紫外檢測器光學細分裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術屬于紫外檢測器技術領域，特指一種紫外檢測器光學細分裝置，包括有設置在光路箱體上的燈源、濾光鏡、反光鏡、凹面光柵、半透半反鏡、參比光電池、流過池及樣品光電池，燈源的光依次經過濾光鏡、反光鏡、凹面光柵、半透半反鏡，并從半透半反鏡分別經過參比光電池及流過池、樣品光電池，凹槽光柵由步進電機驅動轉動，在電機轉軸上設置有與凹槽光柵同步轉動的光耦擋片，在光耦擋片的一側設置有光耦，每次通電時由光耦及光耦擋片配合檢測光耦零點實現凹槽光柵的原點定位；本發明專利技術克服了現有檢測器光學單元的缺點，提高儀器穩定性、優化儀器的操作、降低儀器的生產成本、簡化零件的數量。

【技術實現步驟摘要】

：本專利技術屬于紫外檢測器
，特指一種紫外檢測器光學細分裝置。
技術介紹
：在傳統的液相色譜儀器中，一般配備紫外檢測器，包括：燈源1、濾光鏡2、反光鏡3、凹面光柵4、半透半反鏡5、參比光電池6、流過池7及樣品光電池8。它是通過快速記錄流動相的吸光度在特定波長下的變化來測定樣品濃度的變化，因此光學單元是該儀器的核心部件(參見圖1)。通常色譜儀器要求的波長范圍為200nm～700nm，而光柵的轉角只有不到30度，因此傳統的光學單元都采用正弦絲桿的機械結構來細分光柵轉角，將光柵轉角轉變為絲桿的直線運動，通過步進電機驅動絲桿運動轉換為光柵運動，達到細分光路的效果。這樣的裝置雖然實現了光路系統的細分，但是存在較多的不可靠性，首先該結構采用了較多的機械零件，如絲桿、聯軸器、正弦桿、螺桿架等，因此對加工要求很高；其次較多的零部件，在裝配過程中，效率低下，對工人的技能水平和工裝設備都有較高的要求，因此，對于已經銷售的儀器通常不能現場維修，需要返廠，帶來了比較大的成本損耗；第三由于絲桿本身具有一定的誤差，通常情況下，只做比較模糊的原點位，因此，需要每次開機的時候檢測氘燈的特征波長來實現波長校正，這非常不利于使用的便利性。
技術實現思路
：本專利技術的目的是提供一種克服現有檢測器光學單元的缺點，提高儀器穩定性、優化儀器的操作、降低儀器的生產成本的紫外檢測器光學細分裝置。本專利技術是這樣實現的：一種紫外檢測器光學細分裝置，包括有設置在光路箱體上的燈源、濾光鏡、反光鏡、凹面光柵、半透半反鏡、參比光電池、流過池及樣品光電池，燈源的光依次經過濾光鏡、反光鏡、凹面光柵、半透半反鏡，并從半透半反鏡分別經過參比光電池及流過池、樣品光電池，所述的凹槽光柵由步進電機驅動轉動，在電機轉軸上設置有與凹槽光柵同步轉動的光耦擋片，在光耦擋片的一側設置有與光耦擋片配合的光耦，每次通電時由光耦及光耦擋片配合檢測光耦零點實現凹槽光柵的原點定位。上述的濾光鏡濾連接光鏡導桿，濾光鏡導桿設置在濾光鏡支架上，在濾光鏡導桿外套裝有彈簧。上述的凹槽光柵固設在光柵支架上，光柵支架固設在電機轉軸上。上述的光柵支架上固設有轉片，轉片的一端與濾光鏡導桿的下端接觸連接。上述的步進電機的步距角為0.36°，并以100倍的細分。?上述的燈源為汞燈或氘燈。上述的反光鏡通過反光鏡支架固定在光路箱體上。上述的光耦擋片通過光耦軸套固設在電機轉軸上。上述的光耦通過光耦支架固定在光路箱體上，在光耦上設置有開口槽，光耦擋片設置在開口槽內。本專利技術相比現有技術突出的優點是：1、本專利技術是液相色譜儀紫外檢測器的檢測核心，是液相色譜儀檢測精度可靠性和精確性的基礎，克服了現有檢測器光學單元的缺點，提高儀器穩定性、優化儀器的操作、降低儀器的生產成本、簡化零件的數量；2、本專利技術采用的高精度步進電機，步距角為0.36°并以100倍的細分，因此能實現0.0036°的步距角控制，通常光柵的轉角不大于30°，我們以此計算，能實現高于0.1nm的控制精度，遠高于采用正弦絲桿結構的0.2nm的控制精度；?3、本專利技術采用高速光耦，在雙軸電機的末端安裝平面光耦檔片，該檔片和光柵由于都固定在同一電機軸上，因此將同步運動，在每次通電時，只檢測光耦零點即可，無需進行復雜的光路特征波長檢測；4、本專利技術利用汞燈的光源特性，實現都波長的自動校正，在調試過程中，通過記錄汞燈的特征曲線，來修正電機轉角，消除電機在安裝過程中引起的誤差，提高了波長的準確性。附圖說明：圖1是
技術介紹
的示意圖；圖2是本專利技術的正面結構示意圖；圖3是本專利技術的反面結構示意圖；圖4是本專利技術的汞燈特征圖。具體實施方式：下面以具體實施例對本專利技術作進一步描述，參見圖2—4：一種紫外檢測器光學細分裝置，包括有設置在光路箱體10上的燈源20、濾光鏡30、反光鏡40、凹面光柵50、半透半反鏡60、參比光電池70、流過池80及樣品光電池90，燈源20的光依次經過濾光鏡30、反光鏡40、凹面光柵50、半透半反鏡60，并從半透半反鏡60分別經過參比光電池70及流過池80、樣品光電池90，所述的凹槽光柵80由步進電機100驅動轉動，在電機轉軸110上設置有與凹槽光柵80同步轉動的光耦擋片120，在光耦擋片120的一側設置有與?光耦擋片120配合的光耦130，每次通電時由光耦130及光耦擋片120配合檢測光耦零點實現凹槽光柵80的原點定位。上述的濾光鏡30連接濾光鏡導桿140，濾光鏡導桿140設置在濾光鏡支架150上，在濾光鏡導桿140外套裝有彈簧160。上述的凹槽光柵80通過光柵固定圈固設在光柵支架170上，光柵支架170固設在電機轉軸110上。步進電機100采用雙軸電機。上述的光柵支架170上固設有轉片180，轉片180的一端與濾光鏡導桿140的下端接觸連接。上述的步進電機100的步距角為0.36°，并以100倍的細分。因此能實現0.0036°的步距角控制，通常凹槽光柵80的轉角不大于30°，我們以此計算，能實現高于0.1nm的控制精度，遠高于采用正弦絲桿結構的0.2nm的控制精度?上述的燈源20為汞燈或氘燈。利用汞燈的光源特性，實現都波長的自動校正，在調試過程中，通過記錄汞燈的特征曲線，來修正電機轉角，消除電機在安裝過程中引起的誤差，提高了波長的準確性。上述的反光鏡40通過反光鏡支架190固定在光路箱體10上。上述的光耦擋片120通過光耦軸套200固設在電機轉軸110上。上述的光耦130通過光耦支架210固定在光路箱體10上，在光耦130上設置有開口槽，光耦擋片120設置在開口槽內。燈源20設置在燈箱220內，在燈箱220上設置有通孔，為了便于散熱，燈箱220上設置有散熱片。本專利技術的工作原理是：采用步進電機100直接驅動凹面光柵50，以光耦130及光耦擋片120來實?現原點定位，并配合特有的控制系統來實現對光源的細分。本專利技術采用高精度步進電機，步距角為0.36°并以100倍的細分，因此能實現0.0036°的步距角控制，通常光柵50的轉角不大于30°，我們以此計算，能實現高于0.1nm的控制精度，遠高于采用正弦絲桿結構的0.2nm的控制精度。采用高速光耦，在電機的末端安裝擋片120，該檔片120和光柵50由于都固定在同一電機軸上，因此將同步運動，在每次通電時，只檢測光耦零點即可，無需進行復雜的光路特征波長檢測。本專利技術利用光源——汞燈的光源特性，實現都波長的自動校正，在調試過程中，通過記錄汞燈的特征曲線，來修正電機100轉角，消除電機100在安裝過程中引起的誤差，提高了波長的準確性。上述實施例僅為本專利技術的較佳實施例之一，并非以此限制本專利技術的實施范圍，故：凡依本專利技術的形狀、結構、原理所做的等效變化，均應涵蓋于本專利技術的保護范圍之內。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種紫外檢測器光學細分裝置，其特征在于：包括有設置在光路箱體上的燈源、濾光鏡、反光鏡、凹面光柵、半透半反鏡、參比光電池、流過池及樣品光電池，燈源的光依次經過濾光鏡、反光鏡、凹面光柵、半透半反鏡，并從半透半反鏡分別經過參比光電池及流過池、樣品光電池，所述的凹槽光柵由步進電機驅動轉動，在電機轉軸上設置有與凹槽光柵同步轉動的光耦擋片，在光耦擋片的一側設置有與光耦擋片配合的光耦，每次通電時由光耦及光耦擋片配合檢測光耦零點實現凹槽光柵的原點定位。

