本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種接口電路的仿真方法及裝置，屬于電路仿真領(lǐng)域。方法包括：獲取待測試的接口電路；獲取等效替換待測試的接口電路中微控制單元的替換電子器件，并使用替換電子器件替換待測試的接口電路中的微控制單元；獲取針對待測試的接口電路的輸入?yún)?shù)；根據(jù)等效替換后的待測試的接口電路，預(yù)設(shè)的輸入開關(guān)以及輸入?yún)?shù)生成仿真模型，并獲取仿真模型中的監(jiān)測點；將仿真模型輸入至仿真環(huán)境中進(jìn)行仿真測試，并在仿真測試過程中采集監(jiān)測點的電路參數(shù)。本發(fā)明專利技術(shù)通過等效替換的方式將微控制單元進(jìn)行了替換，還原了實際電路，使得仿真結(jié)果更加接近真實情況，提高了仿真的準(zhǔn)確性；通過設(shè)置故障狀態(tài)，更加真實的模擬實際使用情況，提高了仿真的效率。
【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及電路仿真領(lǐng)域，特別涉及一種接口電路的仿真方法及裝置。
技術(shù)介紹
隨著汽車行業(yè)的快速發(fā)展，汽車中的電子功能越來越多，而電子功能都需要涉及 到電路設(shè)計，為了避免電路設(shè)計的不合理所帶來的問題，需要在正常生產(chǎn)之前進(jìn)行電路仿 真以測試電路設(shè)計是否合理。 現(xiàn)有技術(shù)中在對電路進(jìn)行仿真時，根據(jù)需要測試的各種功能對應(yīng)的接口電路生成 仿真模型，將該仿真模型以及電路參數(shù)輸入至仿真環(huán)境中進(jìn)行測試，以便通過不斷的調(diào)試， 來達(dá)到更加合理的電路設(shè)計。 專利技術(shù)人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問題： 每個接口電路中都會存在有微控制單元，直接將帶有微控制單元的接口電路進(jìn)行 仿真測試會造成仿真結(jié)果不準(zhǔn)確；另外，在真實使用過程中會遇到多種故障情況，而目前仿 真過程中無法模擬各種故障，造成仿真效果無法滿足測試要求。
技術(shù)實現(xiàn)思路
為了解決現(xiàn)有技術(shù)的問題，本專利技術(shù)實施例提供了一種接口電路的仿真方法及裝 置。所述技術(shù)方案如下： -方面，提供了一種接口電路的仿真方法，所述方法包括： 獲取待測試的接口電路，所述待測試的接口電路為一個或多個； 獲取等效替換所述待測試的接口電路中微控制單元的替換電子器件，并使用所述 替換電子器件替換所述待測試的接口電路中的微控制單元； 獲取針對所述待測試的接口電路的輸入?yún)?shù)；所述輸入?yún)?shù)包括：電路參數(shù)和/ 或故障狀態(tài)參數(shù)； 根據(jù)等效替換后的所述待測試的接口電路，預(yù)設(shè)的輸入開關(guān)以及所述輸入?yún)?shù)生 成仿真模型，并獲取所述仿真模型中的監(jiān)測點；所述監(jiān)測點為一個或多個； 將所述仿真模型輸入至仿真環(huán)境中進(jìn)行仿真測試，并在所述仿真測試過程中采集 所述監(jiān)測點的電路參數(shù)。 其中，所述獲取待測試的接口電路，包括： 獲取用戶選取待測試的功能項目，所述待測試的功能項目為一個或多個； 在預(yù)設(shè)的功能項目與接口電路的對應(yīng)關(guān)系中，選取所述待測試的功能項目對應(yīng)的 待測試的接口電路。 其中，所述根據(jù)等效替換后的所述待測試的接口電路，預(yù)設(shè)的輸入開關(guān)以及所述 輸入?yún)?shù)生成仿真模型，包括： 根據(jù)預(yù)設(shè)的連接方式將等效替換后的所述待測試的接口電路與預(yù)設(shè)的輸入開關(guān) 相連生成仿真模型，并將所述輸入?yún)?shù)作為仿真的狀態(tài)輸入至所述仿真模型中。 其中，所述在所述仿真測試過程中采集所述監(jiān)測點的電路參數(shù)之后，所述方法還 包括： 當(dāng)采集到的所述監(jiān)測點的電路參數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)的告警閾值時，生成報警信息并將所 述報警信息通過提示框顯示于屏幕中。 其中，所述故障狀態(tài)參數(shù)包括：短路故障，斷路故障，輸入干擾信號以及電源反接 中的一種或多種。 另一方面，提供了一種接口電路的仿真裝置，所述裝置包括： 第一獲取模塊，用于獲取待測試的接口電路，所述待測試的接口電路為一個或多 個； 第二獲取模塊，用于獲取等效替換所述待測試的接口電路中微控制單元的替換電 子器件，并使用所述替換電子器件替換所述待測試的接口電路中的微控制單元； 第三獲取模塊，用于獲取針對所述待測試的接口電路的輸入?yún)?shù)；所述輸入?yún)?shù) 包括：電路參數(shù)和/或故障狀態(tài)參數(shù)； 生成模塊，用于根據(jù)等效替換后的所述待測試的接口電路，預(yù)設(shè)的輸入開關(guān)以及 所述輸入?yún)?shù)生成仿真模型，并獲取所述仿真模型中的監(jiān)測點；所述監(jiān)測點為一個或多 個； 測試模塊，用于將所述仿真模型輸入至仿真環(huán)境中進(jìn)行仿真測試，并在所述仿真 測試過程中采集所述監(jiān)測點的電路參數(shù)。 