檢測(cè)系統(tǒng)的校正與運(yùn)作方法技術(shù)方案

一種檢測(cè)系統(tǒng)的校正與運(yùn)作方法，該檢測(cè)系統(tǒng)具有一檢測(cè)機(jī)、一傳導(dǎo)線組、一校正模塊以及一探針模塊；該方法包含有下列步驟：先電性連接該檢測(cè)機(jī)與該傳導(dǎo)線組，并電性連接該傳導(dǎo)線組與該校正模塊，該檢測(cè)機(jī)輸出電信號(hào)至該校正模塊，以進(jìn)行短路量測(cè)、斷路量測(cè)以及阻抗量測(cè)的其中之一，并依據(jù)量測(cè)所得的數(shù)值進(jìn)行對(duì)應(yīng)的補(bǔ)償以校正該檢測(cè)系統(tǒng)；而后，電性分離該傳導(dǎo)線組與該校正模塊，并電性連接該傳導(dǎo)線組與該探針模塊，且將該探針模塊與一待測(cè)物接抵后，該檢測(cè)機(jī)輸出電信號(hào)至該探針模塊，以對(duì)該待測(cè)物進(jìn)行電性檢測(cè)。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)是與電性檢測(cè)有關(guān)；特別是指一種。
技術(shù)介紹
隨著電子產(chǎn)品發(fā)展日漸蓬勃，為確保電子產(chǎn)品出廠時(shí)的質(zhì)量，制造、組裝及出廠前，通常都會(huì)通過(guò)檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)電子產(chǎn)品的各精密電子元件間的電性連接是否確實(shí)。而為使檢測(cè)能更加準(zhǔn)確，檢測(cè)系統(tǒng)測(cè)試前，大多會(huì)先將檢測(cè)系統(tǒng)的探針接抵于一校正片上，進(jìn)行檢測(cè)數(shù)值的補(bǔ)償(如歸零)。然而，此種校正方法是一次對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)的整體電路進(jìn)行補(bǔ)償，而無(wú)法準(zhǔn)確地分辨各構(gòu)件組裝或老化的狀況。換言之，當(dāng)該校正檢測(cè)發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)故障時(shí)，并無(wú)法即刻地知悉是機(jī)臺(tái)故障還是探針故障，而必須拆解該檢測(cè)系統(tǒng)的各構(gòu)件逐一進(jìn)行檢測(cè)，才能找出該檢測(cè)系統(tǒng)故障之處，而導(dǎo)致除錯(cuò)的工作過(guò)于攏長(zhǎng)，進(jìn)而造成維修該檢測(cè)系統(tǒng)的效率不佳。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
有鑒于此，本專利技術(shù)的目的用于提供一種，可準(zhǔn)確地了解各主要構(gòu)件當(dāng)下的狀況，而可快速地找出故障處。緣以達(dá)成上述目的，本專利技術(shù)提供有一種；該檢測(cè)系統(tǒng)具有一檢測(cè)機(jī)、一傳導(dǎo)線組、一校正模塊以及一探針模塊；該校正與運(yùn)作方法包含有下列步驟:A.電性連接該檢測(cè)機(jī)與該傳導(dǎo)線組；B.電性連接該傳導(dǎo)線組與該校正模塊；C.該檢測(cè)機(jī)輸出電信號(hào)至該校正模塊，以進(jìn)行短路量測(cè)、斷路量測(cè)以及阻抗量測(cè)的其中之一，并依據(jù)量測(cè)所得的數(shù)值進(jìn)行對(duì)應(yīng)的補(bǔ)償以校正該檢測(cè)系統(tǒng)；D.電性分離該傳導(dǎo)線組與該校正模塊；E.電性連接該傳導(dǎo)線組與該探針模塊；F.將該探針模塊與一待測(cè)物接抵，且該檢測(cè)機(jī)輸出電信號(hào)至該探針模塊，以對(duì)該待測(cè)物進(jìn)行電性檢測(cè)。由此，通過(guò)上述的設(shè)計(jì)，該檢測(cè)系統(tǒng)便可準(zhǔn)確地了解各檢測(cè)機(jī)與探針模塊當(dāng)下的各自狀況，而使得故障發(fā)生時(shí)，可快速地找出故障處。【附圖說(shuō)明】為能更清楚地說(shuō)明本專利技術(shù)，以下結(jié)合較佳實(shí)施例并配合附圖詳細(xì)說(shuō)明如后，其中:圖1為檢測(cè)系統(tǒng)的架構(gòu)圖。圖2為本專利技術(shù)的校正及運(yùn)作方法的流程圖。【具體實(shí)施方式】請(qǐng)參圖1所示，檢測(cè)系統(tǒng)包含有依序電性連接的一檢測(cè)機(jī)10、一傳導(dǎo)線組20、一探針模塊30以及一校正模塊40，該傳導(dǎo)線組20—端設(shè)有一以導(dǎo)體制成的第一接頭21。該探針模塊30上則設(shè)有一以導(dǎo)體制成且與該第一接頭21對(duì)應(yīng)的第二接頭31。