本實用新型專利技術提供一種磁環密度測試裝置，它包括有上箱、下箱、測試稱，其中，上箱底部設有上箱座，并通過上箱座安裝在下箱頂部；上箱內腔底部設有圓形的測試稱，下箱內設有掛鉤，掛鉤頂部牽有拉繩，拉繩上端穿過上箱座與上箱內的測試稱連接；掛鉤上掛裝有待測磁環，掛鉤下方設有水銀容器，容器內注有水銀；下箱一側設有活動門。本方案的優點在于：結構簡單、操作方便、測試后的數據精確，有利于有產品品質的提高。
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及磁環生產
，尤其是指一種磁環密度測試裝置。
技術介紹
電子設備輻射和泄漏的電磁波不僅嚴重干擾其他電子設備正常工作，導致設備功能紊亂、傳輸錯誤。因此降低電子設備的電磁干擾(EMI)已經是必須考慮的問題。磁環是電子電路中常用的抗干擾元件，對于高頻噪聲有很好的抑制作用，一般使用鐵氧體材料(Mn - Zn)制成。磁環在不同的頻率下有不同的陽.抗特性,一般在低頻時陽.抗很小,當信號頻率升高磁環表現的阻抗急劇升高。磁環生產出來以后需要測量磁環的密度是否合格，現有是采用手工進行測試，其測試數據誤差較大，不能有效反應出當前測試磁環的密度，從而造成質量偏差，影響終端使用效果。
技術實現思路
本技術的目的在于克服現有技術的不足，提供一種結構簡單、操作方便、數據精準的磁環密度測試裝置。為實現上述目的，本技術所提供的技術方案為:一種磁環密度測試裝置，它包括有上箱、下箱、測試稱，其中，上箱底部設有上箱座，并通過上箱座安裝在下箱頂部；上箱內腔底部設有圓形的測試稱，下箱內設有掛鉤，掛鉤頂部牽有拉繩，拉繩上端穿過上箱座與上箱內的測試稱連接；掛鉤上掛裝有待測磁環，掛鉤下方設有水銀容器，容器內注有水銀；下箱一側設有活動門。所述的上箱主體采用角鋼組合形成骨架，骨架四周的面板采用透明塑料或玻璃制作成型。所述的下箱主體采用角鋼組合形成骨架，骨架四周的面板采用透明塑料或玻璃制作成型，骨架頂部面板采用金屬制作成型，骨架底部設有測試機座。所述的上箱座底部設有支腳，并通過支腳安裝在下箱頂部。本技術在采用上述方案后，待測磁環掛在測試稱下方的掛鉤上，掛鉤下方的容器內盛放有水銀，通過這種方式測試稱所顯示的質量處于排出水銀的體積即為磁環的密度。本方案的優點在于:結構簡單、操作方便、測試后的數據精確，有利于有產品品質的提尚O【附圖說明】圖1為本技術的上箱結構示意圖。圖2為本技術的下箱結構示意圖。【具體實施方式】下面事結合所有附圖對本技術作進一步說明，本技術的較佳實施例為:參見附圖1和附圖2，本實施例所述的磁環密度測試裝置包括有上箱1、下箱2、測試稱3，其中，上箱I主體采用角鋼組合形成骨架，骨架四周的面板采用透明塑料或玻璃制作成型。上箱I底部設有上箱座4，上箱座4底部設有支腳5，并通過支腳5安裝在下箱2頂部；下箱2主體采用角鋼組合形成骨架，骨架四周的面板采用透明塑料或玻璃制作成型，骨架頂部面板采用金屬制作成型，骨架底部設有測試機座；上箱I內腔底部設有圓形的測試稱3，下箱2內設有掛鉤5，掛鉤5頂部牽有拉繩6，拉繩6上端穿過上箱座4與上箱I內的測試稱3連接；掛鉤5上掛裝有待測磁環，掛鉤5下方設有水銀容器7，容器7內注有水銀；下箱2 —側設有活動門8。待測磁環掛在測試稱下方的掛鉤上，掛鉤下方的容器內盛放有水銀，通過這種方式測試稱所顯示的質量處于排出水銀的體積即為磁環的密度。以上所述之實施例只為本技術之較佳實施例，并非以此限制本技術的實施范圍，故凡依本技術之形狀、原理所作的變化，均應涵蓋在本技術的保護范圍內。【主權項】1.一種磁環密度測試裝置，其特征在于:它包括有上箱(I)、下箱(2)、測試稱(3)，其中，上箱(I)底部設有上箱座(4)，并通過上箱座(4)安裝在下箱(2)頂部；上箱(I)內腔底部設有圓形的測試稱(3)，下箱(2)內設有掛鉤(5)，掛鉤(5)頂部牽有拉繩(6)，拉繩(6)上端穿過上箱座(4)與上箱(I)內的測試稱(3)連接；掛鉤(5)上掛裝有待測磁環，掛鉤(5)下方設有水銀容器(7)，容器(7)內注有水銀；下箱(2) —側設有活動門(8)。2.根據權利要求1所述的一種磁環密度測試裝置，其特征在于:上箱(I)主體采用角鋼組合形成骨架，骨架四周的面板采用透明塑料或玻璃制作成型。3.根據權利要求1所述的一種磁環密度測試裝置，其特征在于:下箱(2)主體采用角鋼組合形成骨架，骨架四周的面板采用透明塑料或玻璃制作成型，骨架頂部面板采用金屬制作成型，骨架底部設有測試機座。4.根據權利要求1所述的一種磁環密度測試裝置，其特征在于:上箱座(4)底部設有支腳(5 )，并通過支腳(5 )安裝在下箱(2 )頂部?！緦＠勘炯夹g提供一種磁環密度測試裝置，它包括有上箱、下箱、測試稱，其中，上箱底部設有上箱座，并通過上箱座安裝在下箱頂部；上箱內腔底部設有圓形的測試稱，下箱內設有掛鉤，掛鉤頂部牽有拉繩，拉繩上端穿過上箱座與上箱內的測試稱連接；掛鉤上掛裝有待測磁環，掛鉤下方設有水銀容器，容器內注有水銀；下箱一側設有活動門。本方案的優點在于：結構簡單、操作方便、測試后的數據精確，有利于有產品品質的提高?！綢PC分類】G01N9/00【公開號】CN204882294【申請號】CN201520423354【專利技術人】姚金權, 姚佳 【申請人】湖州維峰磁性材料有限公司【公開日】2015年12月16日【申請日】2015年6月18日本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種磁環密度測試裝置，其特征在于：它包括有上箱（1）、下箱（2）、測試稱（3），其中，上箱（1）底部設有上箱座（4），并通過上箱座（4）安裝在下箱（2）頂部；上箱（1）內腔底部設有圓形的測試稱（3），下箱（2）內設有掛鉤（5），掛鉤（5）頂部牽有拉繩（6），拉繩（6）上端穿過上箱座（4）與上箱（1）內的測試稱（3）連接；掛鉤（5）上掛裝有待測磁環，掛鉤（5）下方設有水銀容器（7），容器（7）內注有水銀；下箱（2）一側設有活動門（8）。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：姚金權，姚佳，
申請(專利權)人：湖州維峰磁性材料有限公司，
類型：新型
國別省市：浙江;33
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