本發明專利技術涉及超聲波探頭技術領域，尤其涉及一種接觸式直探頭，包括外殼、設置在外殼上端的探頭接口以及設置在外殼內的保護膜、壓電晶片和阻尼塊，保護膜設置在外殼的下端口，壓電晶片設置在保護膜的上面，阻尼塊設置在壓電晶片的上面，壓電晶片與探頭接口電連接，壓電晶片和保護膜之間填充有緩沖油液，外殼的下端還安裝有殼套，殼套的中心開有通孔。本發明專利技術的接觸式直探頭，通過在壓電晶片和保護膜之間填充緩沖油液，并且在外部增加殼套，可以進一步保護探頭的壓電晶片，適用于粗糙表面的探測，貼合性好，誤差小，探測更精確。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及超聲波探頭
，尤其涉及一種適用于粗糙表面探測的接觸式直探頭。
技術介紹
在超聲波檢測過程中，超聲波的發射和接收是通過探頭來實現的。探頭的性能直接影響超聲波的特性，影響超聲波的檢測性能。在超聲檢測中使用的探頭，是利用材料的壓電效應實現電能、聲能轉換的換能器。探頭中的關鍵部件是晶片，晶片是一個具有壓電效應的單晶或者多晶體薄片，它的作用是將電能和聲能互相轉換。現有的超聲波探頭在探測粗糙表面時，很容易造成磨損，導致探測結果不準確。
技術實現思路
本專利技術要解決的技術問題是:為了解決現有技術中的不足，本專利技術提供一種接觸式直探頭。本專利技術解決其技術問題所采用的技術方案是:一種接觸式直探頭，包括外殼、設置在外殼上端的探頭接口以及設置在外殼內的保護膜、壓電晶片和阻尼塊，所述保護膜設置在外殼的下端口，壓電晶片設置在保護膜的上面，阻尼塊設置在壓電晶片的上面，所述壓電晶片與探頭接口電連接，所述壓電晶片和保護膜之間填充有緩沖油液，所述外殼的下端還安裝有殼套，所述殼套的中心開有通孔，所述殼套的外圈設有多個圓周均布的內凹的圓弧面，使得殼套的外圈的形狀類似波紋狀。進一步，為了便于旋轉殼套，所述內凹的圓弧面所對的圓心角為55° -65°，弧長為殼套的外圈周長的1/28-1/24，相鄰內凹的圓弧面之間的間距為殼套的外圈周長的1/45-1/35。進一步，具體地，所述殼套的下端面為外凸的圓弧面，當殼套與外殼安裝緊密時，保護膜被緩沖油液擠壓至通孔，位于通孔外的保護膜與殼套的下端面外凸的圓弧面圓滑過渡。為了便于調節殼套與外殼的松緊，便于更換殼套，作為優選，所述殼套的內圈與外殼的外圈螺紋連接。為了使得保護膜能夠被擠出到通孔外，所述通孔的直徑d小于外殼的直徑D。 進一步，具體地，所述保護膜為彈性保護膜。作為優選，所述保護膜為聚氨酯軟膜。本專利技術的有益效果是，本專利技術的接觸式直探頭，通過在壓電晶片和保護膜之間填充緩沖油液，并且在外部增加殼套，可以進一步保護探頭的壓電晶片，適用于粗糙表面的探測，貼合性好，誤差小，探測更精確，殼套的外圈的波紋可以防止殼套在安裝過程中打滑，提高工作效率。【附圖說明】下面結合附圖和實施例對本專利技術進一步說明。圖1是本專利技術未安裝殼套的結構示意圖。圖2是本專利技術安裝殼套的結構示意圖。圖3是本專利技術殼套的仰視圖。圖中:1、外殼，2、探頭接口，3、保護膜，4、壓電晶片，5、阻尼塊，6、緩沖油液，7、殼套，71，通孔，72、內凹的圓弧面，73、外凸的圓弧面。【具體實施方式】現在結合附圖對本專利技術作進一步詳細的說明。這些附圖均為簡化的示意圖，僅以示意方式說明本專利技術的基本結構，因此其僅顯示與本專利技術有關的構成。如圖1-3所示，是本專利技術的實施例，一種接觸式直探頭，包括外殼1、設置在外殼I上端的探頭接口 2以及設置在外殼I內的保護膜3、壓電晶片4和阻尼塊5，保護膜3設置在外殼I的下端口，壓電晶片4設置在保護膜3的上面，阻尼塊5設置在壓電晶片4的上面，壓電晶片4與探頭接口 2電連接，壓電晶片4和保護膜3之間填充有緩沖油液6，外殼I的下端還安裝有殼套7，殼套7的中心開有通孔71，殼套7的外圈設有多個圓周均布的內凹的圓弧面72，內凹的圓弧面72所對的圓心角為55° -65°，弧長為殼套7的外圈周長的1/28-1/24，相鄰內凹的圓弧面72之間的間距為殼套7的外圈周長的1/45-1/35，殼套7的下端面為外凸的圓弧面73，當殼套7與外殼I安裝緊密時，保護膜3被緩沖油液6擠壓至通孔71，位于通孔71外的保護膜3與殼套7的下端面外凸的圓弧面73圓滑過渡。