本實用新型專利技術涉及測試探針的結構改進。本實用新型專利技術提出一種測試探針，包括：一導體的桿體，該桿體的一端連接于一套體；一導體的套體，該套體包括一圍合的壁面和一底面，該壁面遠離該底面的一端形成一開口，且該底面上開設有一通孔，該壁面與該桿體的一端固定連接；一導體的探針頭，該探針頭包括一支桿部和與之連接的一接觸部，該探針頭設置在該套體內，且該支桿部穿設于該套體的底面上的該通孔，該接觸部至少有部分外露出該套體的該開口；一導體的彈簧，該彈簧套設在該探針頭的支桿部，其兩端受限于該探針頭的接觸部和該套體的底面；一導線，該導線的一端連接于該支桿部，該導線的另一端連接于該桿體。本實用新型專利技術用于對電子類產品進行測試。
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及測試探針的結構改進。
技術介紹
現有電子類產品在生產過程中均會涉及對其在接通電源情況下進行相關參數檢測的工序，一般會采用測試探針來使其與電子類產品的被測試點進行接觸并實現電性連接。如圖1所示，是目前LED光源，如COB (chip on board)光源封裝產品的一種常用的測試探針，其是采用通過金屬桿I ’上連接設有一金屬套2 ’，該金屬套2 ’的開口和底部的金屬桿I’形成的腔體內設置一探針頭4’和彈簧3’，通過金屬桿I’與彈簧3’、彈簧3’與探針頭4’的接觸的接觸的方式來將加載于金屬桿I’的測試電流傳送到探針頭4’。但經過多次使用后，由于彈簧3’的變形造成探針頭4’、彈簧3’和金屬桿I’三者接觸不良；并且加之由于金屬桿I’較寬(需至少大于該金屬套2’的最外徑)，會遮擋光源，從而導致測試數據的不準確，甚至測試實驗失敗。一專利公開號CN1700020的提出一種測試探針，對于探針的強度和行程提出了改進，但是其整體結構與上述的現有測試探針結構主體類似，也存在上述的技術問題。
技術實現思路
因而，本技術針對上述不足，提出一種改進的測試探針。為此，本技術采用如下技術方案進行解決:一種測試探針，包括:一導體的桿體，該桿體的一端連接于一套體；一導體的套體，該套體包括一圍合的壁面和一底面，該壁面遠離該底面的一端形成一開口，且該底面上開設有一通孔，該壁面與該桿體的一端固定連接；一導體的探針頭，該探針頭包括一支桿部和與之連接的一接觸部，該探針頭設置在該套體內，且該支桿部穿設于該套體的底面上的該通孔，該接觸部至少有部分外露出該套體的該開口；—導體的彈簧，該彈簧套設在該探針頭的支桿部，其兩端受限于該探針頭的接觸部和該套體的底面；一導線，該導線的一端連接于該支桿部，該導線的另一端連接于該桿體。本技術采用如上技術方案實現，可以避免因彈簧的形變而導致測試探針測試不良。【附圖說明】圖1是現有技術的測試探針的剖視圖；圖2是本技術一實施例的剖視圖。【具體實施方式】為進一步說明各實施例，本技術提供有附圖。這些附圖為本技術揭露內容的一部分，其主要用以說明實施例，并可配合說明書的相關描述來解釋實施例的運作原理。配合參考這些內容，本領域普通技術人員應能理解其他可能的實施方式以及本技術的優點。圖中的組件并未按比例繪制，而類似的組件符號通常用來表示類似的組件。現結合附圖和【具體實施方式】對本技術進一步說明。參閱圖2所示，作為本技術一實施例的測試探針，包括:一導體的桿體1，該桿體I的一端連接于一套體2 ；一導體的套體2，該套體2包括一圍合的壁面21和一底面22，該壁面21遠離該底面22的一端形成一開口 211，且該底面22上開設有一通孔221，該壁面21與該桿體I的一端固定連接；一導體的探針頭3，該探針頭3包括一支桿部32和與之連接的一接觸部31，在該接觸部31與該支桿部32連接處，該接觸部31的外徑大于該支桿部32的外徑，即二者連接處形成一個階面，該探針頭3設置在該套體2內，且該支桿部32穿設于該套體2的底面22上的該通孔221，該接觸部31至少有部分外露出該套體2的該開口 211 ；一導體的彈簧4，該彈簧4套設在該探針頭3的支桿部32，其兩端受限于該探針頭3的接觸部31和該套體2的底面22，從而壓縮彈簧4進行蓄能；一導線5，該導線5的一端連接于該支桿部32，該導線5的另一端連接于該桿體I。該實施的導體的桿體1、導體的套體2、導體的探針頭3和導體的彈簧4均可以采用金屬材質實現，具有良好導電性能和物理強度。于該實施例優選的，該探針頭3的支桿部32還形成一限制結構，用于限制該支桿部32從該套體2的底面22的通孔221脫出。