高溫測試試驗箱制造技術

本實用新型專利技術公開了一種高溫測試試驗箱，包括高溫箱體，在所述高溫箱體內設有一放置試驗品的試驗架，所述高溫箱體的上、下相對內壁開設有熱風口；所述試驗架包括架體、氣缸、導軌及滑塊；所述導軌相對設于高溫箱體左內壁和右內壁；所述架體通過滑塊與兩側的導軌滑動相接；所述氣缸設于所述架體的下方；在所述架體的上部為試驗品放置臺，所述放置臺的上表面開設有至少一個容納所述試驗品的凹槽。本實用新型專利技術的試驗架，在放置臺的上表面開設有至少一個容納所述試驗品的凹槽，即使在高速運行中試驗品依然不會發生晃動，保證其在高低溫箱體快速變換中，能夠保持原來位置，實現正常的測試。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種試驗箱，尤其涉及一種高溫測試試驗箱。
技術介紹
高低溫沖擊試驗設備是在高溫、低溫環境中快速轉換的一種試驗裝置。常規試驗沖擊溫度有_65°C—— 150°C、_55°C—— 150°C、_40°C —— 150°C等等，并規定了高溫環境轉換到低溫環境或低溫環境轉換到高溫環境的快速轉換時間要在一定時間內，其目的檢測被試驗產品的可靠性。現有的高溫試驗設備中，在溫度沖擊試驗過程中，載有試驗產品的試驗架固定于一個位置，不能實現全面的測試試驗。
技術實現思路
本技術的目的是解決現有技術中的問題，提供一種高溫測試試驗箱。本技術的技術方案是:一種高溫測試試驗箱，包括高溫箱體，在所述高溫箱體內設有一放置試驗品的試驗架，所述高溫箱體的上、下相對內壁開設有熱風口 ；所述試驗架包括架體、氣缸、導軌及滑塊；所述導軌相對設于高溫箱體左內壁和右內壁；所述架體通過滑塊與兩側的導軌滑動相接；所述氣缸設于所述架體的下方；在所述架體的上部為試驗品放置臺，所述放置臺的上表面開設有至少一個容納所述試驗品的凹槽。優選地，所述導軌為直線導軌，對稱設于所述高低溫箱體的左內壁和右內壁。優選地，所述滑塊為兩塊，對稱設于所述架體的兩端。優選地，所述凹槽位于所述放置臺的中間位置。優選地，所述凹槽的深度為試驗品高度的十分之一。優選地，所述熱風口包括出風口和進風口，所述出風口位于高溫箱體的上部內壁。本技術的試驗架，在放置臺的上表面開設有至少一個容納所述試驗品的凹槽，即使在高速運行中試驗品依然不會發生晃動，保證其在高低溫箱體快速變換中，能夠保持原來位置，實現正常的測試。另外，本技術采用氣缸驅動試驗架，能夠上下移動，保證了試驗品均勻收到溫度沖擊，并且該試驗架的體積較小，氣缸傳動效率高，提高了試驗品的測試效率。【附圖說明】圖1為本技術高溫測試試驗箱去掉側門的立體圖；圖2為本技術高溫測試試驗箱去掉側門的主視圖；圖3為圖2的A-A剖視圖。【具體實施方式】為了使本技術實現的技術手段、技術特征、技術目的與技術效果易于明白了解，下面結合具體圖示，進一步闡述本技術。如圖1至圖3所示，為本技術中的高溫測試試驗箱，包括高溫箱體1，在所述高溫箱體1內設有一放置試驗品20的試驗架2，所述高溫箱體1的上部內壁11、下部內壁12開設有出風口 111和進風口 121 ;為整個箱體提供測試熱源。本技術中的試驗架2包括架體21、氣缸22、導軌23及滑塊24 ;所述導軌23相對設于高溫箱體1的左內壁13和右內壁14上；所述架體21通過滑塊24與兩側的導軌23滑動相接；所述氣缸22設于所述架體21的下方，并通過活塞桿與其相接，推動其在上述導軌23上做上下移動。在所述架體21的上部為試驗品放置臺211，所述放置臺211的上表面開設有至少一個容納所述試驗品的凹槽212。