其中，所述第一獲取模塊，包括： 獲取單元，用于獲取用戶選取待測試的功能項目，所述待測試的功能項目為一個 或多個； 選取單元，用于在預(yù)設(shè)的功能項目與接口電路的對應(yīng)關(guān)系中，選取所述待測試的 功能項目對應(yīng)的待測試的接口電路。 其中，所述生成模塊用于： 根據(jù)預(yù)設(shè)的連接方式將等效替換后的所述待測試的接口電路與預(yù)設(shè)的輸入開關(guān) 相連生成仿真模型，并將所述輸入?yún)?shù)作為仿真的狀態(tài)輸入至所述仿真模型中。 其中，所述裝置還包括： 提示模塊，用于當(dāng)采集到的所述監(jiān)測點的電路參數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)的告警閾值時，生成 報警信息并將所述報警信息通過提示框顯示于屏幕中。 其中，所述故障狀態(tài)參數(shù)包括：短路故障，斷路故障，輸入干擾信號以及電源反接 中的一種或多種。 本專利技術(shù)實施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是： 通過使用替換電子器件替換待測試的接口電路中的微控制單元，獲取電路參數(shù)和 /或故障狀態(tài)參數(shù)，根據(jù)等效替換后的待測試的接口電路以及預(yù)設(shè)的輸入開關(guān)以及電路參 數(shù)和/或故障狀態(tài)參數(shù)生成仿真模型，在仿真模型中設(shè)置監(jiān)測點，將仿真模型輸入至仿真 環(huán)境中進(jìn)行仿真測試，并在仿真測試過程中采集監(jiān)測點的電路參數(shù)。通過等效替換的方式 將微控制單元進(jìn)行了替換，還原了實際電路，使得仿真結(jié)果更加接近真實情況，提高了仿真 的準(zhǔn)確性；另外，通過設(shè)置故障狀態(tài)，可以更加真實的模擬實際使用情況，提高了仿真的效 率。【附圖說明】 為了更清楚地說明本專利技術(shù)實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使 用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術(shù)的一些實施例，對于 本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他 的附圖。 圖1是本專利技術(shù)實施例一提供的接口電路的仿真方法流程圖； 圖2是本專利技術(shù)實施例一提供的接口電路的仿真方法中一個接口電路的電路圖； 圖3是本專利技術(shù)實施例一提供的接口電路的仿真方法中另一個接口電路的電路圖； 圖4是本專利技術(shù)實施例一提供的接口電路的仿真方法中另一個接口電路的電路圖； 圖5是本專利技術(shù)實施例二提供的接口電路的仿真方法流程圖； 圖6是本專利技術(shù)實施例二提供的接口電路的仿真方法中一個仿真模型的電路圖； 圖7是本專利技術(shù)實施例三提供的接口電路的仿真裝置結(jié)構(gòu)示意圖。【具體實施方式】 為使本專利技術(shù)的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合附圖對本專利技術(shù)實施方 式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。 實施例一 本專利技術(shù)實施例提供了一種接口電路的仿真方法，參見圖1，方法流程包括： 101 :獲取待測試的接口電路，待測試的接口電路為一個或多個； 102:獲取等效替換待測試的接口電路中微控制單元的替換電子器件，并使用替換 電子器件替換待測試的接口電路中的微控制單元； 103 :獲取針對待測試的接口電路的輸入?yún)?shù)；輸入?yún)?shù)包括：電路參數(shù)和/或故 障狀態(tài)參數(shù)； 104 :根據(jù)等效替換后的待測試的接口電路，預(yù)設(shè)的輸入開關(guān)以及輸入?yún)?shù)生成仿 真模型，并獲取仿真模型中的監(jiān)測點；監(jiān)測點為一個或多個； 105 :將仿真模型輸入至仿真環(huán)境中進(jìn)行仿真測試，并在仿真測試過程中采集監(jiān)測 點當(dāng)前第1頁1 2 3 本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點】
一種接口電路的仿真方法，其特征在于，所述方法包括：獲取待測試的接口電路，所述待測試的接口電路為一個或多個；獲取等效替換所述待測試的接口電路中微控制單元的替換電子器件，并使用所述替換電子器件替換所述待測試的接口電路中的微控制單元；獲取針對所述待測試的接口電路的輸入?yún)?shù)；所述輸入?yún)?shù)包括：電路參數(shù)和/或故障狀態(tài)參數(shù)；根據(jù)等效替換后的所述待測試的接口電路，預(yù)設(shè)的輸入開關(guān)以及所述輸入?yún)?shù)生成仿真模型，并獲取所述仿真模型中的監(jiān)測點；所述監(jiān)測點為一個或多個；將所述仿真模型輸入至仿真環(huán)境中進(jìn)行仿真測試，并在所述仿真測試過程中采集所述監(jiān)測點的電路參數(shù)。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：盧云，陳寶軍，
申請(專利權(quán))人：奇瑞汽車股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：安徽;34
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