本發(fā)明專利技術(shù)提供了一種軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測(cè)試的方法，包括以下步驟：先固定磁環(huán)，再將上治具的第一信號(hào)接點(diǎn)與下治具的第二信號(hào)接點(diǎn)插置于磁環(huán)中空的區(qū)域，并使第一信號(hào)接點(diǎn)與第二信號(hào)接點(diǎn)電性導(dǎo)接，使電信號(hào)導(dǎo)通，進(jìn)而測(cè)出磁環(huán)的電感量，便于大規(guī)模的對(duì)磁環(huán)進(jìn)行測(cè)試，相對(duì)于以往的每測(cè)試一個(gè)產(chǎn)品要進(jìn)行相應(yīng)的圈數(shù)繞線，測(cè)試完后又要拆線的方式，提高了生產(chǎn)效率，避免銅線的浪費(fèi)，大大節(jié)約了成本。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及一種電感測(cè)試的方法，尤其涉及一種。
技術(shù)介紹
目前市場(chǎng)上使用的一種磁環(huán)的測(cè)試方法，具體如下，首先提供一磁環(huán)，所述磁環(huán)呈封閉的圓環(huán)狀，再提供一導(dǎo)線，并將導(dǎo)線(銅線)纏繞在所述磁環(huán)的表面，在磁環(huán)的表面形成多匝線圈，然后再對(duì)導(dǎo)線通電測(cè)試。上述做法，每測(cè)試一個(gè)產(chǎn)品要進(jìn)行相應(yīng)的圈數(shù)繞線，測(cè)試完后又要拆線，無法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化操作，極大的浪費(fèi)銅線，導(dǎo)致效率低下，當(dāng)產(chǎn)品數(shù)量較多時(shí)，甚至沒辦法實(shí)現(xiàn)全檢，經(jīng)常有不良品流出。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)之缺陷，提供了一種高效、快捷的。 本專利技術(shù)是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種，包括以下步驟: (1)、提供一磁環(huán)，所述磁環(huán)具有中空的一區(qū)域； (2)、提供一測(cè)試治具，其具有一上治具、一下治具，以及設(shè)置于所述上治具和下治具之間的一固定座，所述上治具的下表面凸設(shè)多個(gè)第一信號(hào)接點(diǎn)，所述下治具的上表面凸設(shè)多個(gè)第二信號(hào)接點(diǎn)，每一所述第一信號(hào)接點(diǎn)對(duì)應(yīng)每一所述第二信號(hào)接點(diǎn)； (3)、將所述磁環(huán)固定于所述固定座； (4)、驅(qū)動(dòng)所述上治具向下運(yùn)動(dòng)，所述下治具向上運(yùn)動(dòng)，使所述第一信號(hào)接點(diǎn)進(jìn)入所述磁環(huán)中空的區(qū)域，所述第二信號(hào)接點(diǎn)進(jìn)入所述磁環(huán)中空的區(qū)域，且每一所述第一信號(hào)接點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的每一所述第二信號(hào)接點(diǎn)接觸，使電信號(hào)通過第一信號(hào)接點(diǎn)與所述第二信號(hào)接點(diǎn)導(dǎo)接； ( 5)、分離所述上治具和所述下治具，并取出所述磁環(huán)。 進(jìn)一步地，所述上治具通過一第一氣缸推動(dòng)，所述下治具通過一第二氣缸推動(dòng)。 進(jìn)一步地，所述測(cè)試治具具有一支架，所述固定座設(shè)置于所述支架，所述上治具和下治具分別設(shè)置于所述支架，且可相對(duì)所述支架滑動(dòng)。 進(jìn)一步地，所述第一信號(hào)接點(diǎn)與所述第二信號(hào)接點(diǎn)交錯(cuò)設(shè)置。 進(jìn)一步地，所述第一信號(hào)接點(diǎn)為插針，所述第二信號(hào)接點(diǎn)的上表面向下凹設(shè)多個(gè)凹孔，每一所述插針對(duì)應(yīng)每一所述凹孔。 