(kāi)關(guān)和所述分壓元件串聯(lián)在其對(duì)應(yīng)的行掃 描線和列掃描線之間。 在本技術(shù)提供的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的一較佳實(shí)施例中，所述薄膜開(kāi)關(guān)線路板包括第 一導(dǎo)電層、間隔層和第二導(dǎo)電層，其中所述間隔層夾設(shè)在所述第一導(dǎo)電層和所述第二導(dǎo)電 層之間，所述第一導(dǎo)電層包括多個(gè)分別連接到所述行掃描線的第一觸點(diǎn)，所述第二導(dǎo)電層 包括多個(gè)分別連接到所述列掃描線的第二觸點(diǎn)，所述間隔層包括多個(gè)分別與所述第一觸點(diǎn) 和所述第二觸點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的開(kāi)口，所述第一觸點(diǎn)和所述第二觸點(diǎn)分別位于其相應(yīng)的薄膜開(kāi)關(guān) 單元的區(qū)域，并且二者分別通過(guò)所述間隔層的開(kāi)口相對(duì)設(shè)置。 在本技術(shù)提供的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的一較佳實(shí)施例中，所述分壓元件為印刷碳阻。 在本技術(shù)提供的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的一較佳實(shí)施例中，所述分壓元件連接到所述第 二觸點(diǎn)。 在本技術(shù)提供的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的一較佳實(shí)施例中，所述第二導(dǎo)電層的厚度大于 所述第一導(dǎo)電層和所述間隔層。 在本技術(shù)提供的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的一較佳實(shí)施例中，所述計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的每一個(gè)按 鍵通過(guò)按壓所述薄膜開(kāi)關(guān)線路板上面的彈性體來(lái)觸發(fā)所述薄膜開(kāi)關(guān)。 在本技術(shù)提供的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的一較佳實(shí)施例中，所述中央處理器通過(guò)ADR 換的方式實(shí)現(xiàn)所述計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)所有按鍵無(wú)誤輸入。 相較于現(xiàn)有技術(shù)，本技術(shù)提供的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)只需要在所述薄膜開(kāi)關(guān)電路板增 加所述分壓元件，并在所述中央處理器的行檢測(cè)端口連接具有偏置電阻的偏置電路，便可 以利用二者的電壓分壓來(lái)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確判斷按鍵是否被按下，而無(wú)需外接二極管，因此所述計(jì) 算機(jī)鍵盤(pán)的電路結(jié)構(gòu)和制作工藝均較為簡(jiǎn)單；另外，所述分壓元件可以采用印刷碳阻實(shí)現(xiàn)， 可以有效降低所述計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的整體成本。 【專(zhuān)利附圖】【附圖說(shuō)明】 為了更清楚地說(shuō)明本技術(shù)實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需 要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本技術(shù)的一些實(shí) 施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖 獲得其它的附圖，其中： 圖1是現(xiàn)有技術(shù)采用開(kāi)關(guān)矩陣的鍵盤(pán)的輸入原理示意圖； 圖2是本技術(shù)提供的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的一種較佳實(shí)施例的立體結(jié)構(gòu)分解示意圖； 圖3是圖2所示的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的控制線路板的示意圖； 圖4是圖2所示的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的薄膜開(kāi)關(guān)線路板的電路結(jié)構(gòu)示意圖； 圖5是圖2所示的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的彈性體和薄膜開(kāi)關(guān)的剖面結(jié)構(gòu)示意圖； 圖6是圖4所示的薄膜開(kāi)關(guān)線路板的第一導(dǎo)電層的平面結(jié)構(gòu)示意圖； 圖7是圖4所示的薄膜開(kāi)關(guān)線路板的間隔層的平面結(jié)構(gòu)示意圖； 圖8是圖4所示的薄膜開(kāi)關(guān)線路板的第二導(dǎo)電層的平面結(jié)構(gòu)示意圖。 【具體實(shí)施方式】 下面將對(duì)本技術(shù)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的 實(shí)施例僅是本技術(shù)的一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本技術(shù)中的實(shí)施 例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其它實(shí)施例，都屬于 本技術(shù)保護(hù)的范圍。 請(qǐng)參閱圖2,其為本技術(shù)提供的計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)的一種較佳實(shí)施例的立體結(jié)構(gòu)分 解示意圖。所述計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)100包括鍵盤(pán)上蓋10、按鍵11、支撐板12、薄膜開(kāi)關(guān)線路板14、 控制線路板15和鍵盤(pán)底板16。其中，所述鍵盤(pán)上蓋10可以安裝到所述鍵盤(pán)底板16,從而 在所述鍵盤(pán)上蓋10和所述鍵盤(pán)底板16之間形成一個(gè)收容空間，用以收容所述按鍵單元11、 所述支撐板12、所述薄膜開(kāi)關(guān)線路板14和所述控制線路板15。 所述薄膜開(kāi)關(guān)線路板14與所述控制線路板15之間通過(guò)排線相互電性連接。所述 按鍵11可以為多個(gè)，且其數(shù)量根據(jù)所述計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)100的設(shè)計(jì)需要而定，本實(shí)施例以所述 計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)100的按本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種計(jì)算機(jī)鍵盤(pán)，其特征在于，包括中央處理器和薄膜開(kāi)關(guān)線路板，所述薄膜開(kāi)關(guān)線路板包括多個(gè)行掃描線、多個(gè)列掃描線和薄膜開(kāi)關(guān)矩陣，所述中央處理器包括多個(gè)行檢測(cè)端口和多個(gè)列掃描端口，所述多個(gè)列掃描端口分別連接到所述多個(gè)列掃描線，所述多個(gè)行檢測(cè)端口分別連接到所述多個(gè)行掃描線，并且，每一個(gè)行檢測(cè)端口分別連接有偏置電路，所述偏置電路包括接地的偏置電阻；所述薄膜開(kāi)關(guān)矩陣包括多個(gè)薄膜開(kāi)關(guān)單元，每一個(gè)薄膜開(kāi)關(guān)單元包括薄膜開(kāi)關(guān)和分壓元件，所述薄膜開(kāi)關(guān)和所述分壓元件串聯(lián)在其對(duì)應(yīng)的行掃描線和列掃描線之間。

【技術(shù)特征摘要】

【專(zhuān)利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：張文崳，黃儉安，
申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人：張文崳，黃儉安，
類(lèi)型：新型
國(guó)別省市：廣東;44