存儲器件的快速測試電路制造技術

本實用新型專利技術公開一種存儲器件的快速測試電路，包括：CRC校驗碼生成模塊，對數據總線控制模塊送入的數據進行CRC校驗碼的計算；CRC校驗碼生成模塊內設置有寫入數據CRC校驗碼寄存器和讀取數據CRC校驗碼寄存器；總線接口模塊，當對存儲器做讀操作時，該模塊負責將總線上的數據采樣下來，送入CRC校驗碼生成模塊；當外部測試設備需要讀取CRC校驗碼生成模塊內部存儲的CRC校驗數據時，將CRC校驗碼送到總線，供外部測試設備讀取；控制模塊，負責接受測試設備的指令，開始對存儲器內容進行檢查，同時包括對總線接口模塊及CRC校驗生成模塊進行控制。本實用新型專利技術夠在較短時間內對存儲器存儲數據的正確性做出判斷，同時提高了測試效率。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及電子電路
，具體涉及一種存儲器件的快速測試電路。
技術介紹
目前在各種集成電路內部都存在有存儲器件，在生產階段對存儲器件的讀寫測試是一項重要的質量驗證手段，但在沒有存儲器自測試電路的情況下，只能對存儲的空間做全空間遍歷讀寫操作，這樣的驗證過程是十分浪費時間的，對每個存儲單元都包括，寫入，讀取，比對的操作過程，導致測試效率較低，產品成本提高。
技術實現思路
本技術一種存儲器件的快速測試電路，目的是減少存儲器件通過讀寫方式驗證的時間成本。本技術的目的由以下技術方案實現:一種存儲器件的快速測試電路，包括:CRC校驗碼生成模塊，對數據總線控制模塊送入的數據進行CRC校驗碼的計算；CRC校驗碼生成模塊內設置寫入數據CRC校驗碼寄存器和讀取數據CRC校驗碼寄存器；總線接口模塊，當對存儲器做讀操作時，該模塊負責將總線上的數據采樣下來，送入CRC校驗碼生成模塊；當外部測試設備需要讀取CRC校驗碼生成模塊內部存儲的CRC校驗數據時，將CRC校驗碼送到總線，供外部測試設備讀取；控制模塊，負責接受測試設備的指令，開始對存儲器內容進行檢查，同時包括對總線接口模塊及CRC校驗生成模塊進行控制。本技術提供的存儲器件的快速測試電路及方法，能夠在較短時間內對存儲器存儲數據的正確性做出判斷，減少存儲器件通過讀寫方式驗證的時間成本，同時提高了測試效率。【附圖說明】圖1為本技術實施例提供的存儲器件的快速測試電路。圖2是本技術實施例提供的存儲器件的快速測試電路的測試方法的流程圖。【具體實施方式】以下結合附圖對本技術的實施例進行詳細說明。如圖1所示，本實施例提供的存儲器件的快速測試電路包括控制模塊1，總線數據采樣模塊2以及CRC校驗碼生成模塊3。其中，控制模塊I負責從總線接受測試命令，對命令解析后產生對應的控制信號控制總線接口模塊2和CRC校驗碼生成模塊3，如果需要自動產生地址，地址的產生及存儲器的控制信號也都是由該模塊產生；總線接口模塊2，接收到數據采樣信號后，對總線數據進行采樣，并將采樣數據送給CRC校驗碼生成模塊；CRC校驗碼生成模塊3，對總線接口模塊2送入的數據做CRC校驗碼計算。其中，CRC校驗碼生成模塊3內設置有兩個寄存器，即寫入數據CRC校驗碼寄存器和讀取數據CRC校驗碼寄存器。請參閱圖2，基于上述存儲器件的快速測試電路的相應測試方法，具體包括如下步驟:S101，電路復位；S102，復位后，控制模塊等待測試設備發送測試命令字；S103，接收到測試命令字后，判斷是否需要自動產生存儲器地址，如果需要自動產生存儲器地址則進入步驟sl04，如果不需要自動產生存儲器地址則進入步驟sl03a ;S103a，如果不需要自動生成地址，那么從總線上采樣存儲器地址信息并進入步驟sl05 ；S104，按命令字的要求生成存儲器地址；S105，對數據總線上的數據進行采樣；S106，對采樣到的數據進行CRC校驗碼的計算；S107，判斷是否已經覆蓋了要求測試的存儲器空間，如果沒有覆蓋全，則繼續進行S103、S103a、S104、S105、S106的流程，如果已經全面覆蓋則進入S108 ；S108，判斷當前進行的是寫入過程還是讀取過程，寫入過程則進入步驟sl09，讀取過程則進入sllO;S109，將CRC校驗碼存入寫入數據CRC校驗碼寄存器；SI 10，將CRC校驗碼存入讀取數據CRC校驗碼寄存器；SI 11，判斷是否要求對寫入數據CRC校驗碼和讀取數據CRC校驗碼進行比較，如果不需要比較則進入S112，如果需要比較則進入S113;SI 12，等待測試設備讀取CRC校驗碼；S113，比較寫入數據CRC校驗碼和讀取數據CRC校驗碼是否一致，如果一致，則進入SI 14，如果不一致則進入SI 15 ；SI 14，存儲器測試通過；SI 15，存儲器測試不通過。