永磁體空間磁場強度快速檢具制造技術

本實用新型專利技術提出一種永磁體空間磁場強度快速檢具，包括基板、L形銜鐵、直條銜鐵、高斯計探頭座和磁軛；二個L形銜鐵相對設置，二根直條銜鐵的側面分別緊貼L形銜鐵長邊的端面設置，由此形成一個矩形磁路，并由L形銜鐵的短邊端面與直條銜鐵端面構成二個間隙；在其中的一個間隙中設置有高斯計探頭座，在另一個間隙中通過磁軛設置有永磁體；所述銜鐵通過支座固定在基板上；所述高斯計探頭座的中部設置有高斯計探頭插孔，其插孔的大小、形狀和深度與高斯計探頭的外形相匹配。本實用新型專利技術的有益技術效果是能夠模擬永磁體在實際使用時組成的磁路，對銜鐵間隙處產生的磁場強度進行直接檢測；并且，操作簡單，成本低廉，穩定性好。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及到金屬永磁材料磁場強度檢測技術，特別涉及到一種永磁體空間磁場強度快速檢具。
技術介紹
永磁體是儀器儀表行業中經常使用的產生永久磁場的磁性元件，主要用于產生空間永久磁場，利用電流或電荷與磁場的相互作用關系對電的一些基本特性進行檢測。顯然，永磁體所產生的磁場強度的大小、均勾性和波動性對儀器儀表檢測的精度和準確性有著直接的影響。為保證儀器儀表的檢測進度和準確性，通常需要對永磁體進行篩選，以保證永磁體所產生的磁場強度的大小，均勻性和波動性滿足設計要求。現有技術永磁體磁場強度檢測方法采用高斯計對永磁體表面磁場強度進行檢測，并以此對永磁體進行篩選。通常，永磁體在儀器儀表的實際使用中需采用銜鐵或磁軛等構成磁路，使得銜鐵間隙處產生均勻的磁場，再在磁場中設置線圈等零件，通過線圈中的電流或電荷與磁場的相互作用關系對電的一些基本特性進行檢測。由于永磁體表面磁場強度受永磁體表面形狀的影響較大，同一永磁體表面的不同位置，測試到的磁場強度不盡相同；同一永磁體表面的對稱位置或者對應位置，測試到的磁場強度也都不盡相同。并且，永磁體的表面磁場強度與銜鐵間隙處的磁場強度沒有直接的對應關系，表面磁場強度大的永磁體組成的銜鐵間隙處的磁場強度并一定大。因此，現有技術采用高斯計檢測永磁體表面磁場強度的方式存在著不能夠準確判定永磁體銜鐵間隙處磁場強度的問題。
技術實現思路
為解決現有技術采用高斯計檢測永磁體表面磁場強度的方式存在的不能夠準確判定永磁體銜鐵間隙處磁場強度的問題，本技術提出一種永磁體空間磁場強度快速檢具。本技術永磁體空間磁場強度快速檢具包括基板、L形銜鐵、直條銜鐵、高斯計探頭座和磁軛；二個L形銜鐵相對設置，二根直條銜鐵的側面分別緊貼L形銜鐵長邊的端面設置，由此形成一個矩形磁路，并由L形銜鐵的短邊端面與直條銜鐵端面構成二個間隙；在其中的一個間隙中設置有高斯計探頭座，在另一個間隙中通過磁軛設置有永磁體；所述銜鐵通過支座固定在基板上；所述高斯計探頭座的中部設置有高斯計探頭插孔，其插孔的大小、形狀和深度與高斯計探頭的外形相匹配。進一步的，所述L形銜鐵和直條銜鐵的橫截面形狀和大小相同。進一步的，所述高斯計探頭座的橫截面形狀和大小與直條銜鐵的橫截面相同。進一步的，所述磁軛為二個，分別設置在永磁體兩端，磁軛的一個端面的形狀和大小與永磁體端面相匹配，磁軛的另一個端面的形狀和大小與銜鐵的橫截面相匹配。本技術永磁體空間磁場強度快速檢具的有益技術效果是能夠模擬永磁體在實際使用時組成的磁路，對銜鐵間隙處產生的磁場強度進行直接檢測；并且，操作簡單，成本低廉，穩定性好。【附圖說明】附圖1為本技術永磁體空間磁場強度快速檢具的結構示意圖；附圖2為本技術永磁體空間磁場強度快速檢具磁軛的結構示意圖；附圖3為本技術永磁體空間磁場強度快速檢具高斯計探頭座的結構示意圖。下面結合附圖和具體實施例對本技術永磁體空間磁場強度快速檢具作進一步的說明。【具體實施方式】附圖1為本技術永磁體空間磁場強度快速檢具的結構示意圖，附圖2為本技術永磁體空間磁場強度快速檢具磁軛的結構示意圖，附圖3為本技術永磁體空間磁場強度快速檢具高斯計探頭座的結構示意圖，圖中，1為基板，2為L形銜鐵，3為直條銜鐵，4為支座，5為磁軛，6高斯計探頭座，A為永磁體。