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    液晶噴墨涂布設備及參數調整方法、液晶涂布與檢查系統技術方案

    技術編號:11057617 閱讀:99 留言:0更新日期:2015-02-18 20:43
    本發明專利技術實施例提供一種液晶噴墨涂布設備及參數調整方法、液晶涂布與檢查系統,涉及液晶顯示技術領域,該方法可根據接收到的液晶涂布檢查設備發送液晶涂布不良信息,靈活調整液晶噴墨涂布設備下次進行涂布時的涂布參數,避免后續的基板再出現相同的涂布不良。液晶噴墨涂布設備的涂布參數調整方法包括:在液晶噴墨涂布設備在第一基板上涂布液晶之后,接收液晶涂布檢查設備發送的第一基板的液晶涂布不良信息;根據液晶涂布不良信息,調整液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數,調整后的涂布參數用于在與第一基板尺寸相同的第二基板上涂布液晶時,補償涂布不良區域發生的缺陷。用于液晶噴墨涂布設備及包含該設備的液晶涂布與檢查系統的制備。

    【技術實現步驟摘要】
    液晶噴墨涂布設備及參數調整方法、液晶涂布與檢查系統
    本專利技術涉及液晶顯示
    ,尤其涉及一種液晶噴墨涂布設備及參數調整方法、液晶涂布與檢查系統。
    技術介紹
    液晶的涂布與對盒工藝是液晶顯示面板制造過程中的重要步驟,其中,液晶噴墨式涂布工藝通過液晶噴墨涂布設備(LiquidCrystalInkjet,簡稱為LCInkjet)在制程基板(如陣列基板或彩膜基板)上涂布液晶,然后通過對盒工藝在真空對合設備(VacuumAligner)中使涂布有液晶的制程基板與涂布有封框膠的對盒基板進行成盒,從而形成液晶顯示面板。由于對盒后的制程基板上液晶涂布后分布的準確性對成盒后的液晶顯示面板的顯示效果有直接影響,因此,在完成上述工藝后還需對成盒后的液晶顯示面板進行液晶涂布狀態的檢測,具體的,即通過液晶涂布檢查設備,如目視檢查機(VisualInspection,簡稱為VI),對成盒后的液晶顯示面板進行初步的檢查,以檢測出液晶在制程基板上的涂布不良:如圖1A所示,在制程基板上某一區域發生涂布后的液晶擴散量過多,即液晶過充(OverFill),由于發生OverFill導致這一區域的液晶顏色較周邊區域更深;或者,如圖1B所示,在制程基板上某一區域發生涂布后的液晶擴散量過少或沒有,即液晶欠充(NotFill),由于發生NotFill導致這一區域的液晶顏色較周邊區域更淺。然而,在實際生產過程中,受到工藝進度的要求,難以做到對每一塊液晶顯示面板進行檢測,只能對成盒后的液晶顯示面板抽樣進行上述的液晶涂布狀態的檢測,這樣一來,由于通過LCInkjet進行液晶涂布的基板尺寸均相同,因此,上述的OverFill或NotFill涂布不良存在一定的位置集中性,即如果檢測出某一塊液晶顯示面板發生上述的涂布不良,那么采用與該液晶顯示面板涂布參數同的所有基板,都會在相應的區域發生同樣的涂布不良,導致對盒后的液晶顯示面板出現連續性的液晶涂布不良,降低產品良率,增加生產成本。
    技術實現思路
    鑒于此,為解決現有技術的問題,本專利技術的實施例提供一種液晶噴墨涂布設備及參數調整方法、液晶涂布與檢查系統,通過該參數調整方法可根據接收到的液晶涂布檢查設備發送液晶涂布不良信息,靈活調整液晶噴墨涂布設備下次進行涂布時的涂布參數,避免后續的基板再出現相同的涂布不良。為達到上述目的,本專利技術的實施例采用如下技術方案:一方面、本專利技術實施例提供了一種液晶噴墨涂布設備的涂布參數調整方法,所述方法包括:在液晶噴墨涂布設備在第一基板上涂布液晶之后,接收液晶涂布檢查設備發送的所述第一基板的液晶涂布不良信息;根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數,調整后的涂布參數用于在與所述第一基板尺寸相同的第二基板上涂布液晶時,補償涂布不良區域發生的缺陷。優選的,所述液晶涂布不良信息包括:涂布不良區域的參數和所述涂布不良區域的缺陷類型;所述調整后的涂布參數包括:在所述第二基板上進行至少一次液晶涂布時,每次涂布區域的參數和在所述每次涂布區域涂布的液晶量。