本實用新型專利技術公開了一種OBU的微波性能測試裝置，屬于OBU生產測試設備領域。該裝置包括信號源(1)、第一頻譜儀(2)、以及分別與信號源(1)和第一頻譜儀(2)連接的信號控制單元(3)，信號控制單元(3)上設有與待測試OBU連接的端口，還包括功分器(4)和第一合路器(5)，功分器(4)的輸入端與信號源(1)的信號輸出端連接，第一合路器(5)的輸出端與第一頻譜儀(2)的信號輸入端連接，功分器(4)的輸出端和第一合路器(5)的輸入端分別與第一輻射天線(6)相連接,第一輻射天線(6)與待測試OBU通過微波輻射連接。采用該裝置，能夠大大提升OBU的微波性能的測試效率，降低測試成本。
【技術實現步驟摘要】
本技術屬于OBU生產測試設備領域，具體涉及一種OBU的微波性能測試裝置。
技術介紹
OBU即電子收費系統ETC的車載單元，OBU產品在出廠時都要進行硬件和微波性能的測試，硬件測試比較的簡單，主要是測試各功能模塊的功能及電流消耗，需要一臺PC+電流表(支持通訊功能)即可。而微波性能測試主要測試以下測試項:1、發射頻率；2、發射功率；3、調制系數；4 ;喚醒靈敏度；5、接收靈敏度等，測試需要PC+信號源+頻譜儀才能完成測試，而信號源、頻譜儀設備又都是高價值設備，為滿足一定的生產能力，往往需要購買數臺該高價值的設備。目前生產測試都是一臺PC+信號源+頻譜儀對應測試一臺0BU，以上測試項基本采用順序測試，一臺設備測試完畢后更換設備進行測試，這樣一臺設備測試微波性能，測試需要約18秒(發射頻率3S+發射功率3S+調制系數3S+喚醒6S+接收3S)的時間，這樣一套設備一小時測試200臺0BU，如果日產能要達到8K-10K，那么就需要5_7套測試設備，在設備達不到要求數量時，只能通過人員加班來完成任務。
技術實現思路
針對現有技術中存在的缺陷，本技術的目的在于提供一種OBU的微波性能測試裝置，通過該裝置能夠大大提升OBU微波性能的測試效率，降低生產成本。為實現上述目的，本技術采用的技術方案如下:—種OBU的微波性能測試裝置，包括信號源、第一頻譜儀、以及分別與信號源和第一頻譜儀連接的信號控制單元，信號控制單元上設有與待測試OBU連接的端口，還包括功分器和第一合路器，功分器的輸入端與信號源的信號輸出端連接，第一合路器的輸出端與第一頻譜儀的信號輸入端連接，功分器的輸出端和第一合路器的輸入端分別與第一福射天線相連接，第一輻射天線與待測試OBU通過微波輻射連接。進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，所述第一合路器的個數為η個，與一個第一合路器連接的第一輻射天線與兩個待測試OBU連接；其中，n ^ 10進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，所述信號控制單元上的與待測試OBU連接的端口為串口。進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，所述信號控制單元包括信號控制器和用于顯示測試結果的顯示器。進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，還包括用于對功分器和第一合路器進行插損校準的插損校準設備。進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，該測試裝置還包括第二頻譜儀，第二頻譜儀與待測試OBU連接，信號控制單元與第二頻譜儀連接。進一步，如上所述的一種OBU的微波性能測試裝置，所述第二頻譜儀與第二輻射天線連接，第二輻射天線與待測試OBU通過微波輻射連接，或者，所述第二頻譜儀通過第二合路器與第一福射天線連接。本技術的有益效果在于:本技術所提供的OBU的微波性能測試裝置，在進行OBU的微波性能測試時，能夠對多個OBU同時進行測試，能夠大大提升OBU的微波測試效率，降低測試設備的成本。【附圖說明】圖1為本技術【具體實施方式】中提供的一種OBU的微波性能測試裝置的結構示意圖；圖2為本技術【具體實施方式】中提供了另一種OBU的微波性能測試裝置的結構示意圖；圖3為本技術【具體實施方式】中待測試OBU的發射頻率和發射功率測試的流程圖；圖4為本技術【具體實施方式】中待測試OBU的調制系數測試的流程圖；圖5為本技術【具體實施方式】中待測試OBU的喚醒靈敏度及接收靈敏度測試的流程圖。【具體實施方式】下面結合說明書附圖與【具體實施方式】對本技術做進一步的詳細說明。