該凹槽212位于所述放置臺211的中間位置；凹槽212的深度為試驗品20高度的十分之一，以不產生晃動為準。本技術在工作時，將試驗品20放置在凹槽212內，對高溫箱體1加熱，進行高溫試驗，當高溫試驗一段時間后，由氣缸33推動試驗架3向上或下移動，再進行高溫試驗。如需要高低溫往復進行試驗，可通過氣缸推出和拉回，帶動試驗品3在高溫箱體1和低溫箱體2內的轉換，以達到高低溫沖擊試驗的目的。本技術的試驗架，在放置臺的上表面開設有至少一個容納所述試驗品的凹槽，即使在高速運行中試驗品依然不會發生晃動，保證其在高低溫箱體快速變換中，能夠保持原來位置，實現正常的測試。另外，本技術采用氣缸驅動試驗架，能夠上下移動，保證了試驗品均勻收到溫度沖擊，并且該試驗架的體積較小，氣缸傳動效率高，提高了試驗品的測試效率。綜上所述僅為本技術較佳的實施例，并非用來限定本技術的實施范圍。即凡依本技術申請專利范圍的內容所作的等效變化及修飾，皆應屬于本技術的技術范疇。【主權項】1.高溫測試試驗箱，包括高溫箱體，在所述高溫箱體內設有一放置試驗品的試驗架，其特征在于:所述高溫箱體的上、下相對內壁開設有熱風口 ；所述試驗架包括架體、氣缸、導軌及滑塊；所述導軌相對設于高溫箱體左內壁和右內壁；所述架體通過滑塊與兩側的導軌滑動相接；所述氣缸設于所述架體的下方；在所述架體的上部為試驗品放置臺，所述放置臺的上表面開設有至少一個容納所述試驗品的凹槽。2.根據權利要求1所述的高溫測試試驗箱，其特征在于:所述導軌為直線導軌，對稱設于所述高溫箱體的左內壁和右內壁。3.根據權利要求1或2所述的高溫測試試驗箱，其特征在于:所述滑塊為兩塊，對稱設于所述架體的兩端。4.根據權利要求1所述的高溫測試試驗箱，其特征在于:所述凹槽位于所述放置臺的中間位置。5.根據權利要求4所述的高溫測試試驗箱，其特征在于:所述凹槽的深度為試驗品高度的十分之一。6.根據權利要求1所述的高溫測試試驗箱，其特征在于:所述熱風口包括出風口和進風口，所述出風口位于高溫箱體的上部內壁。【專利摘要】本技術公開了一種高溫測試試驗箱，包括高溫箱體，在所述高溫箱體內設有一放置試驗品的試驗架，所述高溫箱體的上、下相對內壁開設有熱風口；所述試驗架包括架體、氣缸、導軌及滑塊；所述導軌相對設于高溫箱體左內壁和右內壁；所述架體通過滑塊與兩側的導軌滑動相接；所述氣缸設于所述架體的下方；在所述架體的上部為試驗品放置臺，所述放置臺的上表面開設有至少一個容納所述試驗品的凹槽。本技術的試驗架，在放置臺的上表面開設有至少一個容納所述試驗品的凹槽，即使在高速運行中試驗品依然不會發生晃動，保證其在高低溫箱體快速變換中，能夠保持原來位置，實現正常的測試。【IPC分類】B01L1/00, B01L7/00【公開號】CN205020097【申請號】CN201520728952【專利技術人】袁俊 【申請人】上海漢測試驗設備有限公司【公開日】2016年2月10日【申請日】2015年9月20日本文檔來自技高網...

【技術保護點】
高溫測試試驗箱，包括高溫箱體，在所述高溫箱體內設有一放置試驗品的試驗架，其特征在于：所述高溫箱體的上、下相對內壁開設有熱風口；所述試驗架包括架體、氣缸、導軌及滑塊；所述導軌相對設于高溫箱體左內壁和右內壁；所述架體通過滑塊與兩側的導軌滑動相接；所述氣缸設于所述架體的下方；在所述架體的上部為試驗品放置臺，所述放置臺的上表面開設有至少一個容納所述試驗品的凹槽。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：袁俊，
申請(專利權)人：上海漢測試驗設備有限公司，
類型：新型
國別省市：上海;31