本發(fā)明專利技術(shù)提供了一種彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置和方法,其中裝置包括:數(shù)據(jù)測(cè)量單元、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元和第一計(jì)算單元;數(shù)據(jù)測(cè)量單元包括第一高度尺、第二高度尺和卡尺;數(shù)據(jù)測(cè)量單元用于:控制第一高度尺和第二高度尺的位置,使兩個(gè)高度尺相互平行地位于彈丸兩側(cè)且平行于彈丸軸線;控制卡尺位于彈丸弧形部上,且卡于兩個(gè)高度尺之間;通過(guò)兩個(gè)高度尺和卡尺測(cè)量彈丸弧形部上多個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù);數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元用于:根據(jù)多個(gè)位置數(shù)據(jù),結(jié)合預(yù)設(shè)的直角坐標(biāo)系,生成計(jì)算數(shù)據(jù);第一計(jì)算單元用于:根據(jù)計(jì)算數(shù)據(jù),計(jì)算彈丸弧形部的曲率半徑,得到第一曲率半徑。本發(fā)明專利技術(shù)的目的在于準(zhǔn)確地測(cè)量彈丸弧形部的曲率半徑。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置和方法
本專利技術(shù)涉及彈丸參數(shù)測(cè)量領(lǐng)域,具體而言,涉及一種彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置和方法。
技術(shù)介紹
彈藥?kù)o態(tài)測(cè)量是彈藥準(zhǔn)備工作的一個(gè)重要組成部分,所測(cè)量的數(shù)據(jù)是彈藥本身的一些基本參數(shù)。在常規(guī)兵器靶場(chǎng)試驗(yàn)中,特別是在試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品性能不符合要求時(shí),彈藥?kù)o態(tài)測(cè)量中的計(jì)算數(shù)據(jù),是分析問(wèn)題原因的重要依據(jù),有些計(jì)算數(shù)據(jù)也是對(duì)產(chǎn)品性能評(píng)定的重要依據(jù)。目前,彈丸弧形部曲率半徑的測(cè)量通常采用單個(gè)高度尺配合單個(gè)卡尺的方式,且僅測(cè)量彈體弧形部上三處位置數(shù)據(jù),然后通過(guò)公式計(jì)算出曲率半徑。通過(guò)現(xiàn)有的三點(diǎn)測(cè)量法進(jìn)行測(cè)量時(shí),卡尺可能處于不水平狀態(tài),從而導(dǎo)致測(cè)量誤差。另外由于只在一段圓弧上取三個(gè)點(diǎn),取值較少,彈丸本身的加工誤差、表面的粗糙度以及彈丸弧形部本身固有的斜度都可能影響所測(cè)數(shù)值的準(zhǔn)確性。因此利用現(xiàn)有的三點(diǎn)測(cè)量法得到的彈丸曲率半徑,其準(zhǔn)確性有待驗(yàn)證。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的在于提供一種彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置和方法,準(zhǔn)確地測(cè)量彈丸弧形部的曲率半徑。為了達(dá)到上述目的,本專利技術(shù)提供了一種彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置,包括:數(shù)據(jù)測(cè)量單元、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元和第一計(jì)算單元;所述數(shù)據(jù)測(cè)量單元包括第一高度尺、第二高度尺和卡尺;所述數(shù)據(jù)測(cè)量單元用于:控制所述第一高度尺和所述第二高度尺的位置,使所述兩個(gè)高度尺相互平行地位于彈丸兩側(cè)且平行于所述彈丸軸線;控制所述卡尺位于所述彈丸弧形部上,且卡于所述兩個(gè)高度尺之間;通過(guò)所述兩個(gè)高度尺和所述卡尺測(cè)量所述彈丸弧形部上多個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù);所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元用于:根據(jù)所述多個(gè)位置數(shù)據(jù),結(jié)合預(yù)設(shè)的直角坐標(biāo)系,生成計(jì)算數(shù)據(jù);所述第一計(jì)算單元用于:根據(jù)所述計(jì)算數(shù)據(jù),計(jì)算彈丸弧形部的曲率半徑,得到第一曲率半徑。