用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法制造方法及圖紙

一種用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，包含：一運算裝置執行一測試程序，以產生一組控制指令傳送到一電源供應器；該電源供應器根據該組控制指令，在每一時間區間內，產生一額定電壓或驟降電壓供應給一待測裝置；該待測裝置根據該額定電壓或驟降電壓，產生對應的一響應電壓傳送至一負載仿真器；該負載仿真器量測該響應電壓并將其傳送至該運算裝置；及該運算裝置判定該響應電壓是否在一正常響應電壓范圍內，若判定結果為否，則該運算裝置將對應的一故障信息記錄于一數據庫中。

【技術實現步驟摘要】
【專利摘要】一種，包含：一運算裝置執行一測試程序，以產生一組控制指令傳送到一電源供應器；該電源供應器根據該組控制指令，在每一時間區間內，產生一額定電壓或驟降電壓供應給一待測裝置；該待測裝置根據該額定電壓或驟降電壓，產生對應的一響應電壓傳送至一負載仿真器；該負載仿真器量測該響應電壓并將其傳送至該運算裝置；及該運算裝置判定該響應電壓是否在一正常響應電壓范圍內，若判定結果為否，則該運算裝置將對應的一故障信息記錄于一數據庫中。【專利說明】
本專利技術涉及一種測試方法，特別是涉及一種。
技術介紹
電器產品在使用過程中，若有斷電、供壓不足和線路過載等問題發生時，容易造成電器組件老化、損毀或故障。有鑒于此，許多國家都已要求產品須通過電磁兼容性(ElectroMagnetic Compatibility)的測試,才能進入市場銷售。目前各國的電磁兼容法規都是源自國際通用法規(IEC Standard)，而在IEC61000-4-11此條法規中，其對電壓驟降(VoltageDip)提供了如下的測試規范: ■額定電壓驟降30%持續0.5AC周期，重復10次。 ■每一 AC周期步驟額定電壓驟降60%持續0.5AC周期到500毫秒，重復10次。 ■每一 AC周期步驟額定電壓驟降100%持續0.5AC周期到5000毫秒，重復10次。 以往對于IEC61000-4-11此法規的測試作法為將一音源光盤片放入一 DVD播放器中，當該DVD播放器讀取而動作時將產生隨機的音源變化進而驅動一驅動控制器(0N/OFFController)隨機來控制一單埠輸出交流電源供應器輸出電壓的持續時間，以驅動一待測裝置動作。該待測裝置還與一用來量測該待測裝置的輸出電壓的負載仿真器電連接。當輸出電壓不在正常電壓范圍內時，該負載仿真器會亮起紅燈，而測試者必須對其加以記錄，此種作法需購買昂貴設備，如DVD播放器、驅動控制器，且測試者要不斷盯著該負載仿真器以記錄亮燈信息，不只耗費人力，還有可能記錄錯誤。此外，由于該DVD播放器和該驅動控制器只能控制該單埠輸出交流電源供應器什么時間輸出電壓，或者什么時間不輸出電壓，即電壓驟降百分之一百的情況，但當測試者要測試電壓驟降百分之三十或百分之六十時，只能通過測試者手動去調整該單埠輸出交流電源供應器的輸出電壓以仿真電壓驟降的情況，實屬不便，因此，有必要尋求解決方案。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供一種。 本專利技術包含:(A) —運算裝置執行一測試程序，以產生一組控制指令傳送到一電連接于該運算裝置的電源供應器；(B)該電源供應器根據該組控制指令，在一第一時間區間內，產生一額定電壓供應給一待測裝置；(C)該待測裝置根據該額定電壓，產生一第一響應電壓傳送至一與該運算裝置及待測裝置電連接的負載仿真器；(D)該負載仿真器量測該第一響應電壓并將其傳送至該運算裝置；(E)該運算裝置判定該第一響應電壓是否在一正常響應電壓范圍內，若判定結果為否，則該運算裝置將一第一故障信息記錄于一數據庫中；(F)該電源供應器根據該組控制指令，在一第二時間區間內，產生一驟降電壓供應給該待測裝置，其中該驟降電壓小于該額定電壓；(G)該待測裝置根據該驟降電壓，產生一第二響應電壓傳送至該負載仿真器；(H)該負載仿真器量測該第二響應電壓并將其傳送至該運算裝置；以及(I)該運算裝置判定該第二響應電壓是否在該正常響應電壓范圍內，若判定結果為否，則該運算裝置將一第二故障信息記錄于該數據庫中。 本專利技術的，該負載仿真器為一包括一可變電阻的數字電表。 本專利技術的，該電源供應器及負載仿真器皆包含一通用接口總線接口卡，用于做為該運算裝置與該電源供應器及負載仿真器間的數據傳輸接口卡。 本專利技術的，該運算裝置為一包括一處理器及一存儲該測試程序的存儲器的計算機。 