鏡片測量儀制造技術

本實用新型專利技術公開了一種鏡片測量儀，用于測量待測鏡片的光穿透率，該鏡片測量儀包括：光源發射器、光源傳感器、承載平臺及處理器。其中，該光源傳感器供感測第一光線，根據該第一光線的光強度而產生第一感測信號。該第一光線入射至該待測鏡片的一側后，該第一光線借由該待測鏡片產生衰減，而從該待測鏡片的另一側出射第二光線，該光源傳感器供感測該第二光線，根據該第二光線的光強度而產生第二感測信號。該處理器比較該第一感測信號與該第二感測信號而產生比較結果以作為該待測鏡片的光穿透率。（*該技術在2024年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】
【專利摘要】本技術公開了一種鏡片測量儀，用于測量待測鏡片的光穿透率，該鏡片測量儀包括：光源發射器、光源傳感器、承載平臺及處理器。其中，該光源傳感器供感測第一光線，根據該第一光線的光強度而產生第一感測信號。該第一光線入射至該待測鏡片的一側后，該第一光線借由該待測鏡片產生衰減，而從該待測鏡片的另一側出射第二光線，該光源傳感器供感測該第二光線，根據該第二光線的光強度而產生第二感測信號。該處理器比較該第一感測信號與該第二感測信號而產生比較結果以作為該待測鏡片的光穿透率。【專利說明】鏡片測量儀
本技術涉及一種鏡片測量儀，尤其涉及一種測量鏡片的光穿透率的鏡片測量儀。
技術介紹
在現有技術中，欲測量一鏡片的光透射率時，常借由例如一紫外線/可見光分光光譜儀對物體進行測量，以精密地計算出該物體的光穿透率。 然而，實際上，當物體對于光穿透率的精準度要求不高時，若仍舊以體積大且價格昂貴的該紫外線/可見光分光光譜儀對該物體進行測量就顯得不合乎成本效益，例如在一間工廠中的多條生產線，若單為了對光穿透率的精準度要求不高的產品而大量采購該紫外線/可見光分光光譜儀時，即便可非常精準的測得該產品的光穿透率，然而這樣的做法將大幅增加非必要的制造成本。 故有必要提出一種鏡片測量儀，用以解決現有技術所遭遇的困難。
技術實現思路
本技術的一個目的是提供一種借由簡易的與低制作成本的鏡片測量儀，以達到鏡片光穿透率的低成本測量。 本技術的另一目的是提供一種鏡片測量儀，以測量鏡片對于各種波長光線的光穿透率。 為達上述目的及其他目的，本技術的鏡片測量儀，用于測量待測鏡片的光穿透率，該鏡片測量儀包括:光源發射器、光源傳感器、承載平臺及處理器。其中該光源發射器供發射第一光線；該光源傳感器供感測該第一光線，根據該第一光線的光強度而產生第一感測信號；該承載平臺，設置于該光源發射器及該光源傳感器之間且該光源傳感器借由相對于該光源發射器的位置設置來接收該光源發射器所發出的光線，該承載平臺包含有穿透孔且該承載平臺供承載該待測鏡片，其中，該第一光線透過該穿透孔入射至該待測鏡片的一側后，從該待測鏡片的另一側出射第二光線，該光源傳感器感測該第二光線以根據該第二光線的光強度而產生第二感測信號；以及該處理器，連接該光源傳感器，該處理器比較該第一感測信號與該第二感測信號而產生比較結果以作為該光穿透率。 于一實施例中，該第一光線的波長范圍介于300奈米至800奈米之間。 于一實施例中，該光源發射器還包括:發光二極管與驅動模塊，該發光二極管連接該驅動模塊，該驅動模塊產生驅動信號以驅動該發光二極管，而產生該第一光線。 于一實施例中，該鏡片測量儀還包括顯示器，連接該處理器，以顯示該光穿透率。 于一實施例中，該鏡片測量儀還包含計算結果輸出模塊，連接該處理器，以輸出該光穿透率至外部取用裝置。 于一實施例中，該光源發射器還包括:多個發光二極管，這些發光二極管所產生的光線的波長范圍彼此相異；以及驅動模塊，與這些發光二極管相連接，該驅動單元產生驅動信號以驅動這些發光二極管的至少一個，而產生該第一光線。 借此，本技術的鏡片測量儀可借由該第一光線與該第二光線間的變化，來計算出該待測鏡片對于特定波長范圍的光線的光穿透率，其中該第二光線是該第一光線入射至該待測鏡片后，因為該待測鏡片的特性而被吸收部分特定波長范圍的第一光線所產生。本技術的鏡片測量儀亦可借由可發射涵蓋不同波長范圍光線的光源發射器，達到測量該待測鏡片對于不同波長范圍光線的光穿透率的效果。 【專利附圖】【附圖說明】 圖1為本技術一實施例的鏡片測量儀的示意圖。 圖2A及圖2B為本技術一實施例的鏡片測量儀的使用狀態圖。 