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    單透鏡近遠場基準裝置制造方法及圖紙

    技術編號:11320059 閱讀:135 留言:0更新日期:2015-04-22 09:27
    一種單透鏡近遠場基準裝置。本發(fā)明專利技術采用單透鏡同時將光束近場和遠場成像在CCD上,CCD作為近、遠場的共同基準,從一幅圖像中既獲得自動準直必須的光束的近場,又獲得光束的遠場,通過一幅圖像就可以處理出光束與基準的偏差。與傳統(tǒng)分離設計的近遠場準直基準相比,光路更加緊湊,通過簡化準直光路及減少圖像處理數(shù)據(jù)量,進而提高自動準直速度。該近遠場基準裝置結構簡單,易于實現(xiàn),可有效提高自動準直圖像數(shù)據(jù)獲取和處理速度。

    【技術實現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術涉及激光自動準直,特別是一種單透鏡近遠場基準裝置
    技術介紹
    在高功率激光及一般的激光研宄中,激光光束傳播方向性好,相應的光學系統(tǒng)往 往只針對某一特定光束傳播方向設計。因此,在光學系統(tǒng)設計中,往往設計光束方向控制系 統(tǒng)來實現(xiàn)光束傳播方向的控制,特別是在高功率激光系統(tǒng)中,由于光束傳播方向控制精度 要求高,系統(tǒng)結構復雜,通常采用高精度計算機自動準直的方法實現(xiàn)整個光學系統(tǒng)的自動 準直。隨著高功率激光技術的發(fā)展,激光系統(tǒng)規(guī)模越來越龐大,迫切需要提高現(xiàn)有光束自動 準直的速度。
    技術實現(xiàn)思路
    本專利技術的目的是提出一種單透鏡近遠場基準裝置,該裝置為大規(guī)模激光系統(tǒng)的自 動準直基準提供一種理想選擇。 為實現(xiàn)上述目標,本專利技術的技術解決方案如下: 一種單透鏡近遠場基準裝置,其特點在于:該裝置包括沿待準直光束輸入方向依 次的主透鏡、平行平板和CCD,所述的平行平板位于所述的主透鏡的焦點之前,所述的平行 平板的法線方向和所述的CCD的像面法線方向均與所述的主透鏡的光軸嚴格平行,所述的 CCD的像面位于主光束經(jīng)所述的平行平板二次反射的匯聚點上,所述的CCD的輸出端與計 算機的輸入端相連。 所述的C⑶的中心位于主透鏡的光軸上。 所述的平行平板具有沿光軸方向的移動導軌。 本專利技術單透鏡近遠場基準裝置的主透鏡的主軸確定一條直線,該直線即為裝置的 基準。當光束近場圖像和遠場圖像的中心與CCD的中心重合時,表明待準直光束傳播方向 已經(jīng)調節(jié)到與裝置的基準重合,即實現(xiàn)裝置的準直基準功能。 光束近場中心的識別只需要通過標記點或光束輪廓就可以獲取;光束遠場中心位 于近場圖像內,由于是光束遠場區(qū)域疊加了光束近場,故光束遠場區(qū)域的亮度比光束近場 輪廓區(qū)域要高,可以比較方便地識別遠場方向。從準直圖像中識別出光束的近場中心及遠 場中心的位置,根據(jù)光學系統(tǒng)特點,計算機解析出待準直光束的傳輸矩陣。可將其反饋給自 動控制系統(tǒng),控制系統(tǒng)根據(jù)反饋控制信號進行光束傳輸方向控制,實現(xiàn)自動準直。【附圖說明】 圖1是本專利技術單透鏡近遠場基準裝置的示意圖 圖中: 1-主透鏡;2-平行平板;3-CQ) ;4_計算機。 圖2是同時含有近場及遠場圖像的準直圖像不意圖【具體實施方式】 下面結合實施例和附圖對本專利技術作進一步說明,但不應以此限制本專利技術的保護范 圍。 圖1是本專利技術單透鏡近遠場基準裝置示意圖,由圖可見,本專利技術單透鏡近遠場基 準裝置由主透鏡1、平行平板2、CCD3和計算機4構成。圖2是待準直光束偏離目標光軸時 的準直圖像示意圖,近場圖樣坐標為(xn,yn),遠場圖樣坐標中心為(xf,yf)。以此為例進行 分析。 主透鏡1焦距為f,主透鏡1到達平行平板2前表面的距離為,平行平板的厚度 為d。當待準直光束與目標方向完全重合時,待準直主光束二次反射匯聚于點02,我們稱之 為遠場點,〇 2離平行平板的距離為a2;主光束透過平行平板后,在匯聚之前到達(XD像面, (XD感應到一個匯聚之前的光斑,我們稱之為近場光斑。 根據(jù)光傳輸矩陣,近場光束從主透鏡前表面到達CCD的傳輸矩陣為:【主權項】1. 一種單透鏡近遠場基準裝置,其特征在于:該裝置包括沿待準直光束輸入方向依次 的主透鏡(1)、平行平板(2)和CCD (3),所述的平行平板(2)位于所述的主透鏡(1)的焦點 之前,所述的平行平板(2)的法線方向和所述的CCD (3)的像面法線方向均與所述的主透鏡 (1)的光軸嚴格平行,所述的CCD(3)的像面位于主光束經(jīng)所述的平行平板(2)二次反射的 匯聚點上,所述的CCD(3)的輸出端與計算機(4)的輸入端相連。2. 根據(jù)權利要求1所述的單透鏡近遠場基準裝置,其特征在于所述的CCD (3)的中屯、位 于主透鏡的光軸上。3. 根據(jù)權利要求1所述的單透鏡近遠場基準裝置,其特征在于所述的平行平板具有沿 光軸方向移動導軌。【專利摘要】一種單透鏡近遠場基準裝置。本專利技術采用單透鏡同時將光束近場和遠場成像在CCD上,CCD作為近、遠場的共同基準,從一幅圖像中既獲得自動準直必須的光束的近場,又獲得光束的遠場,通過一幅圖像就可以處理出光束與基準的偏差。與傳統(tǒng)分離設計的近遠場準直基準相比,光路更加緊湊,通過簡化準直光路及減少圖像處理數(shù)據(jù)量,進而提高自動準直速度。該近遠場基準裝置結構簡單,易于實現(xiàn),可有效提高自動準直圖像數(shù)據(jù)獲取和處理速度。【IPC分類】G02B27-30【公開號】CN104536149【申請?zhí)枴緾N201410833519【專利技術人】唐順興, 朱健強, 朱寶強, 郭亞晶, 惠宏超 【申請人】中國科學院上海光學精密機械研究所【公開日】2015年4月22日【申請日】2014年12月23日本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術保護點】
    一種單透鏡近遠場基準裝置,其特征在于:該裝置包括沿待準直光束輸入方向依次的主透鏡(1)、平行平板(2)和CCD(3),所述的平行平板(2)位于所述的主透鏡(1)的焦點之前,所述的平行平板(2)的法線方向和所述的CCD(3)的像面法線方向均與所述的主透鏡(1)的光軸嚴格平行,所述的CCD(3)的像面位于主光束經(jīng)所述的平行平板(2)二次反射的匯聚點上,所述的CCD(3)的輸出端與計算機(4)的輸入端相連。

    【技術特征摘要】

    【專利技術屬性】
    技術研發(fā)人員:唐順興朱健強朱寶強郭亞晶惠宏超
    申請(專利權)人:中國科學院上海光學精密機械研究所
    類型:發(fā)明
    國別省市:上海;31

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