優(yōu)選地,在上述裝置中,還包括:第二計(jì)算單元,用于:根據(jù)所述彈丸弧形部上三個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù),計(jì)算所述彈丸弧形部的曲率半徑,得到第二曲率半徑。優(yōu)選地,在上述裝置中,還包括:誤差計(jì)算單元,用于:根據(jù)所述第一曲率半徑和所述第二曲率半徑,結(jié)合預(yù)先獲知的曲率半徑理論值,獲得所述第一曲率半徑和/或所述第二曲率半徑的誤差數(shù)據(jù)。優(yōu)選地,在上述裝置中,所述數(shù)據(jù)測(cè)量單元用于:通過(guò)所述兩個(gè)高度尺和所述卡尺測(cè)量所述彈丸弧形部上至少七個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù)。優(yōu)選地,在上述裝置中,所述位置數(shù)據(jù)包括高度數(shù)據(jù)和直徑數(shù)據(jù)。本專利技術(shù)還提供了一種彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量方法,包括:控制第一高度尺和第二高度尺的位置,使所述兩個(gè)高度尺相互平行地位于彈丸兩側(cè)且平行于所述彈丸軸線;控制所述卡尺位于所述彈丸弧形部上,且卡于所述兩個(gè)高度尺之間;通過(guò)所述兩個(gè)高度尺和所述卡尺測(cè)量所述彈丸弧形部上多個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù);根據(jù)所述多個(gè)位置數(shù)據(jù),結(jié)合預(yù)設(shè)的直角坐標(biāo)系,生成計(jì)算數(shù)據(jù);根據(jù)所述計(jì)算數(shù)據(jù),計(jì)算彈丸弧形部的曲率半徑,得到第一曲率半徑。優(yōu)選地,在上述方法中,還包括:根據(jù)所述彈丸弧形部上三個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù),計(jì)算所述彈丸弧形部的曲率半徑,得到第二曲率半徑。優(yōu)選地,在上述方法中,還包括:根據(jù)所述第一曲率半徑和所述第二曲率半徑,結(jié)合預(yù)先獲知的曲率半徑理論值,獲得所述第一曲率半徑和/或所述第二曲率半徑的誤差數(shù)據(jù)。優(yōu)選地,在上述方法中,所述通過(guò)所述兩個(gè)高度尺和所述卡尺測(cè)量所述彈丸弧形部上多個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù),包括:通過(guò)所述兩個(gè)高度尺和所述卡尺測(cè)量所述彈丸弧形部上至少七個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù)。優(yōu)選地,在上述方法中,所述位置數(shù)據(jù)包括高度數(shù)據(jù)和直徑數(shù)據(jù)。本專利技術(shù)實(shí)施例中,通過(guò)數(shù)據(jù)測(cè)量單元中的第一高度尺、第二高度尺和卡尺的配合使用,能夠測(cè)量得到彈丸弧形部上多個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù)。通過(guò)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元能夠?qū)⒍鄠€(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成用于計(jì)算的計(jì)算數(shù)據(jù)。通過(guò)第一計(jì)算單元能夠根據(jù)計(jì)算數(shù)據(jù),計(jì)算得到彈丸弧形部的第一曲率半徑。本專利技術(shù)實(shí)施例中,通過(guò)雙高度尺配合卡尺進(jìn)行測(cè)量,利用雙高度尺卡住卡尺,相比于現(xiàn)有技術(shù)中的單高度尺配合卡尺的測(cè)量方式,能夠保證測(cè)量時(shí)卡尺的水平,減小測(cè)量過(guò)程中的誤差影響,從而使測(cè)量結(jié)果更加準(zhǔn)確。因此通過(guò)本專利技術(shù)實(shí)施例中的裝置,能夠準(zhǔn)確的測(cè)量彈丸弧形部的曲率半徑,達(dá)到減小測(cè)量誤差的效果,得到準(zhǔn)確的彈丸曲率半徑。為使本專利技術(shù)的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下文特舉較佳實(shí)施例,并配合所附附圖,作詳細(xì)說(shuō)明如下。附圖說(shuō)明為了更清楚地說(shuō)明本專利技術(shù)實(shí)施例的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,應(yīng)當(dāng)理解,以下附圖僅示出了本專利技術(shù)的某些實(shí)施例,因此不應(yīng)被看作是對(duì)范圍的限定,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他相關(guān)的附圖。