低透過率機械斬波模擬器制造技術

低透過率機械斬波模擬器，涉及旋光糖量計低透過率計量校準技術，它為了解決現有技術中沒有旋光糖量計低透過率模擬器的問題。包括測試座上座、測試座下座、高速直流電機和扇形斬光片；測試座下座的上下兩個表面均設有半圓柱形凹槽，測試座上座的下表面設有半圓柱形凹槽，高速直流電機放置并固定于測試座上座和測試座下座構成的圓柱形凹槽中，且該圓柱形凹槽的中心軸與高速直流電機的轉軸軸心重合，高速直流電機的轉軸軸心與扇形斬光片的軸心重合，扇形斬光片的中心與高速直流電機的轉軸固定連接，扇形斬光片上開有缺口。本實用新型專利技術可以實現旋光糖量計的低透過率測試條件。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及旋光糖量計低透過率計量校準技術。
技術介紹
旋光糖量計在低透過率測定的計量性能評定時，無法進行深顏色樣品、低透過率樣品測定時的低透過率測試條件的可復現模擬，而現有技術中沒有對旋光糖量計低透過率模擬器的研究，對旋光糖量計低透過率計量校準技術的研究還是空白，導致旋光糖量計在低透過率時的測量不準確。
技術實現思路
本技術是為了解決現有技術無法進行低透過率樣品測定時的低透過率測試條件的可復現模擬，無法對旋光糖量計在低透過率情況下的計量性能進行評定的問題，從而提供低透過率機械斬波模擬器。本技術所述的低透過率機械斬波模擬器，它包括測試座上座、測試座下座、高速直流電機和扇形斬光片；測試座下座的上下兩個表面均設有半圓柱形凹槽，測試座上座的下表面設有半圓柱形凹槽，高速直流電機放置并固定于測試座上座和測試座下座構成的圓柱形凹槽中，且該圓柱形凹槽的中心軸與高速直流電機的轉軸軸心重合，高速直流電機的轉軸軸心與扇形斬光片的軸心重合，扇形斬光片的中心與高速直流電機的轉軸固定連接，扇形斬光片上開有缺口。上述扇形斬光片缺口的角度為3.6°或36°。上述扇形斬光片有兩個缺口，兩個缺口在扇形斬光片上對稱分布。它還包括斬光片下蓋和前擋板；斬光片下蓋和前擋板均為圓弧形。斬光片下蓋固定在測試座上座的一個側面上，前擋板與斬光片下蓋固定連接，且前擋板的弧形邊緣向內延伸至斬光片下蓋的邊緣，扇形斬光片放置于前擋板和斬光片下蓋之間。它還包括兩套平衡調節螺絲與鎖緊螺絲，兩套平衡調節螺絲與鎖緊螺絲對稱分布在測試座下座的底面上。本技術所述的低透過率機械斬波模擬器在使用時，將標準旋光管放置于測試座下座底面的半圓柱形凹槽中，調節兩套平衡調節螺絲和鎖緊螺絲可以使低透過率機械斬波模擬器水平平衡，斬光片下蓋與前擋板對工作中高速旋轉的扇形斬光片起到保護作用。使用中，高速直流電機帶動扇形斬光片對通過標準旋光管的光強度進行分割，達到模擬低透過率的效果。根據需要的透過率選擇扇形斬光片缺口的角度，例如當缺口的角度為36°時，光源的透過率為10%，當缺口的角度為3.6°時，光源的透過率為1%。本技術可以方便、快捷地提供低透過率的模擬測試條件，同時可以結合標準旋光管的使用，對旋光糖量計低透過率示值誤差進行計量性能評價，填補了旋光糖量計低透過率計量校準技術研究的空白。本技術所述的低透過率機械斬波模擬器用以模擬低透過率情況下的測試樣品狀態，保證在該狀態下，旋光糖量計測定條件的模擬復現，使旋光糖量計能夠實現準確溯源。本技術所述的低透過率機械斬波模擬器的技術指標滿足旋光糖量計檢定校準的要求。【附圖說明】圖1是【具體實施方式】一所述的低透過率機械斬波模擬器的結構示意圖。圖2是【具體實施方式】一中測試座下座的結構不意圖。圖3是圖2的俯視圖。圖4是圖2的右視圖。圖5是【具體實施方式】一中測試座上座的結構示意圖。圖6是圖5的A-A向剖視圖。圖7是圖5的俯視圖。圖8是【具體實施方式】一中扇形斬光片的結構示意圖。圖9是圖8的B-B向剖視圖。圖10是【具體實施方式】四中斬光片下蓋的結構示意圖。圖11是圖10的C-C向剖視圖。圖12是【具體實施方式】四中前擋板的結構示意圖。圖13是圖12的D-D向剖視圖。【具體實施方式】【具體實施方式】一:參照圖1至圖9具體說明本實施方式，本實施方式所述的低透過率機械斬波模擬器，它包括測試座上座1、測試座下座2、高速直流電機8和扇形斬光片5 ;測試座下座2的上下兩個表面均設有半圓柱形凹槽，測試座上座I的下表面設有半圓柱形凹槽，高速直流電機8放置并固定于測試座上座I和測試座下座2構成的圓柱形凹槽中，且該圓柱形凹槽的中心軸與高速直流電機8的轉軸軸心重合，高速直流電機8的轉軸軸心與扇形斬光片5的軸心重合，扇形斬光片5的中心與高速直流電機8的轉軸固定連接，扇形斬光片5上開有缺口。