由圖可知，本技術永磁體空間磁場強度快速檢具包括基板1、L形銜鐵2、直條銜鐵3、高斯計探頭座6和磁軛5 ;二個L形銜鐵2相對設置，二根直條銜鐵3的側面分別緊貼L形銜鐵2長邊的端頭設置，由此形成一個矩形磁路，并由L形銜鐵2的短邊端面與直條銜鐵3端面構成二個間隙；在其中的一個間隙中設置有高斯計探頭座6，在另一個間隙中通過磁軛5設置有永磁體A ;所述銜鐵(2，3)通過支座4固定在基板1上；所述高斯計探頭座6的中部設置有高斯計探頭插孔，其插孔的大小、形狀和深度與高斯計探頭的外形相匹配。為保證磁路的一致性，所述L形銜鐵和直條銜鐵的橫截面形狀和大小相同，在本實施例中均為正方形；所述高斯計探頭座的橫截面形狀和大小與直條銜鐵的橫截面相同。為保證永磁體閉合在磁路中且不產生漏磁，所述磁軛為二個，分別設置在永磁體兩端，磁軛的一個端面的形狀和大小與永磁體端面相匹配(在本實施例中，永磁體為圓柱形，其端面為圓形)，磁軛的另一個端面的形狀和大小與銜鐵的橫截面相匹配(在本實施例中，銜鐵的橫截面形狀為正方形)。這樣可以通過更換磁軛，對不同端面形狀和大小的永磁體進行檢測。需要特別說明的是，直條銜鐵是其側面緊貼L形銜鐵長邊的端面設置的，因此，直條銜鐵可以沿L形銜鐵長邊的端面滑動，以此調節間隙的距離，以配備不同厚度的永磁體或高斯計探頭座，以適應不同厚度永磁體的檢測，或者，模擬不同間距的銜鐵間隙。顯然，本技術永磁體空間磁場強度快速檢具的有益技術效果是能夠模擬永磁體在實際使用時組成的磁路，對銜鐵間隙處產生的磁場強度進行直接檢測；并且，操作簡單，成本低廉，穩定性好。【主權項】1.一種永磁體空間磁場強度快速檢具，其特征在于，該檢具包括基板、L形銜鐵、直條銜鐵、高斯計探頭座和磁軛；二個L形銜鐵相對設置，二根直條銜鐵的側面分別緊貼L形銜鐵長邊的端面設置，由此形成一個矩形磁路，并由L形銜鐵的短邊端面與直條銜鐵端面構成二個間隙；在其中的一個間隙中設置有高斯計探頭座，在另一個間隙中通過磁軛設置有永磁體；所述銜鐵通過支座固定在基板上；所述高斯計探頭座的中部設置有高斯計探頭插孔，其插孔的大小、形狀和深度與高斯計探頭的外形相匹配。2.根據權利要求1所述永磁體空間磁場強度快速檢具，其特征在于，所述L形銜鐵和直條銜鐵的橫截面形狀和大小相同。3.根據權利要求1所述永磁體空間磁場強度快速檢具，其特征在于，所述高斯計探頭座的橫截面形狀和大小與直條銜鐵的橫截面相同。4.根據權利要求1所述永磁體空間磁場強度快速檢具，其特征在于，所述磁軛為二個，分別設置在永磁體兩端，磁軛的一個端面的形狀和大小與永磁體端面相匹配，磁軛的另一個端面的形狀和大小與銜鐵的橫截面相匹配。【專利摘要】本技術提出一種永磁體空間磁場強度快速檢具，包括基板、L形銜鐵、直條銜鐵、高斯計探頭座和磁軛；二個L形銜鐵相對設置，二根直條銜鐵的側面分別緊貼L形銜鐵長邊的端面設置，由此形成一個矩形磁路，并由L形銜鐵的短邊端面與直條銜鐵端面構成二個間隙；在其中的一個間隙中設置有高斯計探頭座，在另一個間隙中通過磁軛設置有永磁體；所述銜鐵通過支座固定在基板上；所述高斯計探頭座的中部設置有高斯計探頭插孔，其插孔的大小、形狀和深度與高斯計探頭的外形相匹配。本技術的有益技術效果是能夠模擬永磁體在實際使用時組成的磁路，對銜鐵間隙處產生的磁場強度進行直接檢測；并且，操作簡單，成本低廉，穩定性好。【IPC分類】G01R33/02【公開號】CN205067708【申請號】CN201520798850【專利技術人】李春紅, 陳登明, 孫建春, 馬毅龍, 周安若 【申請人】重慶科技學院【公開日】2016年3月2日【申請日】2015年10月16日本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種永磁體空間磁場強度快速檢具，其特征在于，該檢具包括基板、L形銜鐵、直條銜鐵、高斯計探頭座和磁軛；二個L形銜鐵相對設置，二根直條銜鐵的側面分別緊貼L形銜鐵長邊的端面設置，由此形成一個矩形磁路，并由L形銜鐵的短邊端面與直條銜鐵端面構成二個間隙；在其中的一個間隙中設置有高斯計探頭座，在另一個間隙中通過磁軛設置有永磁體；所述銜鐵通過支座固定在基板上；所述高斯計探頭座的中部設置有高斯計探頭插孔，其插孔的大小、形狀和深度與高斯計探頭的外形相匹配。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：李春紅，陳登明，孫建春，馬毅龍，周安若，
申請(專利權)人：重慶科技學院，
類型：新型
國別省市：重慶;85