一種圖像傳感器的壞點處理方法及系統技術方案

本發明專利技術實施例公開了一種圖像傳感器的壞點處理方法及系統，所述方法包括：預設壞簇類型與插值算法的映射表；檢測壞點的位置信息以及壞點所對應的壞簇類型信息，并存儲；根據壞點的位置信息在采集的圖像中查找壞點，根據壞點所對應的壞簇類型信息在映射表中選擇相匹配的插值算法，利用該插值算法對所述壞點進行插值處理。本發明專利技術實施例提供的一種圖像傳感器的壞點處理方法及系統根據外圍壞點的分布類型對壞簇進行分類，針對壞點所對應的不同壞簇類型采用不同的插值算法，使得每個壞點都能得到最優的插值結果，進而提高圖像傳感器的壞點處理效果。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及圖像傳感器
，特別是涉及一種圖像傳感器的壞點處理方法及 系統。
技術介紹
圖像傳感器是一種將光學圖像轉換成電子信號的器件，被廣泛應用于攝像、圖像 采集以及工業測量等領域。通常，一個圖像傳感器包含大量的感光單元，每個感光單元對應 于圖像傳感器所輸出圖像中的一個像素點。 由于制造工藝、運輸或儲存方式等方面的原因，使得圖像傳感器的某些感光單元 損壞而不能正常感光，這些不能正常感光的感光單元在圖像中所對應的像素點被稱為壞 點。其中，壞點主要包括以下三種類型：一、暗點壞點，該類壞點主要由于感光單元被徹底損 壞而形成，表現在圖像中是一個暗點；二、亮點壞點，該類壞點主要由于感光單元中的感光 二級管和電源直接短接而形成，使得感光單元的電壓一直處于高電平，表現在圖像中是一 個亮點；三、不穩定壞點，該類壞點主要由于制造方面的偏差，使得感光單元對光強的響應 異于其周圍感光單元的正常響應，表現在圖像中其像素值比周圍像素點的像素值偏高或偏 低，且此類壞點對圖像的影響會隨外界環境的變化而變化。據此可知，壞點對圖像的成像質 量具有一定的影響，因此，必須對壞點進行處理。 現有技術中，壞點的處理方式主要包括以下步驟： 1)壞點檢測：預先檢測壞點的位置信息并保存； 2)壞點校正：根據壞點的位置信息在采集的圖像中查找壞點，利用預設的插值算 法對壞點進行插值處理。 其中，對壞點進行插值處理，具體為：利用插值算法對壞點周圍像素點的像素值進 行運算，將運算結果作為壞點的像素值對其初始像素值進行替換?，F有技術中常用的插值 算法主要有兩種：一種是對壞點周圍像素點的像素值進行加權平均，以加權平均值作為壞 點的像素值；另一種是考慮圖像信息的變化趨勢，采用梯度算法對壞點周圍像素點的像素 值進行運算。但是，由于圖像傳感器所采集的圖像中壞點的數量以及壞點出現的位置具有 隨機性，導致壞點的分布類型多種多樣，采用現有的插值算法并非對所有的壞點都有較好 的處理效果，尤其是當壞點分布較集中時，進行插值的壞點有可能會相互影響，進而影響圖 像傳感器的成像效果。
技術實現思路
本專利技術實施例中提供了一種圖像傳感器的壞點處理方法及系統，以解決現有技術 中壞點的處理效果較差，進而導致圖像傳感器的成像效果較差的技術問題。 為了解決上述技術問題，本專利技術實施例公開了如下技術方案： 一種圖像傳感器的壞點處理方法，所述方法包括： 預設壞簇類型與插值算法的映射表；檢測壞點的位置信息以及壞點所對應的壞簇 類型信息，并存儲；根據壞點的位置信息在采集的圖像中查找壞點，根據壞點所對應的壞簇 類型信息在映射表中選擇相匹配的插值算法，利用該插值算法對所述壞點進行插值處理； 其中，所述壞簇類型具體為：圖像中以壞點為中心的模塊內外圍像素點中外圍壞點的分布 類型。 優選地，所述以壞點為中心的模塊為3X3模塊，定義壞點的左右、左下右上、上下 和左上右下方向為3X3模塊中外圍像素點的四個分布方向，根據外圍壞點所占據分布方 向的數量和/或外圍壞點的數量歸納外圍壞點的分布類型。 優選地，所述歸納外圍壞點的分布類型，包括：若不存在外圍壞點或僅存在一個外 圍壞點，則歸納為第一分布類型；若外圍壞點僅占據一個分布方向，且該分布方向上具有兩 個外圍壞點，則歸納為第二分布類型；若外圍壞點占據兩個分布方向，則歸納為第三分布類 型；若外圍壞點占據三個分布方向，則歸納為第四分布類型。 