圖1是本專利技術(shù)第一實(shí)施例所提供的彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置的一種結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是本專利技術(shù)第一實(shí)施例所提供的彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置的另一種結(jié)構(gòu)示意圖;圖3是本專利技術(shù)第一實(shí)施例所提供的數(shù)據(jù)測(cè)量單元的測(cè)量原理示意圖;圖4是本專利技術(shù)第一實(shí)施例所提供的彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置的計(jì)算過(guò)程示意圖;圖5是本專利技術(shù)第一實(shí)施例所提供的最小二乘法原理示意圖;圖6是本專利技術(shù)第二實(shí)施例所提供的彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量方法的一種方法流程示意圖;圖7是本專利技術(shù)第二實(shí)施例所提供的彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量方法的另一種方法流程示意圖?,F(xiàn)有技術(shù)主要元件符號(hào)說(shuō)明:第一高度尺310,第二高度尺320,卡尺330,彈丸340。具體實(shí)施方式需要說(shuō)明的是,在不沖突的情況下,本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本專利技術(shù)。為了使本
的人員更好地理解本專利技術(shù)方案,下面將結(jié)合本專利技術(shù)實(shí)施例中附圖,對(duì)本專利技術(shù)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本專利技術(shù)一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。通常在此處附圖中描述和示出的本專利技術(shù)實(shí)施例的組件可以以各種不同的配置來(lái)布置和設(shè)計(jì)。因此,以下對(duì)在附圖中提供的本專利技術(shù)的實(shí)施例的詳細(xì)描述并非旨在限制要求保護(hù)的本專利技術(shù)的范圍,而是僅僅表示本專利技術(shù)的選定實(shí)施例?;诒緦@夹g(shù)的實(shí)施例,本領(lǐng)域技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本專利技術(shù)保護(hù)的范圍。針對(duì)利用現(xiàn)有的三點(diǎn)測(cè)量法得到的彈丸曲率半徑,其準(zhǔn)確性有待驗(yàn)證的問(wèn)題,本專利技術(shù)實(shí)施例提供了一種彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置,能夠準(zhǔn)確地測(cè)量彈丸弧形部的曲率半徑。以下通過(guò)實(shí)施例進(jìn)行描述。實(shí)施例一圖1是本專利技術(shù)第一實(shí)施例所提供的彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置的一種結(jié)構(gòu)示意圖,如圖1所示,一種彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置100,包括:數(shù)據(jù)測(cè)量單元110、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元120和第一計(jì)算單元130;其中數(shù)據(jù)測(cè)量單元110包括第一高度尺、第二高度尺和卡尺。各單元連接關(guān)系如圖1所示,各單元功能如下。數(shù)據(jù)測(cè)量單元110用于:控制第一高度尺和第二高度尺的位置,使兩個(gè)高度尺相互平行地位于彈丸兩側(cè)且平行于彈丸軸線;控制卡尺位于彈丸弧形部上,且卡于兩個(gè)高度尺之間;通過(guò)兩個(gè)高度尺和卡尺測(cè)量彈丸弧形部上多個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元120用于:根據(jù)多個(gè)位置數(shù)據(jù),結(jié)合預(yù)設(shè)的直角坐標(biāo)系,生成計(jì)算數(shù)據(jù)。第一計(jì)算單元130用于:根據(jù)計(jì)算數(shù)據(jù),計(jì)算彈丸弧形部的曲率半徑,得到第一曲率半徑??