可選的,在所述根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數之前,所述方法還包括:獲取修正量;所述修正量為用于補償所述涂布不良區域發生所述缺陷的液晶量;所述根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數,具體包括:根據所述液晶涂布不良信息以及所述修正量,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數;所述調整后的涂布參數包括:進行一次液晶涂布時,所述涂布區域的參數為所述第二基板上需涂布液晶的整個區域的參數,所述涂布的液晶量為所述第二基板上需涂布的液晶總量與所述修正量之差;進行另一次液晶涂布時,在所述缺陷類型為液晶欠充的情況下,所述涂布區域的參數為所述涂布不良區域的參數,所述涂布的液晶量為所述修正量;或者,在所述缺陷類型為液晶過充的情況下,所述涂布區域的參數為其余區域的參數,所述涂布的液晶量為所述修正量;其中,所述其余區域為所述第二基板上需涂布液晶的整個區域中除所述涂布不艮區域之外的區域。可選的,在所述缺陷類型為液晶過充的情況下,所述調整后的涂布參數包括:所述涂布區域的參數為其余區域的參數,所述涂布的液晶量為所述第二基板上需涂布的液晶總量;其中,所述其余區域為所述第二基板上需涂布液晶的整個區域中除所述涂布不良區域之外的區域。進一步優選的,在所述缺陷類型為所述液晶過充的情況下,在所述根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數之前,所述方法還包括:獲取修正量;所述修正量為用于補償所述涂布不良區域發生所述缺陷的液晶量;將所述修正量與預設閾值進行比較;所述根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數,具體包括:在所述修正量的數值小于或等于所述預設閾值的情況下,根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數。在上述基礎上優選的,所述獲取修正量包括:根據所述涂布不良區域的參數,獲取所述涂布不良區域的面積;根據涂布不良區域的比例與所述第二基板上需涂布的液晶總量的乘積獲取所述修正量;其中,所述涂布不良區域的比例為所述涂布不良區域的面積占所述第二基板上需涂布液晶的整個區域的面積的比例。另一方面、本專利技術實施例提供了一種液晶噴墨涂布設備,所述設備包括:接收單元;所述接收單元用于接收液晶涂布檢查設備發送的第一基板的液晶涂布不良信息;調整單元;所述調整單元用于根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數,調整后的涂布參數用于在與所述第一基板尺寸相同的第二基板上涂布液晶時,補償涂布不良區域發生的缺陷。優選的,所述液晶涂布不良信息包括:涂布不良區域的參數和所述涂布不良區域的缺陷類型;所述調整后的涂布參數包括:在所述第二基板上進行至少一次液晶涂布時,每次涂布區域的參數和在所述每次涂布區域涂布的液晶量。可選的,所述設備還包括:獲取單元,用于獲取修正量;所述修正量為用于補償所述涂布不良區域發生所述缺陷的液晶量;所述調整單元,具體用于根據所述液晶涂布不良信息以及所述修正量,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數;所述調整后的涂布參數包括:進行一次液晶涂布時,所述涂布的區域參數為所述第二基板上需涂布液晶的整個區域的參數,所述涂布的液晶量為所述第二基板上需涂布的液晶總量與所述修正量之差;進行另一次液晶涂布時,在所述缺陷類型為液晶欠充的情況下,所述涂布的區域參數為所述涂布不良區域的參數,所述涂布的液晶量為所述修正量;或者,在所述缺陷類型為液晶過充的情況下,所述涂布區域的參數為其余區域的參數,所述涂布的液晶量為所述修正量;其中,所述其余區域為所述第二基板上需涂布液晶的整個區域中除所述涂布不良區域之外的區域。可選的,在所述缺陷類型為液晶過充的情況下,所述調整后的涂布參數包括:所述涂布區域的參數為其余區域的參數,所述涂布的液晶量為所述第二基板上需涂布的液晶總量;其中,所述其余區域為所述第二基板上需涂布液晶的整個區域中除所述涂布不良區域之外的區域。進一步優選的,在所述缺陷類型為液晶過充的情況下,所述設備還包括:獲取單元,用于獲取修正量;所述修正量為用于補償所述涂布不良區域發生所述缺陷的液晶量;比較單元,本文檔來自技高網
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    液晶噴墨涂布設備及參數調整方法、液晶涂布與檢查系統