優選地，所述外圍壞點的第一分布類型、第二分布類型、第三分布類型、第四分布 類型分別對應壞簇類型中的第一類壞簇、第二類壞簇、第三類壞簇、第四類壞簇，所述壞簇 類型與所述插值算法的映射表，具體為： 若所述壞簇為第一類壞簇，所述插值算法對應為：在四個分布方向上采用梯度算 法；若所述壞簇為第二類壞簇，所述插值算法對應為：在除了外圍壞點所占據分布方向以 外的其它三個分布方向上采用梯度算法；若所述壞簇為第三類壞簇，所述插值算法對應為： 在除了外圍壞點所占據分布方向以外的其它兩個分布方向上采用雙線性插值；若所述壞簇 為第四類壞簇，所述插值算法對應為：在不存在外圍壞點的分布方向上采用二值平均法。 優選地，在所述根據壞點所對應的壞簇類型信息在映射表中選擇相匹配的插值算 法之前，還包括：判斷壞點是否為邊緣點，若是，則采用直接賦值法對所述邊緣點進行插值 處理；其中，所述直接賦值法具體為：若所述邊緣點為拐角點，則采用所述邊緣點的水平相 鄰像素點的像素值替代所述邊緣點的像素值；否則，采用所述邊緣點的兩個水平相鄰或兩 個豎直相鄰像素點的平均像素值替代所述邊緣點的像素值。 -種圖像傳感器的壞點處理方法，用于彩色圖像傳感器，所述方法包括：預設壞簇 類型與插值算法的映射表；根據采集的彩色圖像中像素點的顏色，將彩色圖像分解成不同 顏色的子模塊；依次檢測每個子模塊中壞點的位置信息以及壞點所對應的壞簇類型信息， 并存儲；對彩色圖像中不同顏色的像素值進行歸一化處理，根據壞點的位置信息查找壞點 所對應的像素點，根據壞點所對應的壞簇類型信息在映射表中選擇相匹配的插值算法，利 用該插值算法對所述壞點所對應的像素點進行插值處理；其中，所述壞簇類型具體為：彩 色圖像中以壞點為中心的模塊內外圍像素點中外圍壞點的分布類型。 -種圖像傳感器的壞點處理系統，所述系統包括： 圖像傳感器，用于采集圖像；檢測模塊，用于檢測壞點的位置信息以及壞點所對應 的壞簇類型信息；存儲模塊，用于接收并存儲檢測模塊所檢測的壞點的位置信息以及壞點 所對應的壞簇類型信息，且預存壞簇類型與插值算法的映射表；圖像處理模塊，用于接收采 集的圖像，并對采集的圖像進行圖像處理，具體為：在存儲模塊中提取壞點的位置信息以及 壞點所對應的壞簇類型信息，根據壞點的位置信息在采集的圖像中查找壞點，根據壞點所 對應的壞簇類型信息在存儲模塊的映射表中選擇相匹配的插值算法，利用該插值算法對所 述壞點進行插值處理；其中，所述壞簇類型具體為：圖像中以壞點為中心的模塊內外圍像 素點中外圍壞點的分布類型。 優選地，所述以壞點為中心的模塊為3X3模塊，定義壞點的左右、左下右上、上下 和左上右下方向為3X3模塊中外圍像元的四個分布方向，根據外圍壞點所占據分布方向 的數量和/或外圍壞點的數量歸納外圍壞點的分布類型。 優選地，所述歸納外圍壞點的分布類型，包括：若不存在外圍壞點或僅存在一個外 圍壞點，則歸納為第一分布類型；若外圍壞點僅占據一個分布方向，且該分布方向上具有兩 個外圍壞點，則歸納為第二分布類型；若外圍壞點占據兩個分布方向，則歸納為第三分布類 型；若外圍壞點占據三個分布方向，則歸納為第四分布類型。 優選地，所述外圍壞點的第一分布類型、第二分布類型、第三分布類型、第四分布 類型分別對應壞簇類型中的第一類壞簇、第二類壞簇、第三類壞簇、第四類壞簇，所述壞簇 類型與所述插值算法的映射表，具體為：若所述壞簇為第一類壞簇，所述插值算法對應為： 在四個分布方向上采用梯度算法；若所述壞簇為第二類壞簇，所述插值算法對應為：在除 了外圍壞點所占據分布方向以外的其它三個分布方向上采用梯度算法；若所述壞簇為第三 類壞簇，所述插值算法對應為：在除了外圍壞點所占據分布方向以外的其它兩個分布方向 上采用雙線性插值；若所述壞簇為第四類壞簇，所述插值算法對應本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種圖像傳感器的壞點處理方法，其特征在于，所述方法包括：預設壞簇類型與插值算法的映射表；檢測壞點的位置信息以及壞點所對應的壞簇類型信息，并存儲；根據壞點的位置信息在采集的圖像中查找壞點，根據壞點所對應的壞簇類型信息在映射表中選擇相匹配的插值算法，利用該插值算法對所述壞點進行插值處理；其中，所述壞簇類型具體為：圖像中以壞點為中心的模塊內外圍像素點中外圍壞點的分布類型。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：郭慧，楊藝，謝森，
申請(專利權)人：凌云光技術集團有限責任公司，
類型：發明
國別省市：北京;11