具有自動偏斜調整的三模式探針制造技術

本發明專利技術涉及具有自動偏斜調整的三模式探針。一種探針，包括配置成接收第一輸入信號的第一輸入；配置成接收第二輸入信號的第二輸入；連接到第一輸入的第一線纜；連接到第二輸入的第二線纜；連接到第一線纜的電子可調延遲，該電子可調延遲被配置成延遲第一輸入信號以去除第一輸入信號和第二輸入信號之間的偏斜；以及配置成接收第二輸入信號和來自電子可調延遲的第一輸入信號的放大器。

【技術實現步驟摘要】
【專利說明】具有自動偏斜調整的三模式探針權益本申請要求2014年7月29日提交的申請號為62/030，476的標題為TR1-MODE PROBEWITH AUTOMATIC SKEW ADJUSTMENT的美國臨時申請的權益，其通過以其整體引用合并于本文中。
本公開涉及在至少一個探針輸入路徑中具有電子可調延遲的探針，以及用于在不同信號中自動調整電子可調延遲以最小化偏斜(skew)和模式轉換的方法。
技術介紹
差分輸入探針常用于通過使用單個測試和測量儀器通道從被測設備(DUT)獲取標稱差分信號(諸如在高速串行數據總線上)。TriMode?輸入探針具有獲取共模信號或者作為單端信號的差分對信號(differential pair signal)中的任一側的附加能力。理想的差分信號包括在兩個單獨的線上發送的兩個互補信號。在DUT中的接線的兩側到測試和測量儀器之間和/或在測試和測量儀器自身內部的任意偏斜或延遲上的差別導致差分信號的模式轉換。當差分信號的一部分表現為共模信號時模式轉換進行，或反之亦然。由于偏斜而引起模式轉換在更高的頻率下逐步地變得更差。例如，在25GHz下僅一皮秒(ps)的偏斜將導致超過15%的共模電壓表現為差分信號。用于最小化由于偏斜相關的模式轉換引起的誤差的一種方法是在一個或兩個探針輸入中提供機械可變延遲(例如拉管(trombone))，以及機械地調整機械可變延遲以在延遲中匹配。在一些情況下，在探針制造時可以做出調整以補償探針線纜中的失配。然而，這并未有助于從DUT到探針的用戶接線中的偏斜。替代地，調整可以是用戶可訪問的(user-accessible)，但仍將對于用戶進行調整而言是不方便的。拉管也增加了探針的成本以及可能導致可靠性問題。用于最小化由于偏斜相關的模式轉換引起的誤差的另一種方法是使用兩個測試和測量儀器通道來單獨地獲取差分對信號的每一側。數字信號處理被用于調整第一通道的波形的定時以匹配第二通道的波形的定時。然后，兩個波形相減以找到差分信號。這個方法提供了一種三模式功能的形式，其中根據使用的數學函數，共模或任一單端信號是可用的。然而，由于需要使用兩個通道代替一個通道，這個方法是相當昂貴的。所公開的技術的實施例解決了現有技術中的這些和其他限制。
技術實現思路
所需要的是調整探針中的延遲以去除在差分信號的兩側之間由于接線上的差別而引起的偏斜的能力，以消除或最小化差分信號中的模式轉換。所公開的技術的某些實施例包括一種探針，所述探針包括配置成接收第一輸入信號的第一輸入；配置成接收第二輸入信號的第二輸入；連接到第一輸入的第一線纜；連接到第二輸入的第二線纜；連接到第一線纜的電子可調延遲，所述電子可調延遲被配置成延遲第一輸入信號以去除第一輸入信號和第二輸入信號之間的偏斜；以及配置成接收第二輸入信號和來自電子可調延遲的第一輸入信號的放大器。所公開的技術的某些其他實施例包括一種用于校正第一輸入信號和第二輸入信號之間的偏斜的方法，該方法包括接收第一輸入信號；接收第二輸入信號；確定第一輸入信號和第二輸入信號之間的偏斜量；以及調整至少一個電子可調延遲的延遲以去除第一輸入信號和第二輸入信號之間的偏斜。【附圖說明】圖1圖示了根據本專利技術的一些實施例的具有電子可調延遲的探針。圖2圖示了根據本專利技術的一些實施例的具有電子可調延遲的另一個探針。圖3圖示了根據本專利技術的一些實施例的具有電子可調延遲的另一個探針。圖4圖示了根據本專利技術的一些實施例的具有電子可調延遲的另一個探針。圖5和圖6圖示了根據本專利技術的一些實施例的使用圖1-4的探針之一的測試和測量系統。圖7和圖8圖不了各種差分信號和共模信號。【具體實施方式】在并不一定按比例的附圖中，所公開的系統和方法的相似或對應的元素由相同的參考數字所表示。