鋼琴鍵子觸感測量塊和鋼琴鍵子觸感測量方法技術

本發明專利技術涉及鋼琴鍵子觸感測量塊，包括主體和與主體固定的配重；主體的下端包括左平面、中間凸塊、右平面，其中左平面和右平面位于同一水平面上，向下凸出的中間凸塊位于左平面和右平面之間；中間凸塊的下端面為從前下方往后上方傾斜的斜面；當中間凸塊的斜面壓下一個鍵子的前端并與該鍵子貼合時，左平面位于下壓鍵子左側鍵子的正上方，右平面位于下壓鍵子右側鍵子的正上方。本發明專利技術還涉及鋼琴鍵子觸感測量方法。本發明專利技術具有結構簡單、操作方便的優點，屬于鋼琴生產測量技術領域。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及鋼琴生產測量技術，具體的說，涉及鋼琴鍵子觸感測量塊和鋼琴鍵子 觸感測量方法。
技術介紹
鋼琴鍵子包括黑鍵和白鍵，本申請中的鍵子觸感測量指的是白鍵。 鋼琴鍵子的安裝是鋼琴生產中的一個重要環節，安裝要求是：各鍵子的深度均要 一致。 為了使所有鍵子深度一致，現有技術是：通過熟練的調琴師人手逐個按壓調試。 然而現有技術存在如下缺點：1.需要專業人員，調試難度大，一般人難以勝任。 2.主觀性強。3.人手下壓鍵子，每次下壓力度不同，造成誤差。4.對每個鍵子可能需要彈 奏多次感知，才能進行比較，效率低。
技術實現思路
針對現有技術中存在的技術問題，本專利技術的目的是：提供一種鋼琴鍵子觸感測量 塊和鋼琴鍵子觸感測量方法，只需對操作人員略加培訓，操作人員即可簡單快速的判斷一 套鋼琴鍵子是否深淺一致，快速找出不合要求的鍵子。 為了達到上述目的，本專利技術采用如下技術方案： 鋼琴鍵子觸感測量塊，包括主體和與主體固定的配重；主體的下端包括左平面、中 間凸塊、右平面，其中左平面和右平面位于同一水平面上，向下凸出的中間凸塊位于左平面 和右平面之間；中間凸塊的下端面為從前下方往后上方傾斜的斜面；當中間凸塊的斜面壓 下一個鍵子的前端并與該鍵子貼合時，左平面位于下壓鍵子左側鍵子的正上方，右平面位 于下壓鍵子右側鍵子的正上方。 作為一種優選，主體內設有安裝腔，配重位于安裝腔內。 作為一種優選，主體包括凸形塊、膠墊、膠片；凸形塊的縱向截面為倒置的"凸"字 形，安裝腔開設在凸形塊的前端，與凸形塊的前端大小相同的膠片固定在凸形塊的前端；三 塊膠墊固定在凸形塊的表面，三塊膠墊分別構成左平面、右平面、中間凸塊的斜面。 作為一種優選，凸形塊的材料為塑料；膠墊的材料為磁膠；膠片的材料為塑料。 作為一種優選，安裝腔為軸向方向沿著前后方向延伸的圓柱形；配重為圓柱形的 鉛粒；安裝腔的數量為多個，配重的數量為多個，一個安裝腔內放置多個鉛粒。 作為一種優選，膠墊和膠片均與凸形塊粘合。 作為一種優選，中間凸塊的左右居中位置為中心對稱面，配重以中心對稱面為中 心左右對稱布置。 作為一種優選，配重的總重量大于等于220克。 鋼琴鍵子觸感測量方法，采用鋼琴鍵子觸感測量塊，將鋼琴鍵子觸感測量塊擺放 在鍵子的前端上，利用鋼琴鍵子觸感測量塊的重力將鍵子壓到最低位置；從左往右或從右 往左依次測量每個鍵子；當從左往右測量時，以左平面為基準，比較左平面與各個下壓鍵子 左側鍵子的上端的間隙；當從右往左測量時，以右平面為基準，比較右平面與各個下壓鍵子 右側鍵子的上端的間隙；依據間隙判斷鍵子是過深、適中還是過淺。 