一種定位高速并行數(shù)據(jù)流觸發(fā)點(diǎn)位置的方法技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)提供一種定位高速并行數(shù)據(jù)流觸發(fā)點(diǎn)位置的方法，可以直接使用該觸發(fā)點(diǎn)位置，用于實(shí)現(xiàn)數(shù)字三維示波器。步驟一、同時(shí)將并行數(shù)據(jù)和觸發(fā)帶下限與上限進(jìn)行比較，得到兩路并行的比較結(jié)果；步驟二、將LData分成若干組，先將第一級(jí)分組數(shù)據(jù)按位“或”，確定該組是否有值為1的比特位，同時(shí)確定第一個(gè)值為1的比特位的位置；步驟三、將第一級(jí)分組按位“或”后得到的數(shù)據(jù)再分組，采用步驟二的方法找到第一個(gè)值為1的比特位的位置，直到可以確定LData中第一個(gè)值為1的比特位的位置；步驟四、找到LData中第一個(gè)值為1的比特位后，生成與之對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)掩碼LDataMask；步驟五、所述數(shù)據(jù)掩碼LDataMask與HData進(jìn)行“與”操作，得到數(shù)據(jù)掩碼HDataMask；步驟六、對(duì)數(shù)據(jù)掩碼HDataMask按照步驟二與步驟三的方法找到第一個(gè)值為1的比特位的位置，即為該數(shù)據(jù)流中觸發(fā)點(diǎn)的位置。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
【專利摘要】本專利技術(shù)提供，可以直接使用該觸發(fā)點(diǎn)位置，用于實(shí)現(xiàn)數(shù)字三維示波器。步驟一、同時(shí)將并行數(shù)據(jù)和觸發(fā)帶下限與上限進(jìn)行比較，得到兩路并行的比較結(jié)果；步驟二、將LData分成若干組，先將第一級(jí)分組數(shù)據(jù)按位“或”，確定該組是否有值為1的比特位，同時(shí)確定第一個(gè)值為1的比特位的位置；步驟三、將第一級(jí)分組按位“或”后得到的數(shù)據(jù)再分組，采用步驟二的方法找到第一個(gè)值為1的比特位的位置，直到可以確定LData中第一個(gè)值為1的比特位的位置；步驟四、找到LData中第一個(gè)值為1的比特位后，生成與之對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)掩碼LDataMask；步驟五、所述數(shù)據(jù)掩碼LDataMask與HData進(jìn)行“與”操作，得到數(shù)據(jù)掩碼HDataMask；步驟六、對(duì)數(shù)據(jù)掩碼HDataMask按照步驟二與步驟三的方法找到第一個(gè)值為1的比特位的位置，即為該數(shù)據(jù)流中觸發(fā)點(diǎn)的位置?！緦＠f明】
本專利技術(shù)涉及數(shù)字存儲(chǔ)示波器數(shù)據(jù)采樣觸發(fā)領(lǐng)域，尤其涉及，用于提高波形顯示穩(wěn)定性。
技術(shù)介紹
高速數(shù)字示波器通過高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)對(duì)模擬信號(hào)進(jìn)行量化采樣，將數(shù)據(jù)送入現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列(FPGA)進(jìn)行處理后存儲(chǔ)到存儲(chǔ)器內(nèi)，顯示時(shí)從存儲(chǔ)器中讀取數(shù)據(jù)送入顯示器顯示。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，示波器的采樣率要求達(dá)到數(shù)GHz到數(shù)十GHz，但是FPGA遠(yuǎn)達(dá)不到如此高的處理速度，因此需要對(duì)采樣后的數(shù)據(jù)進(jìn)行并行處理。多路并行數(shù)據(jù)流給高速數(shù)據(jù)采集觸發(fā)系統(tǒng)帶來挑戰(zhàn)，尤其對(duì)于數(shù)字三維示波器，高捕獲率的實(shí)現(xiàn)要求快速并準(zhǔn)確找到觸發(fā)位置。 傳統(tǒng)的觸發(fā)點(diǎn)定位方法之一是以時(shí)間間隔測(cè)量為基礎(chǔ)。如【專利技術(shù)者】林桐, 劉家瑋, 胡志臣, 儲(chǔ)艷麗, 張曉申請(qǐng)人:北京航天測(cè)控技術(shù)有限公司本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種定位高速并行數(shù)據(jù)流觸發(fā)點(diǎn)位置的方法，其特征在于，包括以下步驟：步驟一、同時(shí)將并行數(shù)據(jù)和觸發(fā)帶下限與上限進(jìn)行比較，得到兩路并行的比較結(jié)果，記為L(zhǎng)Data與HData；其中LData每一位表示采樣點(diǎn)數(shù)據(jù)流和觸發(fā)帶下限比較的結(jié)果，小于觸發(fā)帶下限時(shí)置1，否則置0；HData每一位表示采樣點(diǎn)數(shù)據(jù)流和觸發(fā)帶上限限比較的結(jié)果，大于于觸發(fā)帶上限時(shí)置1，否則置0；步驟二、將所述的LData分成若干組，先將第一級(jí)分組數(shù)據(jù)按位“或”，確定該組是否有值為1的比特位，同時(shí)確定該組內(nèi)第一個(gè)值為1的比特位的位置；步驟三、將第一級(jí)分組按位“或”后得到的數(shù)據(jù)再分組，采用步驟二的方法找到第一個(gè)值為1的比特位的位置，直到可以確定LData中第一個(gè)值為1的比特位的位置；步驟四、找到所述LData中第一個(gè)值為1的比特位后，生成與之對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)掩碼LDataMask；步驟五、所述數(shù)據(jù)掩碼LDataMask與上述的HData進(jìn)行“與”操作，得到數(shù)據(jù)掩碼HDataMask；步驟六、對(duì)數(shù)據(jù)掩碼HDataMask按照步驟二與步驟三的方法找到第一個(gè)值為1的比特位的位置，即為該數(shù)據(jù)流中觸發(fā)點(diǎn)的位置。

【技術(shù)特征摘要】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：林桐，劉家瑋，胡志臣，儲(chǔ)艷麗，張曉，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：北京航天測(cè)控技術(shù)有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：北京;11