一種測量薄板材料特性的掃描測量儀制造技術

一種測量薄板材料（M）特性的掃描測量儀（10），包括配置有至少一個側直柱（12，13）和兩個橫向導向橫板（14，15）的機架（11），所述導向橫板（14，15）分別導向第一測量頭和第二測量頭（17、18）以使其面對面測量同一薄板材料（M）的特性，所述第一測量頭和第二測量頭（17、18）各自均包括至少一個適用于測量所述特性的傳感器，所述測量頭連同各自的傳感器沿掃描路徑（T）在導向橫板（14，15）上移動，所述側直柱（12，13）具有限定了至少一個凹口（21，22）的形狀，所述凹口適用于當所述測量頭位于固定在所述側直柱（12，13）上的導向橫板(14,15)的端部時，至少部分容納測量頭(17,18)。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】【專利摘要】一種測量薄板材料（M）特性的掃描測量儀（10），包括配置有至少一個側直柱（12，13）和兩個橫向導向橫板（14，15）的機架（11），所述導向橫板（14，15）分別導向第一測量頭和第二測量頭（17、18）以使其面對面測量同一薄板材料（M）的特性，所述第一測量頭和第二測量頭（17、18）各自均包括至少一個適用于測量所述特性的傳感器，所述測量頭連同各自的傳感器沿掃描路徑（T）在導向橫板（14，15）上移動，所述側直柱（12，13）具有限定了至少一個凹口（21，22）的形狀，所述凹口適用于當所述測量頭位于固定在所述側直柱（12，13）上的導向橫板(14,15)的端部時，至少部分容納測量頭(17,18)。【專利說明】一種測量薄板材料特性的掃描測量儀
本技術涉及一種測量薄板材料特性的掃描測量儀，所述掃描測量儀包括機 架，所述機架配置有至少一個側直柱和兩個橫向的導向橫板，所述兩個導向橫板相互基本 上平行并具有各自固定在所述側直柱上的端部，該導向橫板被設置為導向第一測量頭和第 二測量頭中各自的測量頭面對面測量同一薄板材料的特性，所述第一測量頭和第二測量頭 均包括至少一個適用于測量所述特性的傳感器，每一測量頭連同各自的傳感器沿掃描路徑 在導向橫板上移動。
技術介紹
本技術特別涉及一種用來測量薄板材料特性的掃描測量儀，該掃描測量儀適 用于安裝在生產大體上為平面的薄板材料的連續或非連續的步進生產線上，用于在生產過 程中，測量材料的物理或理化特性，如材料的厚度、單位面積的重量、密度等。該掃描測量設 備適用于測量寬度從幾毫米到大于十米的片狀材料。 這樣的一種掃描測量儀整體上包括一個或多個在其上橫向移動的測量頭，以在材 料上前后移動，進而測頂定薄板材料在其整個寬度或其中一部分寬度范圍上的特性。由于 材料是以一定的速度前進的，因此測量頭的測量路徑是一系列的通過薄板材料的斜線，并 在材料平面上形成一個Z字形。 為了得到可靠的測量結果，在測量頭在跨過材料的寬邊移動時，保持掃描測量儀 的結構不變是非常重要的，即確保測量頭相對機架的良好對齊。 當兩測量頭分別置于薄板材料的兩側，如通過穿透材料測量其特性時，需要兩測 量頭同步移動，即當兩者移動時，他們的相對位置要保持嚴格同步。特別地，兩測量頭之間 的距離或"間隙"要保護恒定。優選地，測量頭在與材料所在平面基本垂直的平面上移動。 特別地，當生產線生產具有水平平面的材料時，測量頭必須在一個垂直平面上移動。 為了滿足這一條件，在任何情況下，都必須要對齊兩測量頭，這樣的一種掃描測量 儀設有用于支撐測量頭的機架，同進也可以保證兩測量頭互相對齊和/或與機架對齊。通 常，可通過設計一個剛性和穩固的的機架實現此對齊，該機架具有沿掃描路徑結構盡可能 保持恒定的結構。眾所周知，為了達到這個目的，可以提供一種帶有橫板的機架，其中所述 橫板相對較厚且可根據需要進行加工，以補償橫板通常隨著其距離增長而增加的直線度誤 差。也可以利用調整測量頭在橫板上位置的方法較正兩測量頭的對齊。這些解決方案需要 機架具有很大的體積，特別地，需要側直柱具有很大的體積。況且，掃描測量儀的側直柱通 常需要容下對齊測量頭的工具，例如，用來控制、驅動以及/或者同步測量頭的設備，因此 需要側直柱具有很大的體積。 圖1和圖2所示為現有掃描測量儀或"0形掃描儀" 1的示例，其包括限定了開口 3的機架2,通過該開口，薄板材料Μ可朝前進方向D移動，所述掃描儀還包括沿薄板材料Μ 的寬邊移動的測量頭4、5。該測量頭4、5在兩側直柱6、7之間沿路徑Τ在兩橫板8、9上移 動，其中路徑Τ在側直柱6、7旁的端部處結束。具體地，例如專利文件ΕΡ1039262公開了這 樣一種掃描測量儀，用于測量薄板材料的厚度和隆起。 出于安全理由，并根據適用的規定，必須在每個側直柱6、7和測量頭4、5各自的端 側位置P1，P2之間留出一個空隙，如圖2中的E所示，以防止掃描測量儀用戶在測量頭4、5 和兩側直柱6、7之間夾傷或擠傷。 