部件檢查裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術提供一種部件檢查裝置。所述部件檢查裝置包括：透射板，安設至少一個檢查對象部件；攝像頭部，設置在所述透射板的上方并拍攝所述檢查對象部件；照明部，設置在所述透射板的上方并向所述透射板及所述檢查對象部件提供照明；反射部，設置在所述透射板的下方并將所述照明部提供的光中透過所述透射板的光反射至所述攝像頭部；及偏光部，阻斷所述照明部提供的光中被所述檢查對象部件反射的光進入所述攝像頭部，使由所述照明部提供并透過所述透射板的光中被所述反射部反射且重新透過所述透射板的光通過以進入所述攝像頭部。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種部件檢查裝置，尤其涉及一種用于檢查插入印刷電路板上的部件的位置等的部件檢查裝置。
技術介紹
在電子設備內至少有一個印刷電路板構成電路，而在印刷電路板上安裝有各種種類和大小的電子部件。在此，電子部件是指可在印刷電路板上構成電路的集成電路、二極管、電容器、電阻器、晶體管等電子部件。一般而言，用于在印刷電路板上安裝多種電子部件的安裝線包括部件安裝裝置和部件檢查裝置。部件安裝裝置完成將各種電子部件放置于各印刷電路板的規定位置的安裝作業，而部件檢查裝置完成檢查電子部件的安裝位置和/或電子部件的焊接狀態等電子部件的安裝狀態的作業。尤其是，用于檢查電子部件的位置的一般的部件檢查裝置在玻璃面板的上面安設部件，在玻璃面板的下部設置背光板(back light pannel)以向玻璃面板提供照明之后，使用位于玻璃面板上部的攝像頭拍攝部件的影像來檢查部件的位置。但是，現有技術的利用背光板的部件檢查裝置因為結構上的問題不能向背光板連接外部電源。因此，背光板利用干電池等內部電源提供照明。但是，因為干電池的壽命有限，經常發生背光亮度改變或在檢查過程中因干電池的電源不足需中斷檢查的情況等。另外，因為背光的亮度難以調節，在拍攝影像過亮或過暗的情況下，由于部件的影像扭曲，經常出現難以測量部件的準確位置的情況。
技術實現思路
本專利技術的目的在于克服現有技術之不足而提供一種在提供穩定的照明的同時，可確認準確的部件位置的部件檢查裝置。本專利技術目的不限于上述目的，而對于本領域技術人員，未提及的其他目的可通過下面的記載將變得更加明了。為達到上述目的，本專利技術實施例的部件檢查裝置包括:透射板，安設至少一個檢查對象部件；攝像頭部，設置在所述透射板的上方并拍攝所述檢查對象部件；照明部，設置在所述透射板的上方并向所述透射板及所述檢查對象部件提供照明；反射部，設置在所述透射板的下方并將所述照明部提供的光中透過所述透射板的光反射至所述攝像頭部；及偏光部，阻斷所述照明部提供的光中被所述檢查對象部件反射的光進入所述攝像頭部，使由所述照明部提供并透過所述透射板的光中被所述反射部反射且重新透過所述透射板的光通過以進入所述攝像頭部。根據一實施例，所述偏光部包括:第一偏振濾波器，使所述照明部提供的光中偏振為第一偏振光的光通過；第二偏振濾波器，使重新透過所述透射板的光中偏振為第二偏振光的光通過以進入所述攝像頭部。根據一實施例，所述第一偏振濾波器設置在所述照明部和所述透射板之間，而所述第二偏振濾波器設置在所述攝像頭部和所述透射板之間。根據一實施例，由所述照明部提供的光在通過所述第一偏振濾波器的過程中偏振為第一偏振光，而所述偏振為第一偏振光的光中被所述檢查對象部件反射的光被所述第二偏振濾波器阻斷進入所述攝像頭部。根據一實施例，所述反射部將在通過所述第一偏振濾波器的過程中偏振為第一偏振光的光中透過所述透射板的變換為所述第二偏振光反射至所述攝像頭部。根據一實施例，所述反射部包括第一棱鏡片及設置在所述第一棱鏡片下部的第二棱鏡片，其中，所述第一棱鏡片向所述第二棱鏡片折射及擴散偏振為所述第一偏振光并透過所述透射板的光，而所述第二棱鏡片將通過所述第一棱鏡片的偏振為所述第一偏振光的光變換為所述第二偏振光并反射至所述攝像頭部。根據一實施例，所述第一棱鏡片由具有三角形截面的多個第一棱鏡向上而形成，而所述第二棱鏡片由具有三角形截面的多個第二棱鏡向下而形成。根據一實施例，所述多個第一棱鏡的偏向圖案和所述多個第二棱鏡的偏向圖案相互垂直。根據一實施例，所述反射部包括由多個棱鏡向下而形成的棱鏡片。根據一實施例，所述多個棱鏡的偏向圖案與所述棱鏡片的界面形成45度的偏向角。本專利技術的其他具體事項，將通過下面的詳細說明及附圖變得更加明了。