作為一種優選，當中間凸塊的斜面與鍵子貼合使得鍵子下沉至最低位置時，左平 面或右平面與對應鍵子貼合則為下沉鍵子深度適中，左平面或右平面的前端與對應鍵子留 有空隙則為下沉鍵子深度過淺，左平面或右平面的前端與對應鍵子接觸而后端留有空隙則 為下沉鍵子深度過深；記錄過深和過淺的鍵子位置為鍵子深度調整做準備。 本專利技術的原理是： 在鋼琴設計完成時，未下沉鍵子的平面高度、鍵子的下沉深度、下沉鍵子的上表面 斜度、鍵子的尺寸都已經固定，根據這些值，即可制作出對應特定鋼琴型號的鋼琴鍵子深度 測量塊。 由于鋼琴在制作過程中，零部件的制作安裝都會有誤差，最終鍵子裝配完成后，下 沉深度可能不統一，有的過深，有的過淺。因此需要找出過深和過淺的鍵子，對過深的鍵子 可增加底部墊著的紙圈，對過淺的鍵子可減少底部墊著的紙圈。 將測量過程借助測量工具標準化，測量每個鍵子時，將鋼琴鍵子觸感測量塊保持 在一個平面內移動，即保持鋼琴鍵子觸感測量塊的前端與鍵子的前端基本對齊。通過左平 面或右平面與對應鍵子（下沉鍵子左側或右側的鍵子）的間隙的狀態判斷下沉鍵子的深度 是合適、過深還是過淺。 總的說來，本專利技術具有如下優點： 1.采用本專利技術作為測量工具，一般操作工人經過簡單培訓即可勝任。 2.主觀性影響大大降低。 3.通過鋼琴鍵子觸感測量塊的自重下壓鍵子，每個鍵子受力均勻，保證每個鍵子 的測量結果的一致性。 4. -套鍵子從左往右或從右往左檢測一次即可，大大提高檢測效率。 5.采用膠墊，既可防滑，也可對鍵子表面進行保護，防止刮花。 6.鋼琴鍵子深度測量塊結構簡單，制作方便。 7.操作方便、快捷?！靖綀D說明】 圖1是鋼琴鍵子觸感測量塊的主視圖。 圖2是圖1的右視圖的剖視圖。 圖3是圖1的仰視圖。 圖4是將鋼琴鍵子深度測量塊放置在鍵子上的示意圖。 圖5是鍵子的主視圖。 圖6是鍵子深度合適狀態的示意圖。 圖7是鍵子深度過淺狀態的示意圖。 圖8是鍵子深度過深狀態的示意圖。 其中，1為凸形塊，2為膠墊，3為膠片，4為安裝腔，5為配重，6為左平面，7為中間 凸塊，8為右平面，9為斜面，10為鍵子，11為紙圈?！揪唧w實施方式】 下面來對本專利技術做進一步詳細的說明。 鋼琴鍵子觸感測量塊包括：主體和配重。[0當前第1頁1 2 本文檔來自技高網...

【技術保護點】
鋼琴鍵子觸感測量塊，其特征在于：包括主體和與主體固定的配重；主體的下端包括左平面、中間凸塊、右平面，其中左平面和右平面位于同一水平面上，向下凸出的中間凸塊位于左平面和右平面之間；中間凸塊的下端面為從前下方往后上方傾斜的斜面；當中間凸塊的斜面壓下一個鍵子的前端并與該鍵子貼合時，左平面位于下壓鍵子左側鍵子的正上方，右平面位于下壓鍵子右側鍵子的正上方。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：何建瑋，盧潔，何文宇，李建萍，
申請(專利權)人：廣州珠江鋼琴集團股份有限公司，
類型：發明
國別省市：廣東;44