梢?jiàn),本專利技術(shù)實(shí)施例中,通過(guò)數(shù)據(jù)測(cè)量單元110中的第一高度尺、第二高度尺和卡尺的配合使用,能夠測(cè)量得到彈丸弧形部上多個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù)。通過(guò)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元120能夠?qū)⒍鄠€(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成用于計(jì)算的計(jì)算數(shù)據(jù)。通過(guò)第一計(jì)算單元13本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置,其特征在于,包括:數(shù)據(jù)測(cè)量單元、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元和第一計(jì)算單元;所述數(shù)據(jù)測(cè)量單元包括第一高度尺、第二高度尺和卡尺;所述數(shù)據(jù)測(cè)量單元用于:控制所述第一高度尺和所述第二高度尺的位置,使所述兩個(gè)高度尺相互平行地位于彈丸兩側(cè)且平行于所述彈丸軸線;控制所述卡尺位于所述彈丸弧形部上,且卡于所述兩個(gè)高度尺之間;通過(guò)所述兩個(gè)高度尺和所述卡尺測(cè)量所述彈丸弧形部上多個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù);所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元用于:根據(jù)所述多個(gè)位置數(shù)據(jù),結(jié)合預(yù)設(shè)的直角坐標(biāo)系,生成計(jì)算數(shù)據(jù);所述第一計(jì)算單元用于:根據(jù)所述計(jì)算數(shù)據(jù),計(jì)算彈丸弧形部的曲率半徑,得到第一曲率半徑。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種彈丸弧形部曲率半徑測(cè)量裝置,其特征在于,包括:數(shù)據(jù)測(cè)量單元、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元和第一計(jì)算單元;所述數(shù)據(jù)測(cè)量單元包括第一高度尺、第二高度尺和卡尺;所述數(shù)據(jù)測(cè)量單元用于:控制所述第一高度尺和所述第二高度尺的位置,使所述兩個(gè)高度尺相互平行地位于彈丸兩側(cè)且平行于所述彈丸軸線;控制所述卡尺位于所述彈丸弧形部上,且卡于所述兩個(gè)高度尺之間;通過(guò)所述兩個(gè)高度尺和所述卡尺測(cè)量所述彈丸弧形部上多個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù);所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換單元用于:根據(jù)所述多個(gè)位置數(shù)據(jù),結(jié)合預(yù)設(shè)的直角坐標(biāo)系,生成計(jì)算數(shù)據(jù);所述第一計(jì)算單元用于:根據(jù)所述計(jì)算數(shù)據(jù),計(jì)算彈丸弧形部的曲率半徑,得到第一曲率半徑;還包括:第二計(jì)算單元,用于:根據(jù)所述彈丸弧形部上三個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù),計(jì)算所述彈丸弧形部的曲率半徑,得到第二曲率半徑。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,還包括:誤差計(jì)算單元,用于:根據(jù)所述第一曲率半徑和所述第二曲率半徑,結(jié)合預(yù)先獲知的曲率半徑理論值,獲得所述第一曲率半徑和/或所述第二曲率半徑的誤差數(shù)據(jù)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置,其特征在于,所述數(shù)據(jù)測(cè)量單元用于:通過(guò)所述兩個(gè)高度尺和所述卡尺測(cè)量所述彈丸弧形部上至少七個(gè)點(diǎn)的位置數(shù)據(jù)。...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:王林,宋曉輝,李曉輝,趙友,高秀娟,
申請(qǐng)(專利權(quán))人:中國(guó)人民解放軍六三八六七部隊(duì),
類(lèi)型:發(fā)明
國(guó)別省市:吉林;22
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