【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于飛機設計領域，涉及一種起落架鎖系統壽命試驗設計方法。?
技術介紹
起落架鎖包括上位鎖、下位鎖、艙門鎖等部件，其作用是確保起落架和艙門處于正確的位置，實現飛機安全的起飛和著陸。但是以往型號中很少進行鎖系統的壽命試驗，至于鎖在不同條件下的可靠性更是無法驗證。?鎖系統的正常工作是非常重要的，鎖的功能失效將會導致嚴重的事故，甚至飛機墜毀。因此有必要進行鎖的壽命試驗，確保鎖系統在飛機壽命周期內是安全可靠的。同時由于鎖系統安裝在機身，承受的是起落架的載荷，導致鎖系統壽命試驗既要考慮飛行壽命指標，又要考慮起落數。?
技術實現思路
本專利技術的目的是：解決起落架鎖系統的壽命評定問題，提供一套可用于確定鎖系統工作性能的試驗方法。?本專利技術的技術方案是：一種起落架鎖壽命試驗設計方法，其特征在于考慮了不同的溫度條件并兼顧了飛行小時與起落數兩種壽命指標方法，包括如下步驟：?第一，依據飛機起落數的壽命指標確定鎖的壽命指標，并計算試驗總循環(huán)數：?試驗總循環(huán)數＝鎖壽命指標×η?η-可靠性系數?第二，建立飛行小時數與試驗循環(huán)數的關系：以飛行小時數表示鎖的壽命指標。依據機體結構的壽命指標和首翻期確定鎖的試驗階段及劃分。?NsyNfx=k·η]]>其中：Nsy試驗循環(huán)數，Nfx飛行小時數，k為飛機壽命指標中起落數與飛行小時數的比值。?第三，確定壽命試驗中高溫、低溫、常溫試驗的比例，并計算相應的循環(huán)數。?kgw+kdw+kcw＝1?其...
【技術保護點】
一種起落架鎖壽命試驗設計方法，其特征在于，包括如下步驟：?第一，依據飛機起落數的壽命指標確定鎖的壽命指標，并計算試驗總循環(huán)數：?試驗總循環(huán)數＝鎖壽命指標×η?η?可靠性系數?第二，建立飛行小時數與試驗循環(huán)數的關系：以飛行小時數表示鎖的壽命指標；依據機體結構的壽命指標和首翻期確定鎖的試驗階段及劃分；?其中：Nsy試驗循環(huán)數，Nfx飛行小時數，k為飛機壽命指標中起落數與飛行小時數的比值；?第三，確定壽命試驗中高溫、低溫、常溫試驗的比例，并計算相應的循環(huán)數；?kgw+kdw+kcw＝1?其中：kgw、kdw和kcw分別為高溫、低溫、常溫試驗的比例系數第四，確定試驗單元周期。
【技術特征摘要】
1.一種起落架鎖壽命試驗設計方法，其特征在于，包括如下步驟：?
第一，依據飛機起落數的壽命指標確定鎖的壽命指標，并計算試驗總循環(huán)數：?
試驗總循環(huán)數＝鎖壽命指標×η?
η-可靠性系數?
第二，建立飛行小時數與試驗循環(huán)數的關系：以飛行小時數表示鎖的壽命指標；依據機體結構的壽命指標和首翻期確定鎖的試驗階段...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：周棟，杜金柱，孟凡星，曹瑩，
申請(專利權)人：中國航空工業(yè)集團公司沈陽飛機設計研究所，
類型：發(fā)明
國別省市：遼寧;21
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