【技術特征摘要】
1.一種紫外檢測器光學細分裝置，其特征在于：包括有設置在光路箱體上
的燈源、濾光鏡、反光鏡、凹面光柵、半透半反鏡、參比光電池、流過池及樣
品光電池，燈源的光依次經過濾光鏡、反光鏡、凹面光柵、半透半反鏡，并從
半透半反鏡分別經過參比光電池及流過池、樣品光電池，所述的凹槽光柵由步
進電機驅動轉動，在電機轉軸上設置有與凹槽光柵同步轉動的光耦擋片，在光
耦擋片的一側設置有與光耦擋片配合的光耦，每次通電時由光耦及光耦擋片配
合檢測光耦零點實現凹槽光柵的原點定位。
2.根據權利要求1所述的一種紫外檢測器光學細分裝置，其特征在于：所
述的濾光鏡濾連接光鏡導桿，濾光鏡導桿設置在濾光鏡支架上，在濾光鏡導桿
外套裝有彈簧。
3.根據權利要求1所述的一種紫外檢測器光學細分裝置，其特征在于：所
述的凹槽光柵固設在光柵支架上，光柵支架固設在電機轉軸上。

【專利技術屬性】
技術研發人員：江仁謙，夏亞兵，
申請(專利權)人：浙江福立分析儀器有限公司，
類型：發明
國別省市：浙江;33