    【技術保護點】
    一種液晶噴墨涂布設備的涂布參數調整方法,其特征在于,所述方法包括:在液晶噴墨涂布設備在第一基板上涂布液晶之后,接收液晶涂布檢查設備發送的所述第一基板的液晶涂布不良信息;根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數,調整后的涂布參數用于在與所述第一基板尺寸相同的第二基板上涂布液晶時,補償涂布不良區域發生的缺陷。

    【技術特征摘要】
    1.一種液晶噴墨涂布設備的涂布參數調整方法,其特征在于,所述方法包括:在液晶噴墨涂布設備在第一基板上涂布液晶之后,接收液晶涂布檢查設備發送的所述第一基板的液晶涂布不良信息;所述液晶涂布不良信息包括:涂布不良區域的參數和所述涂布不良區域的缺陷類型;根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數,調整后的涂布參數用于在與所述第一基板尺寸相同的第二基板上涂布液晶時,補償涂布不良區域發生的缺陷;所述調整后的涂布參數包括:在所述第二基板上進行至少一次液晶涂布時,每次涂布區域的參數和在所述每次涂布區域涂布的液晶量;其中,在所述缺陷類型為液晶過充的情況下,所述調整后的涂布參數包括:所述涂布區域的參數為其余區域的參數,所述涂布的液晶量為所述第二基板上需涂布的液晶總量;所述其余區域為所述第二基板上需涂布液晶的整個區域中除所述涂布不良區域之外的區域;或者,在所述根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數之前,所述方法還包括:獲取修正量;所述修正量為用于補償所述涂布不良區域發生所述缺陷的液晶量;所述根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數,具體包括:根據所述液晶涂布不良信息以及所述修正量,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數;所述調整后的涂布參數包括:進行一次液晶涂布時,所述涂布區域的參數為所述第二基板上需涂布液晶的整個區域的參數,所述涂布的液晶量為所述第二基板上需涂布的液晶總量與所述修正量之差;進行另一次液晶涂布時,在所述缺陷類型為液晶欠充的情況下,所述涂布區域的參數為所述涂布不良區域的參數,所述涂布的液晶量為所述修正量;或者,在所述缺陷類型為液晶過充的情況下,所述涂布區域的參數為其余區域的參數,所述涂布的液晶量為所述修正量;其中,所述其余區域為所述第二基板上需涂布液晶的整個區域中除所述涂布不良區域之外的區域。2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,在所述缺陷類型為所述液晶過充的情況下,在所述根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數之前,所述方法還包括:獲取修正量;所述修正量為用于補償所述涂布不良區域發生所述缺陷的液晶量;將所述修正量與預設閾值進行比較;所述根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數,具體包括:在所述修正量的數值小于或等于所述預設閾值的情況下,根據所述液晶涂布不良信息,調整所述液晶噴墨涂布設備進行液晶涂布的涂布參數。3.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述獲取修正量包括:根據所述涂布不良區域的參數,獲取所述涂布不良區域的面積;根據涂布不良區域的比例與所述第二基板上需涂布的液晶總量的乘積獲取所述修正量;其中,所述涂布不良區域的比例為所述涂布不良區域的面積占所述第二基板上需涂布液晶的整個區域的面積的比例。4.一種液晶噴墨涂布設備,其特征在于,所述設備包括:接收單元;所述接收單元用于接收液晶涂布檢查設備發送的第一基板的液晶涂布不良信息;所述液晶涂布不良信息包括:涂布不良區域的參數和所述涂布不良區域的缺陷類型;調整單元;所述調...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:翁銘廷郭知廣方躍
    申請(專利權)人:合肥鑫晟光電科技有限公司京東方科技集團股份有限公司
    類型:發明
    國別省市:安徽;34

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