一種有機(jī)和無機(jī)爆炸物全面分析儀制造技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)涉及質(zhì)譜分析儀器，具體的說是一種有機(jī)和無機(jī)爆炸物全面分析儀，包括熱解析進(jìn)樣器、采樣布、鎳源、低溫等離子體電離源和分析器，于熱解析進(jìn)樣器上設(shè)置有載氣入口和樣品氣出口；采樣布置于熱解析進(jìn)樣器內(nèi)，采樣布上的樣品經(jīng)熱解析后進(jìn)樣；于熱解析進(jìn)樣器的樣品氣出口后端的氣路上依次設(shè)置有鎳源、低溫等離子體電離源和分析器。本發(fā)明專利技術(shù)的爆炸物全面分析儀，通過低溫等離子體電離源和鎳源兩種電離方式，可全面檢測(cè)有機(jī)和無機(jī)爆炸物；對(duì)于兩種電離源都能電離的爆炸物，還能提高電離效率和檢測(cè)靈敏度；在載氣或者低溫等離子體電離源的放電氣體中添加摻雜氣體，可改變電離源中的反應(yīng)試劑離子，提高爆炸物檢測(cè)的選擇性和特異性。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)涉及質(zhì)譜分析儀器，具體的說是一種有機(jī)和無機(jī)爆炸物全面分析儀。本專利技術(shù)通過低溫等離子體電離源和鎳源兩種電離方式，可以全面檢測(cè)有機(jī)和無機(jī)爆炸物；對(duì)于兩種電離源都能電離的爆炸物，可以提高電離效率和檢測(cè)靈敏度；在載氣或者低溫等離子體電離源的放電氣體中添加摻雜氣體，可以改變電離源中的反應(yīng)試劑離子，提高爆炸物檢測(cè)的選擇性和特異性，有利于爆炸物的定性分析。
技術(shù)介紹
低溫等離子體電離源基于介質(zhì)阻擋放電原理，利用He、Ar、N2、空氣等作為放電氣體，在玻璃管的內(nèi)、外兩個(gè)電極上施加射頻電壓就能發(fā)生介質(zhì)阻擋放電，產(chǎn)生低溫等離子體，利用低溫等離子體可以電離樣品。低溫等離子體電離源已經(jīng)應(yīng)用于檢測(cè)爆炸物，表現(xiàn)出高靈敏和無需樣品前處理，直接電離復(fù)雜基質(zhì)中的爆炸物，并且可以直接電離絕緣體以及導(dǎo)體表面上的爆炸物等優(yōu)越的性能。在低溫等離子體電離源的放電氣體中添加反應(yīng)試劑氣體如鹵代烷烴和四氟乙酸等，還能形成新的爆炸物產(chǎn)物離子，提高爆炸物檢測(cè)的選擇性和特異性，有利于爆炸物的定性分析。但是，低溫等離子體電離源主要應(yīng)用于電離有機(jī)爆炸物，不能電離無機(jī)爆炸物或者電離無機(jī)爆炸物時(shí)電離效率較低。鎳源是一種高靈敏、高穩(wěn)定性的電離源。鎳源作為離子遷移譜的常用電離源，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于爆炸物的檢測(cè)中，并且非常適合用于電離無機(jī)爆炸物。采用鎳源電離爆炸物時(shí)，在樣品載氣如空氣中添加摻雜氣體如二氯甲烷、O3等，可以改變鎳源中的反應(yīng)試劑離子，得到不同的爆炸物產(chǎn)物離子，進(jìn)而提高爆炸物檢測(cè)的特異性和靈敏度，有利于爆炸物的定性分析。由此，本專利技術(shù)設(shè)計(jì)了一種有機(jī)和無機(jī)爆炸物全面分析儀，通過低溫等離子體電離源和鎳源兩種電離方式，可以全面檢測(cè)有機(jī)和無機(jī)爆炸物；對(duì)于兩種電離源都能電離的爆炸物，可以提高電離效率和檢測(cè)靈敏度；在載氣或者低溫等離子體電離源的放電氣體中添加摻雜氣體，可以改變電離源中的反應(yīng)試劑離子，提高爆炸物檢測(cè)的選擇性和特異性，有利于爆炸物的定性分析。