該實施例具體的，該支桿部32的限制結構是由該支桿部32以“7”字型彎折形成。當然的，本領域技術人員還可以采用其他方式實現，例如在探針頭3的支桿部32位于該套體2的底面22的通孔221外露部分連接一個外徑大于通孔221孔徑的部件，以進行限制，避免脫出。但是該實施例的支桿部32的“7”字形的設計也是用于與導線5的弧形設計相配合的，起到更加良好的其他技術效果，將在下面詳細說明。于該實施例優選的，該導線5的兩端是通過焊接而分別連接設置在該支桿部32和該桿體I ;且該導線5是彎成具有一個弧形結構后進行連接的。于該實施例優選的，為了避免導線老化而影響導電性，該導線5上還包覆一層絕緣層。該導線5采用導電性能優良的材質實現，如采用硅橡膠電線(一種銅芯軟線)。迎合該實施例的支桿部32的“7”字形的設計，將導線5彎成具有一個弧形結構，再分別與支桿部32和桿體I焊接在一起。這樣既可讓探針頭3比較靈活的活動。該導線5的弧形設計能有效的保證在探針頭3在大幅度活動情況下，導線5整體擺動幅度小，進而減少導線5因金屬疲勞而導致導線5損壞的問題。實施例的測試探針在未進行測試時，由于彈簧4的作用，探針頭3露在套體2外面。測試時，該桿體I下壓，探針頭3與被測試對象(如COB燈)的電極接觸，此時探針頭3縮進套體2內(縮進去的程度與如COB板等測試對象的厚度有關)。由于彈簧4的形變作用，迫使探針頭3與被測試對象(如COB燈)的電極緊緊接觸，從而減少接觸電阻，導線5將探針頭3與桿體I直接連接，避免現有技術的測試探針中因彈簧形變，造成電接觸不良的現象。綜上可見，該實施例與現有技術的測試探針相比具體如下優點:一、改良前的測試探針，電流是經過金屬桿I’流到彈簧3’再到探針頭4’ ；而改良后的該實施例，電流是由桿體I通過導線5直接傳送到探針頭3，避免因彈簧形變而導致測試不良缺陷；二、改良前的測試探針的金屬桿I’是較寬的桿體，需至少大于該金屬套2’的最外徑；而改良后的該實施例，桿體I只是與該套體2的壁面21進行連接固定，可以采用較細的金屬桿，從而不影響一些產品的測試，如測試LED光源；三、改良前的測試探針，其金屬套2’與金屬桿I’需要底部焊接，銜接不牢固，容易損壞，也不容易更換彈簧3’ ；而改良后的該實施例則無這些不足。由此可見，該實施例克服了原先的測試探針因彈簧形變造成金屬桿與探針頭接觸不良影響測試的缺陷，具有使用壽命長，減少了接觸電阻的優點；且該實施例的桿體可以采用圓柱形的細金屬桿，對于如LED光源的測試中，能減少對測試燈具所發出的光的遮擋，從而減少測試誤差的優點。盡管結合優選實施方案具體展示和介紹了本技術，但所屬領域的技術人員應該明白，在不脫離所附權利要求書所限定的本技術的精神和范圍內，在形式上和細節上可以對本技術做出各種變化，均為本技術的保護范圍。【主權項】1.一種測試探針，其特征在于，包括: 一導體的桿體，該桿體的一端連接于一套體； 一導體的套體，該套體包括一圍合的壁面和一底面，該壁面遠離該底面的一端形成一開口，且該底面上開設有一通孔，該壁面與該桿體的一端固定連接； 一導體的探針頭，該探針頭包括一支桿部和與之連接的一接觸部，該探針頭設置在該套體內，且該支桿部穿設于該套體的底面上的該通孔，該接觸部至少有部分外露出該套體的該開口 ； 一導體的彈簧，該彈簧套設在該探針頭的支桿部，其兩端受限于該探針頭的接觸部和該套體的底面； 一導線，該導線的一端連接于該支桿部，該導線的另一端連接于該本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種測試探針，其特征在于，包括：一導體的桿體，該桿體的一端連接于一套體；一導體的套體，該套體包括一圍合的壁面和一底面，該壁面遠離該底面的一端形成一開口，且該底面上開設有一通孔，該壁面與該桿體的一端固定連接；一導體的探針頭，該探針頭包括一支桿部和與之連接的一接觸部，該探針頭設置在該套體內，且該支桿部穿設于該套體的底面上的該通孔，該接觸部至少有部分外露出該套體的該開口；一導體的彈簧，該彈簧套設在該探針頭的支桿部，其兩端受限于該探針頭的接觸部和該套體的底面；一導線，該導線的一端連接于該支桿部，該導線的另一端連接于該桿體。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：高春瑞，
申請(專利權)人：廈門多彩光電子科技有限公司，
類型：新型
國別省市：福建;35
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