一種電子裝置包括印刷電路板、天線結構、射頻信號收發電路以及測試結構。天線結構設置于印刷電路板上。射頻信號收發電路設置于印刷電路板上,并通過線路連接天線結構。測試結構包括測試點以及接地結構。測試點設置于線路上,以及接地結構,設置于印刷電路板上。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術是有關于一種電子裝置,且特別是有關于一種電子裝置和包括所述電子裝置的測試系統。
技術介紹
—般而言,傳統在行動電子裝置的設置中,天線組件大多放置行動電子裝置的邊緣角落處,依其整體設計的不同,天線組件與主機板間則有不等的距離。天線與主機板的連接方式主要是由天線延伸出來的同軸電纜線終端連接器與主機板上對應的連接器基座交配,達成射頻信號的橋接。于是,行動電子裝置的生產制造商便可利用此基座連接器來檢測無線通訊設備所產生的高頻射頻信號。但隨著行動電子裝置的進步與輕薄微小化的趨勢,以及進一步的成本考慮下,行動電子裝置所搭載的天線組件逐漸改以整合至主機電路板上的方式設置,普遍使用制程簡單便宜的印刷電路版(Printed Circuit Board, PCB)制程印制天線,如此一來也省去了連接器的配置。為了測試射頻信號的發射能力,許多行動電子裝置的制造廠商會直接采集天線所輻射出去的電磁波當成量測數據。但此量測方式變異性大,穩定性也不高,對于大量生產檢測時會面臨許多良率問題。因此,為了穩定地量測行動電子裝置所產生的射頻信號,一般會在天線組件與射頻信號收發模塊之間增設一高頻切換器。此高頻切換器的外觀和使用方式與上述的連接器基座類似,當量測裝置的探針(probe)與所述高頻切換器連接時,切換器便會切斷原本連接到天線組件的路徑,使得由射頻信號收發模塊所產生的射頻信號會轉而流向新饋入的路徑,進而達到量測信號目的。然而,這樣的一個增設的高頻切換器在測試完成后,對使用者在使用行動電子裝置時并無法產生任何用處。除了額外的成本負擔外,在行動電子裝置的設計日益朝輕薄短小的趨勢邁進的考慮下,在PCB上額外設置組件亦可能造成其它組件的設置困難。因此,在行動電子裝置在大量生產驗證時,PCB板端如何能以最簡單的方式精準地檢測射頻信號,已成為生產制造商研究討論的課題。
技術實現思路
本專利技術提供一種電子裝置以及測試系統,可以在不設置高頻切換器的情況下,精準地檢測電子裝置中欲通過天線組件傳送的射頻信號。本專利技術的電子裝置包括印刷電路板、天線結構、射頻信號收發電路以及測試結構。天線結構設置于印刷電路板上。射頻信號收發電路設置于印刷電路板上,并通過線路連接天線結構。測試結構包括測試點以及接地結構。測試點設置于線路上,以及接地結構,設置于印刷電路板上。本專利技術的測試系統,包括電子裝置以及測試裝置。電子裝置,包括設置于印刷電路板上的測試結構,其中測試結構包括測試點以及接地結構,以及所述測試點設置于連接天線結構和射頻信號收發電路之間的線路上。測試裝置包括探針。其中探針連接測試點以量測射頻信號收發電路所發射的射頻信號。探針的延伸接地端電性連接接地結構。基于上述,本專利技術提供一種電子裝置及包括所述電子裝置的測試系統,通過電子裝置上所設置的測試結構,簡單地連接測試結構中的測試點取得欲量測的射頻信號,并同時通過接地結構與測試裝置的連接,使得天線結構的共振能力被破壞,進而提高從測試點所進行量測的準確率。為讓本專利技術的上述特征和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,并配合所附圖式作詳細說明如下。【附圖說明】圖1為根據本專利技術一實施例所繪示電子裝置的示意圖;圖2A為根據本專利技術一實施例所繪示電子裝置的設置示意圖;圖2B則為本專利技術一實施例所繪示測試裝置的設置示意圖;圖3為根據本專利技術一實施例所繪示測試系統中電子裝置與測試裝置連接時的示意圖。符號說明10:電子裝置110:天線結構120:射頻信號收發電路130:測試結構131:測試點132:接地結構20:測試裝置210:探針211:信號接收端212:接地端213:延伸接地端220:測試裝置本體GND:接地墊ML:線路MPl?MP3:金屬接點RC:尚頻切換器SB:印刷電路板【具體實施方式】圖1為根據本專利技術一實施例所繪示電子裝置的示意圖。