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的在于提供一種有機(jī)和無機(jī)爆炸物全面分析儀。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)采用的技術(shù)方案為：一種有機(jī)和無機(jī)爆炸物全面分析儀，包括熱解析進(jìn)樣器、采樣布、鎳源、低溫等離子體電離源和分析器，于熱解析進(jìn)樣器上設(shè)置有載氣入口和樣品氣出口；采樣布置于熱解析進(jìn)樣器內(nèi)，采樣布上的樣品經(jīng)熱解析后進(jìn)樣；載氣從熱解析進(jìn)樣器的載氣入口流入，載帶樣品分子從樣品氣出口流出；于熱解析進(jìn)樣器的樣品氣出口后端的氣路上設(shè)置有鎳源；于鎳源后端的氣路上設(shè)置有低溫等離子體電離源；于低溫等離子體電離源后端的氣路上設(shè)置有分析器。熱解析進(jìn)樣器通過熱金屬塊對(duì)樣品進(jìn)行接觸加熱，或者通過加熱燈對(duì)樣品進(jìn)行非接觸加熱。所述的載氣為空氣或者氮?dú)庵械囊环N或者為兩種氣體的混合氣。從熱解析進(jìn)樣器熱解析出來的樣品分子經(jīng)鎳源和低溫等離子體電離源電離后流入分析器進(jìn)行分析；所述的分析器為質(zhì)譜分析器或者離子遷移譜。本專利技術(shù)的有益效果在于：本專利技術(shù)設(shè)計(jì)的有機(jī)和無機(jī)爆炸物全面分析儀，通過低溫等離子體電離源和鎳源兩種電離方式，可以全面檢測(cè)有機(jī)和無機(jī)爆炸物；對(duì)于兩種電離源都能電離的爆炸物，可以提高電離效率和檢測(cè)靈敏度；在載氣或者低溫等離子體電離源的放電氣體中添加摻雜氣體，可以改變電離源中的反應(yīng)試劑離子，提高爆炸物檢測(cè)的選擇性和特異性，有利于爆炸物的定性分析。附圖說明圖1為本專利技術(shù)的有機(jī)和無機(jī)爆炸物全面分析儀的結(jié)構(gòu)示意圖。其中，1-熱解析進(jìn)樣器；2-載氣入口；3-樣品氣出口；4-采樣布；5-鎳源；6-低溫等離子體電離源；7-分析器。具體實(shí)施方式如圖1所示，一種有機(jī)和無機(jī)爆炸物全面分析儀，包括熱解析進(jìn)樣器1、采樣布4、鎳源5、低溫等離子體電離源6和分析器7，于熱解析進(jìn)樣器1上設(shè)置有載氣入口2和樣品氣出口3；采樣布4置于熱解析進(jìn)樣器1內(nèi)，采樣布4的材料為聚四氟乙烯，采樣布4上的爆炸物樣品經(jīng)熱解析后進(jìn)樣；實(shí)施例1熱解析進(jìn)樣器1通過鹵素光束加熱燈LCB-50對(duì)樣品進(jìn)行非接觸加熱，加熱燈與采樣布4之間的距離為35mm。載氣從熱解析進(jìn)樣器1的載氣入口2流入，載帶樣品分子從樣品氣出口3流出；載氣為純凈的干燥空氣，載氣流速為100-500mL/min。于熱解析進(jìn)樣器1的樣品氣出口3后端的氣路上設(shè)置有鎳源5；鎳源5與樣品氣出口3的距離為15mm。于鎳源5后端的氣路上設(shè)置有低溫等離子體電離源6；低溫等離子體電離源6與鎳源5的距離為10mm。低溫等離子體電離源6采用外徑為6mm、厚為1mm的玻璃管作為介質(zhì)，玻璃管外套有內(nèi)徑為6.1mm、厚為0.1mm、長(zhǎng)為16mm的不銹鋼圓筒作為射頻高壓電極，玻璃管內(nèi)有外徑為1.58mm、長(zhǎng)為100mm的金屬圓柱桿作為地電極，在兩電極之間施加頻率為25KHz，峰峰值為2KVp-p的射頻電壓；放電氣體為He氣，流量為0.2-1L/min；可以選擇在He氣中添加二氯甲烷、水蒸氣等摻雜氣體，提高爆炸物檢測(cè)的特異性和靈敏度。