更進(jìn)一步地，所述第一信號(hào)接點(diǎn)與所述第二信號(hào)接點(diǎn)接觸時(shí)，形成閉合的一回路，且所述第一信號(hào)接點(diǎn)的數(shù)量為三。 進(jìn)一步地，所述第一信號(hào)接點(diǎn)于所述上治具上呈圓環(huán)狀設(shè)置，所述第二信號(hào)接點(diǎn)于所述下治具上呈圓環(huán)狀設(shè)置。 進(jìn)一步地，所述上治具包括一第一主體部，以及設(shè)置于所述第一主體部前端的一第一固定盤，所述第一固定盤突出所述第一主體部上、下表面，所述第一主體部中設(shè)置多個(gè)第一引線，所述第一固定盤中設(shè)置所述第一信號(hào)接點(diǎn)，每一所述第一引線對(duì)應(yīng)并焊接在每一所述第一信號(hào)接點(diǎn)上。 進(jìn)一步地，所述下治具包括一第二主體部，以及設(shè)置于所述第二主體部前端的第二固定盤，所述第二固定盤突出所述第二主體部上、下表面，所述第二固定盤對(duì)應(yīng)所述第一固定盤，所述第二主體部中設(shè)置多個(gè)第二引線，所述第二固定盤中設(shè)置所述第二信號(hào)接點(diǎn)，每一所述第二引線對(duì)應(yīng)并焊接在每一所述第二信號(hào)接點(diǎn)上。 進(jìn)一步地，所述測(cè)試治具上設(shè)置一數(shù)字電橋，所述數(shù)字電橋用以顯示測(cè)試值，所述數(shù)字電橋分別與第一引線、第二引線電性連接。 本專利技術(shù)提供一種一種，包括以下步驟:先固定磁環(huán)，再將上治具的第一信號(hào)接點(diǎn)與上治具的第二信號(hào)接點(diǎn)插置于磁環(huán)中空的區(qū)域，并使第一信號(hào)接點(diǎn)與第二信號(hào)接點(diǎn)電性導(dǎo)接，使電信號(hào)導(dǎo)通，進(jìn)而測(cè)出磁環(huán)的電感量，便于大規(guī)模的對(duì)磁環(huán)進(jìn)行測(cè)試，相對(duì)于以往的每測(cè)試一個(gè)產(chǎn)品要進(jìn)行相應(yīng)的圈數(shù)繞線，測(cè)試完后又要拆線的方式，提高了生產(chǎn)效率，避免銅線的浪費(fèi)，大大節(jié)約了成本。 【附圖說明】 為了更清楚地說明本專利技術(shù)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術(shù)的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。 圖1為本專利技術(shù)提供的先前技術(shù)的示意圖； 圖2為本專利技術(shù)實(shí)施例提供的立體圖； 圖3為本專利技術(shù)實(shí)施例提供的剖視圖。 【具體實(shí)施方式】 下面將結(jié)合本專利技術(shù)實(shí)施例中的附圖，對(duì)本專利技術(shù)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本專利技術(shù)一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本專利技術(shù)中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其它實(shí)施例，都屬于本專利技術(shù)保護(hù)的范圍。 請(qǐng)參見圖1、圖2和圖3，本專利技術(shù)實(shí)施例提供一種，其包括一磁環(huán)4和一測(cè)試治具，具體使用方法請(qǐng)參見以下說明。 第一步，請(qǐng)參見圖1、圖2和圖3，提供一磁環(huán)4，所述磁環(huán)4呈一封閉的環(huán)狀，其中部鏤空，即所述磁環(huán)具有中空的一區(qū)域。 第二步，請(qǐng)參見圖1、圖2和圖3，提供一測(cè)試治具，其具有一上治具1、一下治具2，以及設(shè)置于所述上治具1和下治具2之間的一固定座3，所述上治具1通過一第一氣缸推動(dòng)，所述下治具2通過一第二氣缸推動(dòng)。