主要部件附圖標記: I鏡片測量儀 10殼體 101上蓋 11光源發射器 12光源傳感器 13承載平臺 131穿透孔 14處理器 15顯示器 LBlL第一光線 LB2L第二光線 SSl第一感測信號 SS2第二感測信號 2待測鏡片 21底側面 22頂側面 【具體實施方式】 為充分了解本技術的目的、特征及技術效果，茲由下述具體實施例，并結合附圖，對本技術做詳細說明，說明如下: 首先請參照圖1，其為本技術一實施例的鏡片測量儀I的示意圖。本技術的鏡片測量儀I可包括殼體10、光源發射器11、光源傳感器12、承載平臺13及處理器14。 該殼體10用以形成一容置空間，該光源發射器11、該光源傳感器12、該承載平臺13及該處理器14皆設置于其中。于一實施例中，該殼體10還包括上蓋101，當該上蓋101后可阻絕由外部射入的外部光線(圖未示)，使測量結果更為精準。 該光源發射器11用來發射第一光線(圖未不)。于一實施例中，該第一光線為可見光，該第一光線的波長范圍介于300奈米至800奈米之間。 該光源傳感器12用以感測光線，于一實施例中，該光源傳感器12為太陽能板或光二極管。該光源傳感器12借由感測該光線的光強度而產生感測信號。舉例而言，若光源傳感器12為太陽能板，入射的光線將致使該太陽能板產生電流，而該光線的光強度將決定該電流的電流強度，該光源傳感器12則會依據該電流的電流強度，產生對應的感測信號。 該承載平臺13設置于該光源發射器11及該光源傳感器12之間，用來承載待測鏡片(圖未示)。于一實施例中，該承載平臺13包含有穿透孔131，以使當該光源發射器11發出該第一光線時，可透過該穿透孔131射至該光源傳感器12。 該處理器14連接該光源傳感器12，該處理器14可借由該光源傳感器12所產生的感測信號以確定該待測鏡片的該光穿透率。 于一實施例中，該鏡片測量儀I還包括顯示器15，可用以顯示計算結果信息。 請參照圖2A及圖2B，為本技術一實施例的鏡片測量儀I的使用狀態示意圖。 于圖2A中，在測量待測鏡片2之前，須先進行校正歸零的預備測量，此時該光源發射器11發射該第一光線LBl至該光源傳感器12，該光源傳感器12會根據感測該第一光線LBl的光強度,而產生對應的第一感測信號SSl,并將該第一感測信號SSl輸出且暫存于該處理器14。 于圖2B中，在進行完該校正歸零的預備測量后可開始測量該待測鏡片2的光透光率。先將欲測量的該待測鏡片2置于該承載平臺13后，該光源發射器11發射該第一光線LBl，此時該第一光線LBl由該待測鏡片2的底側面21入射，該第一光線LBl的光強度會因為通過該待測鏡片2有所衰減，而由該待測鏡片2的頂側面22出射第二光線LB2至該光源傳感器12，該光源傳感器12會根據感測到的該第二光線LB2的光強度，而產生對應的第二感測信號SS2并將其輸出且暫存于該處理器14。 接者，該處理器14會根據該第一感測信號SSl與該第二感測信號SS2，執行一算法進行計算以產生計算結果。該處理器14借由該計算結果而確定該待測鏡片2的光穿透率。 于一實施例中，該光源發射器11可包括發光二極管(圖未不)與驅動模塊(圖未示)，該發光二極管連接該驅動模塊，該驅動模塊產生驅動信號(圖未示)以驅動該發光二極管，而產生該第一光線LBl。 該發光二極管的數量可為單一個發光二極管(在一個發光二極管的本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種鏡片測量儀，其特征在于，包括：光源發射器，供發射第一光線；光源傳感器，供感測該第一光線，根據該第一光線的光強度而產生第一感測信號；承載平臺，設置于該光源發射器及該光源傳感器之間且該光源傳感器借由相對于該光源發射器的位置設置來接收該光源發射器所發出的光線，該承載平臺包含有穿透孔且該承載平臺供承載該待測鏡片，其中，該第一光線透過該穿透孔入射至該待測鏡片的一側后，從該待測鏡片的另一側出射第二光線，該光源傳感器感測該第二光線以根據該第二光線的光強度而產生第二感測信號；以及處理器，連接該光源傳感器，該處理器比較該第一感測信號與該第二感測信號而產生比較結果以作為該光穿透率。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：林雨潭，
申請(專利權)人：杰瑞科技有限公司，
類型：新型
國別省市：中國臺灣;71