于低溫等離子體電離源6后端的氣路上設(shè)置有離子阱質(zhì)譜分析器7；從熱解析進(jìn)樣器1熱解析出來的樣品分子經(jīng)鎳源5和低溫等離子體電離源6電離后流入離子阱質(zhì)譜分析器7進(jìn)行分析。實(shí)施例2熱解析進(jìn)樣器1通過熱不銹鋼金屬塊對(duì)樣品進(jìn)行接觸加熱。載氣從熱解析進(jìn)樣器1的載氣入口2流入，載帶樣品分子從樣品氣出口3流出；載氣為純凈的干燥空氣，載氣流速為100-500mL/min，可以選擇在空氣中添加二氯甲烷、O3等摻雜氣體，提高爆炸物檢測(cè)的選擇性和特異性。于熱解析進(jìn)樣器1的樣品氣出口3后端的氣路上設(shè)置有鎳源5；鎳源5與樣品氣出口3的距離為15mm。于熱解析進(jìn)樣器1的樣品氣出口3后端的氣路上設(shè)置有鎳源5；鎳源5與樣品氣出口3的距離為15mm。于鎳源5后端的氣路上設(shè)置有低溫等離子體電離源6；低溫等離子體電離源6與鎳源5的距離為10mm。于低溫等離子體電離源6后端的氣路上設(shè)置有離子遷移譜分析器7；從熱解析進(jìn)樣器1熱解析出來的樣品分子經(jīng)鎳源5和低溫等離子體電離源6電離后流入離子遷移譜分析器7進(jìn)行分析。本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種有機(jī)和無機(jī)爆炸物全面分析儀，其特征在于：包括熱解析進(jìn)樣器（1）、采樣布（4）、鎳源（5）、低溫等離子體電離源（6）和分析器（7），于熱解析進(jìn)樣器（1）上設(shè)置有載氣入口（2）和樣品氣出口（3）；采樣布（4）置于熱解析進(jìn)樣器（1）內(nèi)，采樣布（4）上的樣品經(jīng)熱解析后進(jìn)樣；載氣從熱解析進(jìn)樣器（1）的載氣入口（2）流入，載帶樣品分子從樣品氣出口（3）流出；于熱解析進(jìn)樣器（1）的樣品氣出口（3）后端的氣路上設(shè)置有鎳源（5）；于鎳源（5）后端的氣路上設(shè)置有低溫等離子體電離源（6）；于低溫等離子體電離源（6）后端的氣路上設(shè)置有分析器（7）。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種有機(jī)和無機(jī)爆炸物全面分析儀，其特征在于：
包括熱解析進(jìn)樣器（1）、采樣布（4）、鎳源（5）、低溫等離子體電離源
（6）和分析器（7），于熱解析進(jìn)樣器（1）上設(shè)置有載氣入口（2）和樣品
氣出口（3）；
采樣布（4）置于熱解析進(jìn)樣器（1）內(nèi)，采樣布（4）上的樣品經(jīng)熱解
析后進(jìn)樣；
載氣從熱解析進(jìn)樣器（1）的載氣入口（2）流入，載帶樣品分子從樣品
氣出口（3）流出；于熱解析進(jìn)樣器（1）的樣品氣出口（3）后端的氣路上
設(shè)置有鎳源（5）；于鎳源（5）后端的氣路上設(shè)置有低溫等離子體電離源（6）；
于低溫等離子體電離源（...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：李海洋，陳文東，侯可勇，謝園園，趙無垛，花磊，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：中國科學(xué)院大連化學(xué)物理研究所，
類型：發(fā)明
國別省市：遼寧;21