殼套7的內圈與外殼I的外圈螺紋連接，通孔71的直徑d小于外殼I的直徑D，保護膜3為彈性保護膜，保護膜3為聚氨酯軟膜。在探測粗糙表面前，將殼套7與外殼I逐漸旋緊(波紋狀的外圈可以防止殼套7與外殼I打滑，便于調節松緊)，使得緩沖油液6逐漸被擠壓，保護膜3被緩沖油液6膨脹至通孔71外，此時即可對粗糙表面進行探測。以上述依據本專利技術的理想實施例為啟示，通過上述的說明內容，相關工作人員完全可以在不偏離本項專利技術技術思想的范圍內，進行多樣的變更以及修改。本項專利技術的技術性范圍并不局限于說明書上的內容，必須要根據權利要求范圍來確定其技術性范圍。【主權項】1.一種接觸式直探頭，包括外殼(I)、設置在外殼(I)上端的探頭接口(2)以及設置在外殼(I)內的保護膜(3)、壓電晶片(4)和阻尼塊(5)，所述保護膜(3)設置在外殼(I)的下端口，壓電晶片(4)設置在保護膜(3)的上面，阻尼塊(5)設置在壓電晶片(4)的上面，所述壓電晶片(4)與探頭接口(2)電連接，其特征在于:所述壓電晶片(4)和保護膜(3)之間填充有緩沖油液￠)，所述外殼(I)的下端還安裝有殼套(7)，所述殼套(7)的中心開有通孔(71)，所述殼套(7)的外圈設有多個圓周均布的內凹的圓弧面(72)。2.如權利要求1所述的接觸式直探頭，其特征在于:所述內凹的圓弧面(72)所對的圓心角為55° -65。，弧長為殼套(7)的外圈周長的1/28-1/24，相鄰內凹的圓弧面(72)之間的間距為殼套(7)的外圈周長的1/45-1/35。3.如權利要求1所述的接觸式直探頭，其特征在于:所述殼套(7)的下端面為外凸的圓弧面(73)，當殼套(7)與外殼⑴安裝緊密時，保護膜(3)被緩沖油液(6)擠壓至通孔(71)，位于通孔(71)外的保護膜(3)與殼套(7)的下端面外凸的圓弧面(73)圓滑過渡。4.如權利要求1所述的接觸式直探頭，其特征在于:所述殼套(7)的內圈與外殼(I)的外圈螺紋連接。5.如權利要求4所述的接觸式直探頭，其特征在于:所述通孔(71)的直徑d小于外殼(I)的直徑D。6.如權利要求1所述的接觸式直探頭，其特征在于:所述保護膜(3)為彈性保護膜。7.如權利要求6所述的接觸式直探頭，其特征在于:所述保護膜(3)為聚氨酯軟膜。【專利摘要】本專利技術涉及超聲波探頭
，尤其涉及一種接觸式直探頭，包括外殼、設置在外殼上端的探頭接口以及設置在外殼內的保護膜、壓電晶片和阻尼塊，保護膜設置在外殼的下端口，壓電晶片設置在保護膜的上面，阻尼塊設置在壓電晶片的上面，壓電晶片與探頭接口電連接，壓電晶片和保護膜之間填充有緩沖油液，外殼的下端還安裝有殼套，殼套的中心開有通孔。本專利技術的接觸式直探頭，通過在壓電晶片和保護膜之間填充緩沖油液，并且在外部增加殼套，可以進一步保護探頭的壓電晶片，適用于粗糙表面的探測，貼合性好，誤差小，探測更精確。【IPC分類】G01N29/24【公開號】CN104990986【申請號】CN201510417101【專利技術人】周南岐 【申請人】常州市常超電子研究所有限公司【公開日】2015年10月21日【申請日】2015年7月15日本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種接觸式直探頭，包括外殼(1)、設置在外殼(1)上端的探頭接口(2)以及設置在外殼(1)內的保護膜(3)、壓電晶片(4)和阻尼塊(5)，所述保護膜(3)設置在外殼(1)的下端口，壓電晶片(4)設置在保護膜(3)的上面，阻尼塊(5)設置在壓電晶片(4)的上面，所述壓電晶片(4)與探頭接口(2)電連接，其特征在于：所述壓電晶片(4)和保護膜(3)之間填充有緩沖油液(6)，所述外殼(1)的下端還安裝有殼套(7)，所述殼套(7)的中心開有通孔(71)，所述殼套(7)的外圈設有多個圓周均布的內凹的圓弧面(72)。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：周南岐，
申請(專利權)人：常州市常超電子研究所有限公司，
類型：發明
國別省市：江蘇;32
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