所公開的技術涉及具有電子可調延遲的探針。優選地，該探針在每個輸入路徑中都具有電子可調延遲。然而，如在以下更詳細地公開的，一些實施例包括在一個輸入路徑中的電子可調延遲而其他輸入具有固定延遲。探針可以是如圖1中所示的使用測試和測量儀器的單個通道的TriMode?探針100。在一些實施例中，TriMode?探針100包括三個輸入102、104和106。第一輸入102從被測設備接收第一信號，第二輸入104從被測設備接收第二信號，以及第三輸入106被連接到接地。TriMode?探針100還包括緩沖器108和110、線纜112和114、可調可變延遲116和118、以及三模式(tr1-mode)放大器120。可調可變延遲116和118可以與三模式放大器120分離或者在同一個集成芯片上與三模式放大器120相集成。然而，所公開的技術并不限于圖1中所示的實施例。例如，如圖2中所見的，可調可變延遲116和118可以被放置在線纜112和114之前，并且與緩沖器108和110相集成。在其他實施例中，如圖3中所見的，如果該探針被實現用于50 Ω輸入的用例，則可以消除緩沖器108和110。盡管已經關于圖1-3討論了 TriMode?探針，如在下文將要被更詳細地討論以及如圖4中所示的，差分探針也可以與所公開的技術一起使用。差分探針400包含僅兩個輸入102和104，而不是在圖1-圖3中所見的三個輸入。差分探針400還包括差分放大器402，而不是三模式放大器120。可以使用多個不同類型的寬帶直流耦合電子可調可變延遲116和118。電子可變可調延遲116和118可以基于性能要求和成本因素來選擇。例如，電子可變可調延遲可以基于將該電子可變可調延遲與緩沖器108和110或者三模式放大器120/差分放大器402相集成的能力來選擇。可以被使用的電子可調可變延遲116和118的示例是變抗器調諧的集總元件延遲線、MEMS切換的延遲段、或經切換的活動延遲元件。電子可變延遲的另一示例在2015年6月 22 日提交的申請號為 14/745，711 的標題為 ELECTRONICALLY VARIABLE ANALOG DELAYLINE的美國申請中被描述，并且通過以其整體引用合并于本文中。然而，電子可變可調延遲116和118并不限于這些類型的延遲。可以使用任意寬帶直流耦合的電子可調可變延遲。如在下文中更詳細描述的，第一輸入信號和第二輸入信號之間的偏斜可以被確定以及然后通過使用電子可變可調延遲116和118來校正。然而，一個輸入路徑可以具有電子可變可調延遲，而另一個輸入路徑具有固定的延遲，而不是如在圖1-4中所示的使用兩個可變可調延遲116和118。在這樣的實施例中，電子可變可調延遲被調整以消除偏斜。在使用中，如圖5中所見的，探針500被附著到被測設備502。探針500可以是以上描述的探針中的任意。探針500也被連接到測試和測量儀器504。如在下文更詳細描述的，測試和測量儀器504包括處理器506和用戶接口 508。同樣如下文更詳細描述的，測試和測量儀器504也可以包括觸發器510。探針500從被測設備502接收差分信號。然后，在一些實施例中，信號被發送到測試和測量儀器504的處理器506。處理器506可以針對來自被測設備502的差分信號確定偏斜量，以及確定差分信號的兩側之間的偏斜量。一旦確定了偏斜，處理器506發送指令到電子可變可調延遲116和118以調整差分信號的每側的延本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種探針，包括：第一輸入，配置成接收第一輸入信號；第二輸入，配置成接收第二輸入信號；電子可調延遲，連接到所述第一輸入，所述電子可調延遲被配置成延遲所述第一輸入信號以去除所述第一輸入信號和所述第二輸入信號之間的偏斜；以及放大器，配置成接收所述第二輸入信號和來自所述電子可調延遲的第一輸入信號。

【技術特征摘要】
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【專利技術屬性】
技術研發人員：DG克尼林，CR穆利，M羅克威爾，IG波洛克，
申請(專利權)人：特克特朗尼克公司，
類型：發明
國別省市：美國;US