【具體實施方式】二:本實施方式是對【具體實施方式】一所述的低透過率機械斬波模擬器作進一步說明，本實施方式中，扇形斬光片5缺口的角度為3.6°或36°。【具體實施方式】三:本實施方式是對【具體實施方式】一所述的低透過率機械斬波模擬器作進一步說明，本實施方式中，扇形斬光片5有兩個缺口，兩個缺口在扇形斬光片5上對稱分布。【具體實施方式】四:參照圖10至圖13具體說明本實施方式，本實施方式是對【具體實施方式】一所述的低透過率機械斬波模擬器作進一步說明，本實施方式中，它還包括斬光片下蓋3和前擋板4 ； 斬光片下蓋3和前擋板4均為圓弧形。斬光片下蓋3固定在測試座上座I的一個側面上，前擋板4與斬光片下蓋3固定連接，且前擋板4的弧形邊緣向內延伸至斬光片下蓋3的邊緣，扇形斬光片5放置于前擋板4和斬光片下蓋3之間。【具體實施方式】五:本實施方式是對【具體實施方式】一所述的低透過率機械斬波模擬器作進一步說明，本實施方式中，它還包括兩套平衡調節螺絲6與鎖緊螺絲7，兩套平衡調節螺絲6與鎖緊螺絲7對稱分布在測試座下座2的底面上。【主權項】1.低透過率機械斬波模擬器，其特征在于，它包括測試座上座(I)、測試座下座(2)、高速直流電機⑶和扇形斬光片(5); 測試座下座(2)的上下兩個表面均設有半圓柱形凹槽，測試座上座(I)的下表面設有半圓柱形凹槽，高速直流電機(8)放置并固定于測試座上座(I)和測試座下座(2)構成的圓柱形凹槽中，且該圓柱形凹槽的中心軸與高速直流電機(8)的轉軸軸心重合，高速直流電機(8)的轉軸軸心與扇形斬光片(5)的軸心重合，扇形斬光片(5)的中心與高速直流電機(8)的轉軸固定連接，扇形斬光片(5)上開有缺口。2.根據權利要求1所述的低透過率機械斬波模擬器，其特征在于，扇形斬光片(5)缺口的角度為3.6°或36°。3.根據權利要求1所述的低透過率機械斬波模擬器，其特征在于，扇形斬光片(5)有兩個缺口，兩個缺口在扇形斬光片(5)上對稱分布。4.根據權利要求1所述的低透過率機械斬波模擬器，其特征在于，它還包括斬光片下蓋⑶和前擋板⑷； 斬光片下蓋(3)和前擋板(4)均為圓弧形； 斬光片下蓋(3)固定在測試座上座(I)的一個側面上，前擋板(4)與斬光片下蓋(3)固定連接，且前擋板(4)的弧形邊緣向內延伸至斬光片下蓋(3)的邊緣，扇形斬光片(5)放置于前擋板(4)和斬光片下蓋(3)之間。5.根據權利要求1所述的低透過率機械斬波模擬器，其特征在于，它還包括兩套平衡調節螺絲(6)與鎖緊螺絲(7)， 兩套平衡調節螺絲(6)與鎖緊螺絲(7)對稱分布在測試座下座(2)的底面上。【專利摘要】低透過率機械斬波模擬器，涉及旋光糖量計低透過率計量校準技術，它為了解決現有技術中沒有旋光糖量計低透過率模擬器的問題。包括測試座上座、測試座下座、高速直流電機和扇形斬光片；測試座下座的上下兩個表面均設有半圓柱形凹槽，測試座上座的下表面設有半圓柱形凹槽，高速直流電機放置并固定于測試座上座和測試座下座構成的圓柱形凹槽中，且該圓柱形凹槽的中心軸與高速直流電機的轉軸軸心重合，高速直流電機的轉軸軸心與扇形斬光片的軸心重合，扇形斬光片的中心與高速直流電機的轉軸固定連接，扇形斬光片上開有缺口。本技術可以實現旋光糖量計的低透過率測試條件。【IPC分類】G01N21/21【公開號】CN204832本文檔來自技高網...

【技術保護點】
低透過率機械斬波模擬器，其特征在于，它包括測試座上座(1)、測試座下座(2)、高速直流電機(8)和扇形斬光片(5)；測試座下座(2)的上下兩個表面均設有半圓柱形凹槽，測試座上座(1)的下表面設有半圓柱形凹槽，高速直流電機(8)放置并固定于測試座上座(1)和測試座下座(2)構成的圓柱形凹槽中，且該圓柱形凹槽的中心軸與高速直流電機(8)的轉軸軸心重合，高速直流電機(8)的轉軸軸心與扇形斬光片(5)的軸心重合，扇形斬光片(5)的中心與高速直流電機(8)的轉軸固定連接，扇形斬光片(5)上開有缺口。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：丁海銘，丁海月，高歌，丁士烜，
申請(專利權)人：丁海銘，
類型：新型
國別省市：黑龍江;23