其中，步驟S102中，測試指令可以包含各種測試命令字，如寫入數據計算命令字，讀取數據計算命令字，覆蓋地址范圍命令字，是否需要自動比較命令字，地址產生方式命令字等；當接收到非寫入數據計算命令字或讀取數據計算命令字時，只做相關的配置工作，然后繼續等待開始測試命令字，包括寫入數據計算命令字，讀取數據計算命令字。步驟S104中，地址自動產生時候，可以按照命令字的要求產生地址，如可以隔行，連續等等，該模塊主要是在對存儲器內部數據讀取并計算CRC校驗碼時工作。步驟SI 13中，對寫入數據CRC校驗碼和讀取數據CRC校驗碼需要進行比較，如果兩個數據一致，則說明寫入數據和讀取數據一致，存儲器測試通過；如果兩個數據不一致，則說明寫入數據和讀取數據不一致，存儲器測試不通過。上述實施例僅為充分公開而非限制本技術，凡是依據本技術創新主旨且未經創造性勞動即可獲得的等效技術特征替換及增減，均應屬于本技術涵蓋范圍。【主權項】1.一種存儲器件的快速測試電路，其特征在于，包括: CRC校驗碼生成模塊，對數據總線控制模塊送入的數據進行CRC校驗碼的計算；CRC校驗碼生成模塊內設置有寫入數據CRC校驗碼寄存器和讀取數據CRC校驗碼寄存器； 總線接口模塊，當對存儲器做讀操作時，該模塊負責將總線上的數據采樣下來，送入CRC校驗碼生成模塊；當外部測試設備需要讀取CRC校驗碼生成模塊內部存儲的CRC校驗數據時，將CRC校驗碼送到總線，供外部測試設備讀取； 控制模塊，負責接受測試設備的指令，開始對存儲器內容進行檢查，同時包括對總線接口模塊及CRC校驗生成模塊進行控制。【專利摘要】本技術公開一種存儲器件的快速測試電路，包括：CRC校驗碼生成模塊，對數據總線控制模塊送入的數據進行CRC校驗碼的計算；CRC校驗碼生成模塊內設置有寫入數據CRC校驗碼寄存器和讀取數據CRC校驗碼寄存器；總線接口模塊，當對存儲器做讀操作時，該模塊負責將總線上的數據采樣下來，送入CRC校驗碼生成模塊；當外部測試設備需要讀取CRC校驗碼生成模塊內部存儲的CRC校驗數據時，將CRC校驗碼送到總線，供外部測試設備讀取；控制模塊，負責接受測試設備的指令，開始對存儲器內容進行檢查，同時包括對總線接口模塊及CRC校驗生成模塊進行控制。本技術夠在較短時間內對存儲器存儲數據的正確性做出判斷，同時提高了測試效率。【IPC分類】G11C29/56【公開號】CN204904844【申請號】CN201520625351【專利技術人】常子奇, 許登科 【申請人】珠海市一微半導體有限公司【公開日】2015年12月23日【申請日】2015年8月18日本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種存儲器件的快速測試電路，其特征在于，包括：CRC校驗碼生成模塊，對數據總線控制模塊送入的數據進行CRC校驗碼的計算；CRC校驗碼生成模塊內設置有寫入數據CRC校驗碼寄存器和讀取數據CRC校驗碼寄存器；總線接口模塊，當對存儲器做讀操作時，該模塊負責將總線上的數據采樣下來，送入CRC校驗碼生成模塊；當外部測試設備需要讀取CRC校驗碼生成模塊內部存儲的CRC校驗數據時，將CRC校驗碼送到總線，供外部測試設備讀取；控制模塊，負責接受測試設備的指令，開始對存儲器內容進行檢查，同時包括對總線接口模塊及CRC校驗生成模塊進行控制。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：常子奇，許登科，
申請(專利權)人：珠海市一微半導體有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東;44