在側直柱和材料之間保留一定的無材料中間區域也是可取的，即當測量頭位于可 移動范圍的端側位置之一時，兩測量頭間不再保有處理中的材料，從而可以執行多種操作， 如執行與測量相關的操作，如校準測量頭、或安裝非材料本身的基準物的固定器。另外，如 果材料破損，需要將旁邊的測量頭移入無材料中間區域，以防止其損壞。 這種掃描測量儀的缺點是在掃描方向上其整體尺寸較大。參考圖2,掃描測量儀 的整體寬度，用S表示，是以下各項的和：待測平面材料的寬度L ;各直柱的寬度N和Ν'，由 于直柱包括對齊測量頭的工具，如驅動可移動測量頭的馬達和控制和/或同步測量頭的裝 置，因此其寬度是多變的；每個測量頭的寬度F，S卩，S=N+E+2F+L+E'+N' ；還包括適于容納偏 離材料Μ的測量頭的中間區域，再加上上述不同寬度以及用于防止夾傷風險的E和E'的空 間。 專利文件US4631834和US6628322均公開了一種用于測定三維坐標的測量儀，專 利文件US5285579公開了一種三維標繪機，而專利文件US6441905則公開了一種用于測量 材料特性的掃描測量儀。 基于上述所有原因，傳統掃描測量儀的具有較大的側直柱而且整體寬度較寬。
技術實現思路
本技術的目的是提出一種掃描測量儀，所述測量儀具有其結構能夠滿足既可 以顯著減少掃描測量儀的整體尺寸的同時又能保留無材料中間區域，以使測量頭停留在掃 描測量儀的邊緣的機架。 為此目的，本專利技術提供了一種用于測量薄板材料特征的掃描測量儀，所述掃描測 量儀包括一機架，此機架配置有至少一個側直柱和兩個基本上互相平行的橫向導向橫板， 并分別具有固定在所述側直柱上的端部，所述導向橫板被設置為將設置的第一和第二測量 頭中各自的測量頭導向為面對面測量同一薄板材料的特性，所述第一和第二測量頭分別包 括至少一個適用于測量所述特性的傳感器，每一測量頭連同各自的傳感器被設置為沿掃描 路徑在導向橫板上移動，所述掃描測量儀的特征在于所述側直柱具有定義至少一個凹口的 形狀，所述凹口的位置使得測量頭和傳感器的掃描路徑在凹口處穿過側直柱，當所述測量 頭位于固定在側直柱上的導向橫板的端部時，所述凹口適用于至少部分容納測量頭和傳 感器， 基于這種配置，所述掃描測量儀的整體寬度減小到不超過待測平面材料的寬度加 上測量頭的寬度的和，進而獲得了比現有技術中的掃描測量系統更加緊湊的掃描測量儀。 當測量頭位于側直柱的凹口處時，它們位于無材料的中間區域，因此，有益的是，在此處可 以執行各種無材料測量操作，如校準或采樣。可選地，當測量頭位于側直柱的凹口處時，可 以允許材料延伸至部分位于測量頭下方，以此進一步減小掃描測量儀的寬度。無論是何種 情況，本本專利技術都能有效地減少用戶在側直柱和測量頭間被夾傷或擠傷的風險。 有益地，本專利技術的掃描測量儀具有以下特征： 凹口為朝掃描路徑的貫通凹口； 測量頭傳感器屬傳感器-發射器類型，其中測量頭中的一個含有傳感器，另一個 含有發射器； 機架包括兩個位于橫向導向橫板端部兩側的側直柱； 側直柱相對于與所述掃描路徑基本垂直的對稱平面基本平行布本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種測量薄板材料（M）特性的掃描測量儀（10；100），所述掃描測量儀包括有機架（11），所述機架（11）設有至少一個側直柱（12，13；112，113）以及兩個橫向的導向橫板（14，15），所述兩個導向橫板（14，15）互相基本平行并具有各自固定在所述側直柱（12，13；112，113）上的端部，并被設置為將設有的第一和第二測量頭（17、18）中各自的測量頭導向為面對面測量同一薄板材料（M）的特性，所述第一和第二測量頭（17、18）均包括各自的至少一個適用于測量所述特性的傳感器，每一測量頭（17、18）連同各自的傳感器被設置為沿掃描路徑（T）在導向橫板（14，15）上移動，所述掃描測量儀的特征在于，所述側直柱（12，13；112，113）具有定義有至少一個凹口（21，22）的形狀，所述凹口（21，22）的位置使得測量頭(17,18)和傳感器的掃描路徑（T）在凹口（21，22）處穿過側直柱（12，13；112，113），當所述測量頭（17,18）位于固定在側直柱（12，13；112，113）上的導向橫板(14,15)端部時，所述凹口適用于至少部分容納測量頭(17,18)和傳感器。

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】...

【專利技術屬性】
技術研發人員：JJ·弗洛朗特，
申請(專利權)人：思肯德公司，
類型：新型
國別省市：法國;FR