一種分析儀光源模塊制造技術

本發明專利技術提供的一種分析儀光源模塊，包括光源，用于為光源模塊提供光輻射；分束片，用于將光源發出的光輻射進行分束，產生分束光；所述分束光包括至少測量光和至少一束參考光，至少一束所述參考光路上設置有膠囊狀參考樣品池，所述測量光用于分析樣品，所述參考光用于輔助分析樣品。通過對參考池的設計改進和光線透過方向的改變，使得分析儀光源模塊設計更加緊湊、簡單，同時降低了成本。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種光譜分析領域，尤其是應用于光譜分析儀光源模塊。
技術介紹
目前，分析儀光源模塊，其參考池如圖1所示，由端面1、端面2、側面3、進氣口4、出氣口5組成，容置參考樣品后，進氣口4和出氣口5密封，存在以下兩個方面的問題：一是參考池體積大，且光束從參考池端面1和端面2透過，參考池較長，導致整個光源模塊體積大，設計不緊湊；二是，參考池兩個端面與側面之間通過膠粘或玻封方式連接，加工工藝復雜，尤其是當氣體參考池側面與端面材料不同時，由于材料膨脹系數不同，受溫度變化影響，可靠性差，容易漏氣。
技術實現思路
為了解決上述問題，本專利技術提供一種設計緊湊、加工工藝簡單、高可靠性的分析儀光源模塊。本專利技術提出一種分析儀光源模塊：如圖2所示，包括光源13，用于為光源模塊提供光輻射；分束片17，用于將光源發出的光輻射進行分束，產生分束光；所述分束光包括測量光和至少一束參考光，至少一束所述參考光路上設置有膠囊狀參考樣品池16，所述測量光用于分析樣品，所述參考光用于輔助分析樣品。所述光源13為激光、LED、氙燈、紅外光源、超輻射光源、SLED、寬帶光源其中任一種或幾種組合。所述分束片17至少包括第一通光面18和第二通光面19，第一通光面18和第二通光面19非平行。優選地，不同所述通光面反射形成的不同參考光被不同的光探測單元探測，產生光電信號。由第一通光面18反射形成的參考光22被光探測單元12探測，由第二通光面19反射形成的參考光21被光探測單元14探測。如圖3所示，所述膠囊狀參考樣品池16包括至少一個端面9、至少一個側面10和容置參考樣品的空間11，所述參考光從側面10透過容置參考樣品的空間11。所述膠囊狀參考樣品池16的側面10包括但不限于圓柱狀、多面狀。優選地，所述端面9為密封端，所述側面10為通光面。優選地，所述密封端為燒結而成，所述燒結是單個器件在熱源的加熱下熔融，單個器件端面被封閉的工藝。所述的膠囊狀參考樣品池16的制備工藝示意圖如圖4所示，連續不斷的參考樣品自端口6進入，端口7流出，同時參考樣品池的兩端在熱源8的加熱下熔融，兩個端口同時在外力作用下變形為虛線所示的端面，成為膠囊狀，形成膠囊狀參考樣品池16。與現有技術相比，本專利技術的有益效果是：本專利技術將參考樣品池的兩端直接通過燒結方式封閉，工藝簡單，成本低；另外，光路自參考池側面經過，參考池短，有利于分析儀光源模塊結構設計緊湊。從而，以上技術方案兼顧了分析儀的成本降低和結構優化，在緊湊條件下可以實現多參考光路。附圖說明附圖1是現有參考樣品池示意圖。附圖2是本專利技術分析儀光源模塊與現有分析儀光源模塊對比示意圖。附圖3是本專利技術分析儀光源模塊膠囊狀參考樣品池示意圖。附圖4是本專利技術分析儀光源模塊膠囊狀參考樣品池制備工藝示意圖。具體實施方式以下將結合附圖所示的具體實施方式對本專利技術進行詳細描述。但這些實施方式并不限制本專利