所述測(cè)試治具還具有一支架5，所述固定座3設(shè)置于所述支架5，所述上治具1和下治具2分別設(shè)置于所述支架5，且可相對(duì)所述支架5滑動(dòng)，以便于所述上治具1和下治具2的自由移動(dòng)。 請(qǐng)參見圖1、圖2和圖3，所述上治具1的下表面凸設(shè)多個(gè)第一信號(hào)接點(diǎn)13，所述下治具2的上表面凸設(shè)多個(gè)第二信號(hào)接點(diǎn)23，每一所述第一信號(hào)接點(diǎn)13對(duì)應(yīng)每一所述第二信號(hào)接點(diǎn)23，所述第一信號(hào)接點(diǎn)13于所述上治具1上呈圓環(huán)狀設(shè)置，所述第二信號(hào)接點(diǎn)23于所述下治具2上呈圓環(huán)狀設(shè)置，以對(duì)應(yīng)所述磁環(huán)4中空的區(qū)域，便于所述第一信號(hào)接點(diǎn)13和所述第一信號(hào)接點(diǎn)13插入所述磁環(huán)4中空的區(qū)域。所述第一信號(hào)接點(diǎn)13與所述第二信號(hào)接點(diǎn)23交錯(cuò)設(shè)置，所述第一信號(hào)接點(diǎn)13為插針，所述第二信號(hào)接點(diǎn)23的上表面向下凹設(shè)多個(gè)凹孔，每一所述插針對(duì)應(yīng)每一所述凹孔。所述第一信號(hào)接點(diǎn)13與所述第二信號(hào)接點(diǎn)23接觸時(shí)，形成閉合的一回路，且所述第一信號(hào)接點(diǎn)13的數(shù)量為三，所述第二信號(hào)接點(diǎn)23的數(shù)量為三。當(dāng)然，不能限制所述第一信號(hào)接點(diǎn)13和第二信號(hào)接點(diǎn)23的數(shù)量，應(yīng)當(dāng)根據(jù)實(shí)際的需要，選擇所述第一信號(hào)接點(diǎn)13和第二信號(hào)接點(diǎn)23的數(shù)量。 請(qǐng)參見圖1、圖2和圖3，所述上治具1包括一第一主體部11，以及設(shè)置于所述第一主體部11前端的一第一固定盤12,所述第一固定盤12突出所述第一主體部11上、下表面，便于所述第一固定盤12的拆卸和維修，所述第一主體部11中設(shè)置多個(gè)第一引線，所述第一固定盤12中設(shè)置所述第一信號(hào)接點(diǎn)13，每一所述第一引線對(duì)應(yīng)并焊接在每一所述第一信號(hào)接點(diǎn)13上，使所述第一引線與所述第一信號(hào)接點(diǎn)13電性導(dǎo)接，便于更換和維修。 請(qǐng)參見圖1、圖2和圖3，所述下治具2包括一第二主體部21，以及設(shè)置于所述第二主體部21前端的第二固定盤22，所述第二固定盤22突出所述第二主體部21上、下表面，便于所述第二固定盤22的拆卸和維修，所述第二固定盤22對(duì)應(yīng)所述第一固定盤12，所述第二主體部21中設(shè)置多個(gè)第二引線，所述第二固定盤22中設(shè)置所述第二信號(hào)接點(diǎn)23，每一所述第二引線對(duì)應(yīng)并焊接在每一所述第二信號(hào)接點(diǎn)23上，使所述第一引線與所述第一信號(hào)接點(diǎn)13電性導(dǎo)接，便于更換和維修。所述測(cè)試治具上設(shè)置一數(shù)字電橋，所述數(shù)字電橋用以顯示測(cè)試值，所述數(shù)字電橋分別與第一引線、第二引線電性連接。 第三步，請(qǐng)參見圖1、圖2和圖3，將所述磁環(huán)4固定于所述固定座3，使所述磁環(huán)4中空的區(qū)域?qū)?zhǔn)所述第一信號(hào)接點(diǎn)13和第二信號(hào)接點(diǎn)23，便于所述第一信號(hào)接點(diǎn)13和第二信號(hào)接點(diǎn)23進(jìn)入中空的區(qū)域，防止第一信號(hào)接點(diǎn)13和第二信號(hào)接點(diǎn)23與所述磁環(huán)4本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測(cè)試的方法，其特征在于，包括以下步驟：（1）、提供一磁環(huán)，所述磁環(huán)具有中空的一區(qū)域；（2）、提供一測(cè)試治具，其具有一上治具、一下治具，以及設(shè)置于所述上治具和下治具之間