該校正模塊40上同樣設(shè)有四個(gè)以導(dǎo)體制成且與該第一接頭21對(duì)應(yīng)的第二接頭41-44，且所述第二接頭41-44分別電性連接短路量測(cè)、50歐姆阻抗量測(cè)、75歐姆阻抗量測(cè)以及斷路量測(cè)所對(duì)應(yīng)的元件(圖未示)。于本實(shí)施例中，該第一接頭21為公接頭，而各該第二接頭31、4144為母接頭，但不以此為限，在其他實(shí)施態(tài)樣中，除使用可重復(fù)插拔的公母接頭的設(shè)計(jì)外，亦可通過(guò)如夾具或其它可進(jìn)行重復(fù)結(jié)合與分離的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)來(lái)達(dá)到連接的目的。由此，請(qǐng)參閱圖2，當(dāng)該檢測(cè)系統(tǒng)運(yùn)作時(shí)，便可執(zhí)行以下校正與運(yùn)作方法來(lái)確保檢測(cè)時(shí)的準(zhǔn)確度，而該方法包含有下列步驟:A.電性連接該檢測(cè)機(jī)10與該傳導(dǎo)線組20，使檢測(cè)機(jī)10可通過(guò)該傳導(dǎo)線組20傳輸電信號(hào)。B.連接該傳導(dǎo)線組20上的公接頭21與該校正模塊40上其中一母接頭4144，使該傳導(dǎo)線組20與該校正模塊電性連接。C.控制該檢測(cè)機(jī)10輸出電信號(hào)至該校正模塊40，以進(jìn)行短路量測(cè)、斷路量測(cè)或是阻抗量測(cè)(依據(jù)步驟B所連接不同的母接頭41-44而對(duì)應(yīng)進(jìn)行不同量測(cè))，并依據(jù)量測(cè)所得的數(shù)值進(jìn)行對(duì)應(yīng)的數(shù)值校正(如歸零、數(shù)值偏移補(bǔ)償?shù)?，以達(dá)到校正該檢測(cè)系統(tǒng)的目的。D.將該傳導(dǎo)線組20上的公接頭21與步驟B所連接的母接頭41_44分離，以電性分離該傳導(dǎo)線組20與該校正模塊40。值得一提的是，當(dāng)本步驟結(jié)束后，更可依據(jù)檢測(cè)需求，再重復(fù)執(zhí)行預(yù)定次數(shù)的步驟B至步驟D，且再次執(zhí)行步驟B時(shí)，該第一接頭21連接的第二接頭41-44將不同于前一次所連接的第二接頭41-44，以使步驟C所執(zhí)行的校正量測(cè)不同于前一次所執(zhí)行的校正量測(cè)。舉例來(lái)說(shuō)，當(dāng)?shù)谝淮问桥c短路量測(cè)的第二接頭41連接時(shí)，第二次則可選擇連接50歐姆阻抗量測(cè)的第二接頭42，第三次則選擇連接75歐姆阻抗量測(cè)的第二接頭43，而第四次則選擇連接斷路量測(cè)的第二接頭44。如此一來(lái)，便可取得較多檢測(cè)資料，而使得校正結(jié)果更加地準(zhǔn)確。另外，利用上述的阻抗由小逐漸至大(O至50至75至的順序量測(cè)，更可使資料以升冪方式依序變化，而使校正能更加地精準(zhǔn)，進(jìn)而可更有效提升校正的準(zhǔn)確度。當(dāng)然，在實(shí)際實(shí)施上，亦可通過(guò)由大阻抗逐漸至小阻抗的降序量測(cè)順序來(lái)達(dá)到相同的效果。如此一來(lái)，校正完成后，便可知悉校正時(shí)的資料，進(jìn)而推得檢測(cè)機(jī)10或其線路是否有故障或老化的情形。E.連接該傳導(dǎo)線組20上的公接頭21與該探針模塊30上的母接頭31，使該傳導(dǎo)線組20與該探針模塊30電性連接。而后，將該探針模塊30的針尖分次接抵于一校正片(圖未示)的短路接點(diǎn)、斷路接點(diǎn)以及阻抗接點(diǎn)上，以進(jìn)行對(duì)應(yīng)短路量測(cè)、斷路量測(cè)以及阻抗量測(cè)，并依據(jù)量測(cè)所得的數(shù)值進(jìn)行對(duì)應(yīng)的數(shù)值校正(如歸零、數(shù)值偏移補(bǔ)償?shù)?，以再次校正該檢測(cè)系統(tǒng)。如此一來(lái)，除可使量測(cè)更加精準(zhǔn)外，更可通過(guò)校正時(shí)的資料，推得該探針模塊是否有故障或老化的情形。F.校正完成后，便可將該探針模塊30與一待測(cè)物100接抵，且該檢測(cè)機(jī)10輸出電信號(hào)至該探針模塊30，而電信號(hào)輸出至該待測(cè)物100后，再回傳至該探針模塊30，并通過(guò)該傳導(dǎo)線組20回傳至該檢測(cè)機(jī)10而形成一信號(hào)回路，該檢測(cè)機(jī)10便可依據(jù)回傳的電信號(hào)判定該待測(cè)物100的電氣特性是否正常，進(jìn)而達(dá)到對(duì)該待測(cè)物100進(jìn)行電性檢測(cè)的目的。