【技術實現步驟摘要】
【技術保護點】 方便測量的刻度手機殼，其特征在于：方便測量的刻度手機殼分為手機殼(1)和刻度線(2)兩部分，刻度線為手機殼邊緣的改進加工。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】 技術研發人員：卜興強， 申請(專利權)人：卜興強， 類型：發明 國別省市：山東;37
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