請參照圖1,電子裝置10包括天線結構110、射頻信號收發電路120以及測試結構130。其中,天線結構110以及射頻信號收發電路120皆設置于印刷電路板上,并且射頻信號收發電路120通過線路ML連接天線結構110。測試結構130包括測試點131以及接地結構132。測試點131設置于線路ML上,以及接地結構132設置于印刷電路板上。測試點131為一金屬接點,可用以與測試裝置的探針互相連接,而其設置位置與習知技術中為了與測試裝置的探針相接而可能增設的高頻切換器相近(如圖1所示高頻切換器Re,其中在圖1高頻切換器RC以虛線繪示表示未設置)。值得注意的是,在圖1所繪示的電子裝置10僅為了表達電子裝置10中各組件的功能以及各組件之間的耦接關系,本專利技術的電子裝置的設置并不限定于圖1所示電子裝置10中各組件的相對位置。在本專利技術一實施例中,本專利技術的測試系統包括了圖1所示的電子裝置10以及測試裝置。其中,測試裝置包括探針,探針可于測試時連接測試點131以量測射頻信號收發電路120所發射的射頻信號。探針包括了信號接收端以及延伸接地端,其中的延伸接地端可電性連接接地結構,使得天線結構110的共振能力被破壞,進而提高從測試點所進行量測的準確率。以下則將根據實施例而詳細介紹接地結構,以及于測試時電子裝置中測試結構和測試裝置之間的連接關系。圖2A為根據本專利技術一實施例所繪示電子裝置的設置示意圖,而圖2B則為本專利技術一實施例所繪示測試裝置的設置示意圖。在圖2A中繪示了實際上于印刷電路板SB上各組件可能的設置關系。請參照圖2A,在本實施例中,射頻信號收發電路120可以芯片方式實現,并且被設置于印刷電路板SB上。射頻信號收發電路120可用以產生或接收射頻信號,所述射頻信號可為符合無線保真度(Wireless Fidelity, WiFi)的無線局域網絡信號,亦可為符合第三代行動通訊標準或第四代行動通訊標準中長期演進技術(Long TermEvolut1n, LTE)等無線電信網絡信號等,本專利技術并不限定于上述。天線結構110則被設置于印刷電路板SB上的一凈空區域中,例如以印刷電路板制程而被印制于印刷電路板SB上,占用印刷電路板SB的面積則可參照圖2A所示。射頻信號收發電路120通過線路ML(例如與印刷電路板SB制程印制的信號微帶線)與天線結構110連接。在本實施例中,測試點131被設置于線路ML上,其中在測試點131周圍的印刷電路板SB上亦設置了接地墊GND。另一方面,在本實施例中,測試結構130中的接地結構132包括了 3個金屬接點MPl?MP3,被設置與天線結構110電性連接。另一方面,請參照圖2B,測試裝置20包括了探針(prObe)210以及測試裝置本體220。探針210則更包括了信號接收端211接地端212以及延伸接地端213,其中接地端212可被設置為一圓形的接點,探針210的信號接收端211與接地端212的關系類同于同軸纜線的內軸和外緣。而延伸接地端213具有至少一個端點,其數量則對應于接地結構中的金屬接點的數量。例如在本實施例中,延伸接地端213具有3個端點,分別對應接地結構的3個金屬接點MPl?MP3。另外,延伸接地端213與接地端212于探針210的內部電性連接。請同時參照圖2A以及圖2B,當測試時,探針210的信號接收端211可與測試點131相接,同時探針210的接地端212亦當前第1頁1 2&nb本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種電子裝置,其特征在于,包括:一印刷電路板;一天線結構,設置于該印刷電路板上;一射頻信號收發電路,設置于該印刷電路板上,并通過一線路連接該天線結構;以及一測試結構,包括:一測試點,設置于該線路上;以及一接地結構,設置于該印刷電路板上。
【技術特征摘要】
...
【專利技術屬性】
技術研發人員:徐瑞鴻,王歷信,謝秉岳,陳義達,張竹君,林侯隆,
申請(專利權)人:仁寶電腦工業股份有限公司,
類型:發明
國別省市:中國臺灣;71
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