本專利技術的實施例至少具有如下效果:因為用于拍攝部件的位置的照明部位于透射板的上方，因此，可利用穩定的外部電源提供照明。即使攝像頭部和照明部位于檢查對象部件的上方，也能利用偏振濾波器獲得清晰的部件影像。本專利技術的效果不限于所述內容，更多的效果包含于本說明書中。【附圖說明】圖1是本專利技術實施例的部件檢查裝置的概略示意圖；圖2是本專利技術實施例的部件檢查裝置的偏光部的概略示意圖；圖3是本專利技術第一實施例的反射部的概略示意圖；圖4是本專利技術第二實施例的反射部的概略示意圖；圖5是利用本專利技術第一實施例的反射部的部件檢查原理示意圖；圖6是在沒有附著本專利技術實施例的偏光部的情況下的拍攝圖像；圖7是在附著本專利技術實施例的偏光部的情況下的拍攝圖像。附圖標記:1:部件檢查裝置 10:拍攝部11:攝像頭部12:透鏡13:照明部20:偏光部21:濾波器框架 22:第一偏振濾波器23:第二偏振濾波器30:透射板40、140:反射部41:第一棱鏡片41a:第一棱鏡41b ??第一谷42:第二棱鏡片42a:第二棱鏡42b:第二谷50:支撐框架60:檢查對象部件140a:棱鏡140b:谷【具體實施方式】本專利技術的優點及特征和實現方法將通過結合附圖和將要詳細描述的實施例變得明了。但是，本專利技術不受下述實施例的限制而可通過各種形式實現，本實施例的目的旨在更好地說明本專利技術，為本專利技術所屬
的技術人員理解提供幫助，而本專利技術只受權利要求書的限制。在本說明書中，相同的附圖標記指示相同的元件。另外，記載于本說明書的實施例將參考作為本專利技術的理想示例圖的截面圖及/或概略圖進行說明，因此，根據制造技術和/或允許誤差等，示例圖的形狀有可能會變形。另夕卜，為便于說明，本專利技術中的各附圖有可能被放大或縮小表示。在本說明書中，相同的附圖標記指示相同的要素。在本說明書中，在沒有特別說明的情況下，單數也可以指復數。用于說明書的“包括”(comprises)及/或“包含” (comprising)不排除所涉及的結構、步驟、動作和/或元件中包括或添加一個以上的其他結構、步驟、動作和/或元件。表示空間相對位置的術語“下”(below)、“在…下方”(beneath)、“下部”(lower)、“在…上方” (above)、“上部” (upper)等用于描述圖中各要素之間的相互關系。在本說明書中，相同的附圖標記指示相同的要素。下面，結合附圖對本專利技術的部件檢查裝置的實施例進行詳細說明。圖1是本專利技術實施例的部件檢查裝置的概略示意圖。如圖1所示，本專利技術實施例的部件檢查裝置I包括拍攝部10、偏光部20、透射板30、反射部40及支撐框架50。拍攝部10包括攝像頭部11、透鏡部12及照明部13。攝像頭部11是用于拍攝至少一個檢查對象部件60的位置的結構，設置于檢查對象部件60及透射板30的上方。檢查對象部件60是安裝在印刷電路板(未圖示)上的各種電子部件。攝像頭部11的圖像檢測部件可選用CCD(Charge Coupled Device,電荷f禹合器件)或 CMOS (Complementary metal-oxide semiconductor,互補金屬氧化物半導體)等拍攝元件。圖1表示設置一個攝像頭部11的示例，但部件檢查裝置I也可以具備拍攝不同位置的多個攝像頭部11。在所述攝像頭部11的下部設置有透鏡部12。透鏡部12的焦距可以是攝像頭部11和檢查對象部件60之間的距離，并且可具備使透射板30的一定區域形成為拍攝圖像的倍率。在具備多個攝像頭部1本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種部件檢查裝置，包括：透射板，安設至少一個檢查對象部件；攝像頭部，設置在所述透射板的上方并拍攝所述檢查對象部件；照明部，設置在所述透射板的上方并向所述透射板及所述檢查對象部件提供照明；反射部，設置在所述透射板的下方并將所述照明部提供的光中透過所述透射板的光反射至所述攝像頭部；偏光部，阻斷所述照明部提供的光中被所述檢查對象部件反射的光進入所述攝像頭部，使由所述照明部提供并透過所述透射板的光中被所述反射部反射且重新透過所述透射板的光通過以進入所述攝像頭部。

【技術特征摘要】
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【專利技術屬性】
技術研發人員：潘種億，
申請(專利權)人：三星泰科威株式會社，
類型：發明
國別省市：韓國;KR