的一固定座，所述上治具的下表面凸設(shè)多個(gè)第一信號(hào)接點(diǎn)，所述下治具的上表面凸設(shè)多個(gè)第二信號(hào)接點(diǎn)，每一所述第一信號(hào)接點(diǎn)對(duì)應(yīng)每一所述第二信號(hào)接點(diǎn)；（3）、將所述磁環(huán)固定于所述固定座；（4）、驅(qū)動(dòng)所述上治具向下運(yùn)動(dòng)，所述下治具向上運(yùn)動(dòng)，使所述第一信號(hào)接點(diǎn)進(jìn)入所述磁環(huán)中空的區(qū)域，所述第二信號(hào)接點(diǎn)進(jìn)入所述磁環(huán)中空的區(qū)域，且每一所述第一信號(hào)接點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的每一所述第二信號(hào)接點(diǎn)接觸，使電信號(hào)通過第一信號(hào)接點(diǎn)與所述第二信號(hào)接點(diǎn)導(dǎo)接；（5）、分離所述上治具和所述下治具，并取出所述磁環(huán)。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測(cè)試的方法，其特征在于，包括以下步驟: (1)、提供一磁環(huán)，所述磁環(huán)具有中空的一區(qū)域； (2)、提供一測(cè)試治具，其具有一上治具、一下治具，以及設(shè)置于所述上治具和下治具之間的一固定座，所述上治具的下表面凸設(shè)多個(gè)第一信號(hào)接點(diǎn)，所述下治具的上表面凸設(shè)多個(gè)第二信號(hào)接點(diǎn)，每一所述第一信號(hào)接點(diǎn)對(duì)應(yīng)每一所述第二信號(hào)接點(diǎn)； (3)、將所述磁環(huán)固定于所述固定座； (4)、驅(qū)動(dòng)所述上治具向下運(yùn)動(dòng)，所述下治具向上運(yùn)動(dòng)，使所述第一信號(hào)接點(diǎn)進(jìn)入所述磁環(huán)中空的區(qū)域，所述第二信號(hào)接點(diǎn)進(jìn)入所述磁環(huán)中空的區(qū)域，且每一所述第一信號(hào)接點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的每一所述第二信號(hào)接點(diǎn)接觸，使電信號(hào)通過第一信號(hào)接點(diǎn)與所述第二信號(hào)接點(diǎn)導(dǎo)接； (5)、分離所述上治具和所述下治具，并取出所述磁環(huán)。2.如權(quán)利要求1所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測(cè)試的方法，其特征在于:所述上治具通過一第一氣缸推動(dòng)，所述下治具通過一第二氣缸推動(dòng)。3.如權(quán)利要求1所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測(cè)試的方法，其特征在于:所述測(cè)試治具具有一支架，所述固定座設(shè)置于所述支架，所述上治具和下治具分別設(shè)置于所述支架，且可相對(duì)所述支架滑動(dòng)。4.如權(quán)利要求1所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測(cè)試的方法，其特征在于:所述第一信號(hào)接點(diǎn)與所述第二信號(hào)接點(diǎn)交錯(cuò)設(shè)置。5.如權(quán)利要求1所述的軟磁圓環(huán)形產(chǎn)品電感測(cè)試的方法，其特征在于:所述第一信號(hào)接點(diǎn)為插針，所述第二...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：周維波，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：惠州鉑科磁材有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：廣東;44
還沒有人留言評(píng)論。發(fā)表了對(duì)其他瀏覽者有用的留言會(huì)獲得科技券。