由此，通過(guò)上述的設(shè)計(jì)，該檢測(cè)系統(tǒng)便可準(zhǔn)確地了解該檢測(cè)機(jī)10與該探針模塊30當(dāng)下的狀況，且故障發(fā)生時(shí)，電性分離該傳導(dǎo)線組20與該探針模塊30后，重新執(zhí)行步驟B至D，便可快速地分辨是該檢測(cè)機(jī)10故障還是該探針模塊30故障。另外，在實(shí)際實(shí)施上，該探針模塊30初始的設(shè)定通常都是符合標(biāo)準(zhǔn)的，而使得上述的步驟E中所提及的校正檢測(cè)，亦可在步驟F執(zhí)行一段時(shí)間后，并當(dāng)檢測(cè)出的良率持續(xù)過(guò)低時(shí)，再進(jìn)行該探針模塊30的校正檢測(cè)即可。再者，以上所述僅為本專利技術(shù)較佳可行實(shí)施例而已，凡是應(yīng)用本專利技術(shù)說(shuō)明書及申請(qǐng)專利范圍所為的等效變化，理應(yīng)包含在本專利技術(shù)的權(quán)利要求范圍內(nèi)。【主權(quán)項(xiàng)】1.一種，該檢測(cè)系統(tǒng)具有一檢測(cè)機(jī)、一傳導(dǎo)線組、一校正模塊以及一探針模塊；該校正與運(yùn)作方法包含有下列步驟: A.電性連接該檢測(cè)機(jī)與該傳導(dǎo)線組； B.電性連接該傳導(dǎo)線組與該校正模塊； C.該檢測(cè)機(jī)輸出電信號(hào)至該校正模塊，以進(jìn)行短路量測(cè)、斷路量測(cè)以及阻抗量測(cè)的其中之一，并依據(jù)量測(cè)所得的數(shù)值進(jìn)行對(duì)應(yīng)的補(bǔ)償以校正該檢測(cè)系統(tǒng)； D.電性分離該傳導(dǎo)線組與該校正模塊； E.電性連接該傳導(dǎo)線組與該探針模塊； F.將該探針模塊與一待測(cè)物接抵，且該檢測(cè)機(jī)輸出電信號(hào)至該探針模塊，以對(duì)該待測(cè)物進(jìn)行電性檢測(cè)。2.如權(quán)利要求1所述的，其中于步驟E之后，將該探針模塊接抵于一校正片上，且該檢測(cè)機(jī)輸出電信號(hào)至該探針模塊以進(jìn)行短路量測(cè)、斷路量測(cè)以及阻抗量測(cè)的其中之一，并依據(jù)量測(cè)所得的數(shù)值進(jìn)行對(duì)應(yīng)的補(bǔ)償以校正該檢測(cè)系統(tǒng)。3.如權(quán)利要求2所述的，其中于步驟F之前，將該探針模塊接抵于該校正片上。4.如權(quán)利要求2所述的，其中于步驟F之后，將該探針模塊接抵于該校正片上。5.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)系統(tǒng)的運(yùn)作方法，其中，該傳導(dǎo)線組一端具有一第一接頭，而該探針模塊上具有一對(duì)應(yīng)的第二接頭；于步驟E中，連接該第一接頭與該第二接頭，使該傳導(dǎo)線組與該校正模塊電性連接。6.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)系統(tǒng)的運(yùn)作方法，其中該傳導(dǎo)線本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種檢測(cè)系統(tǒng)的校正與運(yùn)作方法，該檢測(cè)系統(tǒng)具有一檢測(cè)機(jī)、一傳導(dǎo)線組、一校正模塊以及一探針模塊；該校正與運(yùn)作方法包含有下列步驟：A.電性連接該檢測(cè)機(jī)與該傳導(dǎo)線組；B.電性連接該傳導(dǎo)線組與該校正模塊；C.該檢測(cè)機(jī)輸出電信號(hào)至該校正模塊，以進(jìn)行短路量測(cè)、斷路量測(cè)以及阻抗量測(cè)的其中之一，并依據(jù)量測(cè)所得的數(shù)值進(jìn)行對(duì)應(yīng)的補(bǔ)償以校正該檢測(cè)系統(tǒng)；D.電性分離該傳導(dǎo)線組與該校正模塊；E.電性連接該傳導(dǎo)線組與該探針模塊；F.將該探針模塊與一待測(cè)物接抵，且該檢測(cè)機(jī)輸出電信號(hào)至該探針模塊，以對(duì)該待測(cè)物進(jìn)行電性檢測(cè)。

【技術(shù)特征摘要】
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【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：顧偉正，呂紹瑋，蔡守仁，王友澤，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：旺矽科技股份有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：中國(guó)臺(tái)灣;71