本專利技術的還包含，在該(D)步驟中，一與該運算裝置及待測裝置電連接的示波器量測對應于該第一響應電壓的一第一響應電壓波形，并將所量測到的第一響應電壓波形傳送至該運算裝置，繼而該運算裝置將該第一響應電壓波形記錄于該數據庫中。 本專利技術的，該示波器包括一通用接口總線接口卡，用于做為該運算裝置與示波器間的數據傳輸接口卡。 本專利技術的還包含，在該(H)步驟中，該示波器量測對應于該第二響應電壓的一第二響應電壓波形，并將所量測到的第二響應電壓波形傳送至該運算裝置，繼而該運算裝置將該第二響應電壓波形記錄于該數據庫中。 本專利技術的，該額定電壓及該驟降電壓間的差值與該額定電壓的比值為30%。 本專利技術的，該額定電壓及該驟降電壓間的差值與該額定電壓的比值為60%。 本專利技術的，該額定電壓及該驟降電壓間的差值與該額定電壓的比值為100%。 本專利技術的有益效果在于:通過該運算裝置產生該組控制指令使得該電源供應器在該第一時間區間內，產生該額定電壓且在該第二時間區間內，產生該驟降電壓，而不需手動調整。此外，本專利技術還通過該運算裝置將該第一故障信息及第二故障信息記錄于該數據庫來達成自動記錄的目的。 【專利附圖】【附圖說明】 圖1是一系統架構圖，說明用來實施本專利技術的較佳實施例的測試系統； 圖2是一流程圖，說明本專利技術的較佳實施例； 圖3是一流程圖，說明一第一測試階段的一第一測試周期的詳細步驟； 圖4是一流程圖，說明一第二測試階段的一第一測試周期的詳細步驟；及 圖5是一流程圖，說明一第三測試階段的一第一測試周期的詳細步驟。 【具體實施方式】 下面結合附圖及實施例對本專利技術進行詳細說明。 請參閱圖1，本專利技術的一較佳實施例以一測試系統來實施。該測試系統包含一運算裝置1、一電源供應器2、一負載仿真器3、一不波器4及一數據庫5。 該運算裝置I執行一測試程序13，以產生一組控制指令傳送到與該運算裝置I電連接的該電源供應器2。在本較佳實施例中，該運算裝置I為一計算機，并包括一處理器11及一存儲該測試程序13的存儲器12。 該電源供應器2包括一用于進行其與該運算裝置I間數據傳輸的通用接口總線(General Purpose Interface Bus,以下簡稱GPIB)接口卡21,且該電源供應器2根據該組控制指令，在每一時間區間內，產生一額定電壓或驟降電壓供應給該待測裝置9。該待測裝置9再根據該額定電壓或驟降電壓，產生對應的一響應電壓。在本較佳實施例中，該電源供應器2為一多埠輸出交流電源供應器，可同時提供多個待測裝置9該額定電壓或驟降電壓。 該負載仿真器3與該運算裝置I及待測裝置9電連接，并包括一用于進行與該運算裝置I間數據傳輸的GPIB接口卡31，且該負載仿真器3用于量測該待測裝置9在每一時間區間所對應的該響應電壓，并將其傳送至該運算裝置1，在本較佳實施例中，該負載仿真器3為一包括一可變電阻(圖未不)的數字電表。 該示波器4與該運算裝置I及待測裝置9電連接，并包括一用于做為與該運算裝置I間數據傳輸的GPIB接口卡41，且該示波器4用于量測該待測裝置9在每一時間區間所對應的一響應電壓波形，并將其傳送至該運算裝置I。 該運算裝置I還用于判定該待測裝置9在每一時間區間所對應的該響應電壓是否在一正常響應電壓范圍內，若判定結果為否，則該運算裝置I將對應的一故障信息記錄于該數據庫5中。其中對應的該故障信息包括在每本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種用于測試待測裝置的電壓驟降的測試方法，其特征在于，包含下列步驟：(A)一運算裝置執行一測試程序，以產生一組控制指令傳送到一電連接于該運算裝置的電源供應器；(B)該電源供應器根據該組控制指令，在一第一時間區間內，產生一額定電壓供應給一待測裝置；(C)該待測裝置根據該額定電壓，產生一第一響應電壓傳送至一與該運算裝置及待測裝置電連接的負載仿真器；(D)該負載仿真器量測該第一響應電壓并將其傳送至該運算裝置；(E)該運算裝置判定該第一響應電壓是否在一正常響應電壓范圍內，若判定結果為否，則該運算裝置將一第一故障信息記錄于一數據庫中；(F)該電源供應器根據該組控制指令，在一第二時間區間內，產生一驟降電壓供應給該待測裝置，其中該驟降電壓小于該額定電壓；(G)該待測裝置根據該驟降電壓，產生一第二響應電壓傳送至該負載仿真器；(H)該負載仿真器量測該第二響應電壓并將其傳送至該運算裝置；以及(I)該運算裝置判定該第二響應電壓是否在該正常響應電壓范圍內，若判定結果為否，則該運算裝置將一第二故障信息記錄于該數據庫中。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：林顯圳，唐永強，
申請(專利權)人：冠捷投資有限公司，
類型：發明
國別省市：中國香港;81