【技術實現步驟摘要】
并行數據接收時鐘的相位確定方法、接收電路和電子裝置
本專利技術涉及用于確定用于接收并行數據的時鐘的相位的方法,并且還涉及接收電路和電子裝置。
技術介紹
用于接收并行數據的接收電路在本領域中是已知的。 在并行數據的情形中,由于諸如用于承載數據的信號線或構成用于發送數據的發送電路的電路元件的特性上的變化的因素,在接收電路處可能發生數據到達時間上的差異(偏斜(skew))。 當接收這種并行數據時,優選的是使用提供能夠被用來以同步的方式接收所有數據的時序的時鐘。 因此,用于接收并行數據的接收電路調整時鐘的相位從而能夠以同步的方式接收數據,并且通過使用這樣調整的時鐘來接收并行數據。 圖1是例示包含現有技術接收電路的數碼相機的圖。 數碼相機101包括存儲圖像數據的存儲卡120以及接收從存儲卡120輸出的并行數據的接收電路110。數碼相機101還包括控制接收電路110的主控制電路102以及存儲由接收電路110所接收的并行數據的主存儲單元103。數碼相機101還包括未描繪的成像單元以及將所拍攝的圖像數據發送至存儲卡120的發送電路。 接收電路110在主控制電路102的控制下接收從存儲卡120輸出的圖像數據并且將所接收的圖像數據提供至主存儲單元103。 如圖2中所描繪的,存儲卡120與從接收電路110提供的參考時鐘同步地經由8個數據線DO至D7同時輸出用于發送至接收電路110的8位并行數據。 當經由數據線DO至D7發送的數據在接收電路110被接收時,在經由數據線DO發送的數據N-1、N和經由數據線D7發送的數據線N-1、N之間存在偏斜 ...
【技術保護點】
一種方法,包括:對于其中的一個延遲相位與參考時鐘的相位相同、而其中的其它延遲相位相對于所述參考時鐘的相位被延遲的多個延遲相位中的每個延遲相位,與所述參考時鐘同步地發送測試并行數據,并且分別與具有所述延遲相位的延遲時鐘以及具有與所述延遲時鐘的延遲相位相鄰的延遲相位的相鄰延遲時鐘同步地接收所述測試并行數據;對于所述多個延遲相位中的每個延遲相位,判斷通過所述延遲時鐘接收的并行數據是否已被正確地接收,并且執行關于通過所述延遲時鐘接收的并行數據與通過所述相鄰延遲時鐘接收的并行數據是否匹配的比較;從所述多個延遲相位當中確定包含這樣的延遲相位的相位范圍:利用該延遲相位已正確地接收所述測試并行數據,并且對于該延遲相位執行的所述比較的結果表明匹配;以及根據所確定的相位范圍來確定待用于并行數據的接收的接收時鐘的相位。
【技術特征摘要】
2013.09.11 JP 2013-1884961.一種方法,包括: 對于其中的一個延遲相位與參考時鐘的相位相同、而其中的其它延遲相位相對于所述參考時鐘的相位被延遲的多個延遲相位中的每個延遲相位,與所述參考時鐘同步地發送測試并行數據,并且分別與具有所述延遲相位的延遲時鐘以及具有與所述延遲時鐘的延遲相位相鄰的延遲相位的相鄰延遲時鐘同步地接收所述測試并行數據; 對于所述多個延遲相位中的每個延遲相位,判斷通過所述延遲時鐘接收的并行數據是否已被正確地接收,并且執行關于通過所述延遲時鐘接收的并行數據與通過所述相鄰延遲時鐘接收的并行數據是否匹配的比較; 從所述多個延遲相位當中確定包含這樣的延遲相位的相位范圍:利用該延遲相位已正確地接收所述測試并行數據,并且對于該延遲相位執行的所述比較的結果表明匹配;以及根據所確定的相位范圍來確定待用于并行數據的接收的接收時鐘的相位。2.根據權利要求1所述的方法,其中,根據通過排除位于所述相位范圍的端部的任何延遲相位而限定的范圍來確定待用于所述并行數據的接收的所述接收時鐘的相位。3.根據權利要求1所述的方法,其中,將位于所述相位范圍的中間的延遲相位確定為待用于所述并行數據的接收的所述接收時鐘的相位。4.根據權利要求1所述的方法,其中,將待通過使用所述接收時鐘接收的并行數據與所述參考時鐘的上升沿同步地發送。5.根據權利要求1所述的方法,其中,對于所述多個延遲相位中的每個延遲相位,通過使用循環冗余校驗方案來判斷通過所述延遲時鐘接收的并行數據是否已被正確地接收。6.根據權利要求1所述的方法,其中,將所述測試并行數據構造成使得數據在1與0之間改變的位置位于所述參考時鐘的一個時鐘周期內。7.一種接收電路,包括: 延遲鎖定環電路,所述延遲鎖定環電路被配置成:對于其中的一個延遲相位與參考時鐘的相位相同、而其中的其它延遲相位相對于所述參考時鐘的相位被延遲的多個延遲相位中的每個延遲相位,分別輸出具有所述延遲相位的延遲時鐘以及具有與所述延遲時鐘的延遲相位相鄰的延遲相位的相鄰延遲時鐘; 第一存儲電路,所述第一存儲電路被配置成:與從所述延遲鎖定環電路輸出的延遲時鐘同步地接收并且存儲已與所述參考時鐘同步地發送的測試并行數據; 第二存儲電路,所述第二存儲電路被配置成:與從所述延遲鎖定環電路輸出的相鄰延遲時鐘同步地接收并且存儲已與所述參考時鐘同步地發送的所述測試并行數據; 判斷電路,所述判斷電路被配置成:對于所述多個延遲相位中的每個延遲相位,判斷存儲在所述第一存儲電路中的并行數據是否已被正確地接收;并且輸出所述判斷的結果; 比較電路,所述比較電路被配置成:對于所述多個延遲相位中的每個延遲相位,執行關于與所述延遲時鐘同步地接收并且存儲在所述第一存儲電路中的并行數據與與所述相鄰延遲時鐘同步地接收并且存儲在所述第二存儲電路中的并行數據是否匹配的比較;并且輸出所述比較的結果;以及 相位確定電路,所述相位確定電路被配置成:接收所述判斷的結果和所述比較的結果;從所述多個延遲相位當中確定包含這樣的延遲相位的相位范圍:利用該延遲相位已正確地接收所述測試并行數據,并且對于該延遲相位執行的所述比較的結果表明匹配;并且根據所確定的相位范圍來確定待用于并行數據的接收的接收時鐘的相位。8.根據權利要求7所述的接...
【專利技術屬性】
技術研發人員:稻川亮一,
申請(專利權)人:富士通半導體股份有限公司,
類型:發明
國別省市:日本;JP
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