圖1示出了本技術【具體實施方式】中一種OBU的微波性能測試裝置的結構示意圖，有圖中可以看出，該測試裝置包括信號源1、第一頻譜儀2、以及分別與信號源I和第一頻譜儀2連接的信號控制單元3，信號控制單元3上設有與待測試0BU9連接的端口，其中，該裝置還包括了功分器4和第一合路器5，功分器4的輸入端與信號源I的信號輸出端連接，第一合路器5的輸出端與第一頻譜儀2的信號輸入端連接，功分器4的輸出端和第一合路器5的輸入端分別與第一輻射天線6連接，第一輻射天線6通過微波輻射與待測試OBU連接。采用本實施方式中所提供的上述OBU的微波性能測試裝置能夠實現對OBU的發射頻率和發射功率、調制系數、以及喚醒靈敏度和接收靈敏度等測試項的測試。在進行喚醒靈敏度和接收靈敏度的測試時，信號源I發射的微波信號(0BU喚醒信號)通過功分器4后可以同時送達多個被測試的OBU 9，因此，可以同時完成多個被測試OBU的喚醒靈敏度和接收靈敏度的測試。在進行發射功率和發射頻率的測試時，本實施方式中，根據不同測試需求，所述第一合路器5的個數可以為η個，其中，η多I。由于OBU只能發送兩個信道(頻率不同)的信號，因此與一臺第一合路器5連接的第一輻射天線只能微波輻射兩個待測試0BU，即一臺第一合路器5只能連接兩個待測試0BU，接收兩個待測試OBU發送的載波信號。在需要測試OBU的發射頻率和發射功率時，如果需要測試多臺，只需要保持同一時刻有兩個OBU處于測試模式即可。在進行調試系數測試時，由于該測試需要第一頻譜儀2在時域上進行測試，一臺頻譜儀一次只能測試一個OBU的調制系數。對于圖1中所示出的測試裝置，該裝置中示出的待測試的OBU 9為4個，為了實現對4個OBU的同時測試，該示例中包括兩個第一合路器5，一個合路器對應輻射兩個待測試0BU，在測試發射頻率和發射功率時，信號控制單元3控制同一個第一合路器5所對應的兩個待測試OBU所發射的載波信號的頻率不同。需要說明的是，圖1中所示的裝置只是本技術所提供的測試裝置的一個實施例，在實際使用中，測試裝置的測試能力取決于裝置的輸出或接收能力以及附加配件的性能指標等。本實施方式中，所述信號控制單元3包括用于對信號進行控制的信號控制器、用于顯示測試結果的顯示器、以及其它需要的外設單元(如鍵盤等)。信號控制單元3可以直接采用PC來實現，當然也可以直接采用帶有顯示屏的信號控制器來實現。信號控制單元3與待測試OBU之間可以通過串口或其他方式連接，具體的方式取決于待測試OBU的測試端口的類型。此外，為了保證被測試OBU設備測試數據的一致性及準確性，需要對功分器4和第一合路器5的每一路進行插損校準，因此，本實施方式中所提供的測試裝置還包括用于對功分器4和第一合路器5進行插損校準的插損校準設備。由于OBU的調制系數的測試需要分時進行測試，因此，在進行發射頻率和發射功率測試的同時，是不能同時進行調制系數的測試的。為了進一步提升測試效率，本實施方式中，該測試裝置還包括第二頻譜儀7，第二頻譜儀7與待測試OBU連接，信號控制單元3與第二頻譜儀7連接。第二頻譜儀7與待測試OBU連接時，可以是通過第二輻射天線8與與待測試OBU連接，即第二頻譜儀7與第二輻射天線8連接，第二輻射天線8與待測試OBU微波輻射連接(如圖2所示)，或者，所述第二頻譜儀7通過第二合路器與第一輻射天線6連接。通過增加第二頻譜儀7，可以在其它測試項進行的同時通過第二頻譜儀7進行調制系數的測試。由于調制系數是在時域進行的，第二頻譜儀7在同一時刻也只能進行一個OBU設備的調制系數的測試，因此，在實際測試OBU的調制系數中，信號控制單元3需要控制同一時刻只有一個待測試O本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種OBU的微波性能測試裝置，包括信號源(1)、第一頻譜儀(2)、以及分別與信號源(1)和第一頻譜儀(2)連接的信號控制單元(3)，信號控制單元(3)上設有與待測試OBU連接的端口，其特征在于：還包括功分器(4)和第一合路器(5)，功分器(4)的輸入端與信號源(1)的信號輸出端連接，第一合路器(5)的輸出端與第一頻譜儀(2)的信號輸入端連接，功分器(4)的輸出端和第一合路器(5)的輸入端分別與第一輻射天線(6)相連接,第一輻射天線(6)與待測試OBU通過微波輻射連接。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：李振華，
申請(專利權)人：北京握奇智能科技有限公司，
類型：新型
國別省市：北京;11
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