的普通技術人員根據這些實施方式所做出的結構、方法、或功能上的變換均包含在本專利技術的保護范圍內。如圖2所示，圖2是本專利技術分析儀光源模塊與現有分析儀光源模塊對比示意圖，實線部分為現有技術分析儀光源模塊示意圖，虛線部分為本專利技術分析儀光源模塊示意圖，在本專利技術具體實施方式中，包括光源13，用于為光源模塊提供光輻射；分束片17，用于將光源發出的光輻射進行分束，產生分束光；所述分束光包括測量光23、參考光21和參考光22，其中，所述參考光22光路上設置有膠囊狀參考樣品池16，所述測量光23用于分析樣品，所述參考光21和參考光22用于輔助分析樣品。本實施例中，參考池15為現有技術參考樣品池示意圖，參考光線自端面透過。在優選的實施方式中，根據光源模塊的使用情況，可以只使用參考光21、參考光22的其中一路。在優選的實施方式中，所述的測量光23用于分析樣品的濃度、溫度、壓力等參數，所述參考光21、參考光22用于輔助分析樣品濃度、溫度、壓力等參數。所述輔助分析包括鎖定波長、校正測量結果、消除光強變化對測量結果的影響等功能，以提高分析儀的穩定性和可靠性。本實施例中，參考光22為入射光20被第一通光面18直接反射產生；參考光21，為入射光20首先經過第一通光面18折射，其次被第二通光面19所反射，所反射的光線再次被第一通光面18折射后產生；測量光23為入射光20先后經第一通光面18折射、第二通光面19折射后產生。在優選的實施方式中，所述的參考光21可以被光探測單元14直接探測或設置參考樣品池后被探測。本實施例中，所述光源13為激光、LED、氙燈、紅外光源、超輻射光源、SLED、寬帶光源其中任一種或幾種組合。本實施例中，所述分束片17至少包括第一通光面18和第二通光面19，第一通光面18和第二通光面19非平行。本實施例中，不同所述通光面反射形成的不同參考光被不同的光探測單元探測，產生光電信號，所述光電信號作為計算樣品濃度、溫度、壓力等參數的輸入。由第一通光面18反射形成的參考光22被光探測單元12探測，由第二通光面19反射形成的參考光21被光探測單元14探測。本實施例中，如圖3所示，是本專利技術分析儀光源模塊膠囊狀參考樣品池示意圖，所述膠囊狀參考樣品池16包括至少一個端面9、至少一個側面10和容置參考樣品的空間11，所述參考光從側面10透過容置參考樣品的空間11。在優選的實施方式中，所述膠囊狀參考樣品池16的側面10的橫截面形狀為圓形、橢圓形、多邊形中的一種。本實施例中，所述端面9為密封端，所述側面10為通光面。本實施例中，所述密封端為燒結而成，所述燒結是單個器件在熱源的加熱下熔融，單個器件端面被封閉的工藝。本實施例中，所述的膠囊狀參考樣品池16的制備工藝示意圖如圖4所示，在參考樣品充滿中空空間的情況下，參考樣品池的兩端在熱源8的加熱下熔融，兩個端口同時在外力作用下變形為虛線所示的端面，成為膠囊狀，形成膠囊狀參考樣品池16。與現有技術相比，本專利技術的有益效果是：本專利技術將參考樣品池的兩端直接通過燒結方式封閉，工藝簡單，成本低；另外，光路自參考池側面經過，參考池短，有利于分析儀光源模塊結構設計緊湊。從而，以上技術方案兼顧了分析儀的成本降低和結構優化，在緊湊條件下可以實現多參考光路。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種分析儀光源模塊，包括光源，用于為光源模塊提供光輻射；分束片，用于將光源發出的光輻射進行分束，產生分束光；其特征在于，所述分束光包括測量光和至少一束參考光，至少一束所述參考光路上設置有膠囊狀參考樣品池，所述測量光用于分析樣品，所述參考光用于輔助分析樣品。

【技術特征摘要】
1.一種分析儀光源模塊，
包括光源，用于為光源模塊提供光輻射；
分束片，用于將光源發出的光輻射進行分束，產生分束光；
其特征在于，所述分束光包括測量光和至少一束參考光，至少一束所述參考光路上設置有膠囊狀參考樣品池，所述測量光用于分析樣品，所述參考光用于輔助分析樣品。
2.根據權利要求1所述的一種分析儀光源模塊，其特征在于，所述光源為激光、LED、氙燈、紅外光源、超輻射光源、SLED、寬帶光源其中任一種或幾種組合。
3.根據權利要求1至2任一所述的一種分析儀光源模塊，其特征在于，所述分束片至少包括第一通光面和第二通光面...

【專利技術屬性】
技術研發人員：趙輝，鄧文平，
申請(專利權)人：蘇州譜道光電科技有限公司，
類型：發明
國別省市：江蘇;32