【技術實現步驟摘要】
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【技術保護點】
一種L波段測試設備,其特征在于,包括:對聯射頻口,用于連接L波段設備;信號處理器;收發模塊,分別與所述信號處理器以及所述對聯射頻口聯接;其中,在所述對聯射頻口聯接所述L波段設備后,控制所述信號處理器產生測試信號、本振控制、多路開關通道選擇信號并處理所述L波段設備發射的回送信號,所述收發模塊基于所述本振控制對所述測試信號上變頻后,生成的L波段射頻信號經所述收發模塊中收發處理子模塊處理后,通過多路開關選擇后將生成的L波段射頻測試信號發送至所述L波段設備,當所述收發模塊接收到所述L波段設備發射回送信號時,通過所述多路開關相應通道接收處理后,基于所述本振控制,對所述回送信號進行下變頻后生成基帶信號,所述信號處理器通過處理解算所述基帶信號,獲得所述L波段設備的測試參數。
【技術特征摘要】
1.一種L波段測試設備,其特征在于,包括:
對聯射頻口,用于連接L波段設備;
信號處理器;
收發模塊,分別與所述信號處理器以及所述對聯射頻口聯接;
其中,在所述對聯射頻口聯接所述L波段設備后,控制所述信號處理器產
生測試信號、本振控制、多路開關通道選擇信號并處理所述L波段設備發射的
回送信號,所述收發模塊基于所述本振控制對所述測試信號上變頻后,生成的
L波段射頻信號經所述收發模塊中收發處理子模塊處理后,通過多路開關選擇
后將生成的L波段射頻測試信號發送至所述L波段設備,當所述收發模塊接收
到所述L波段設備發射回送信號時,通過所述多路開關相應通道接收處理后,
基于所述本振控制,對所述回送信號進行下變頻后生成基帶信號,所述信號處
理器通過處理解算所述基帶信號,獲得所述L波段設備的測試參數。
2.如權利要求1所述的L波段測試設備,其特征在于,所述信號處理器
具體包括:
DSP模塊,用于接收模擬控制設備發送的控制指令集,將所述控制指令集
進行協議格式轉換后存儲在多片存儲器相應地址中,并將轉換后的數據發送至
與所述DSP模塊連接的FPGA模塊;其中,所述控制指令集包括用于產生預
設波形的測試信號波形控制指令、用于控制所述工作狀態控制指令、用于控制
所述收發模塊對所述測試信號進行上變頻處理的上變頻本振控制指令、控制所
述收發模塊對所述回送信號進行下變頻處理的下變頻本振控制指令、用于選擇
發射通道與接收通道的通道選擇控制指令;
所述FPGA模塊,用于在接收到所述控制指令集后,基于所述測試信號波
形控制指令,控制編碼單元產生所述測試信號;將所述測試信號、所述上變頻
本振控制指令、所述下變頻本振控制指令送至所述收發模塊,并將所述通道選
擇控制指令與所述工作狀態控制指令發送至所述多路開關,以控制確定所述發
\t射通道與接收通道以及工作狀態;并在接收到所述回送信號進行處理得到基帶
信號后,對所述基帶信號進行處理解算,獲得所述L波段設備的測試參數。
3.如權利要求2所述的L波段測試設備,其特征在于,所述收發模塊具
體包括:
本振頻率產生單元,基于所述FPGA模塊產生的通道選擇、狀態控制信號
控制產生上變頻、下變頻需要的本振;基于所述上變頻本振控制指令產生上變
頻需要的上變頻本振頻率,以及基于所述下變頻本振控制指令產生下變頻需要
的下變頻本振頻率;
變頻器,在發射所述L波段射頻信號,基于所述上變頻本振頻率對所述測
試信號進行上變頻處理,將上變頻處理后的L波段射頻信號送收發處理子模塊
進行收發處理;以及在接收到所述回送信號時,基于所述下變頻本振頻率對所
述回送信號進行下變頻處理,生成所述基帶信號;
所述多路開關,分別與所述收發處理子模塊和所述對聯射頻口連接,用于
在接收到所述工作狀態控制指令與所述通道選擇控制指令后,確定發射通道與
接收通道以及所述發射通道與所述接收通道的工作狀態。...
【專利技術屬性】
技術研發人員:史朝暉,
申請(專利權)人:四川九洲電器集團有限責任公司,
類型:發明
國別省市:四川;51
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